【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及分选机的
，具体为一种to220分选机的轨道结构。(二)
技术介绍
现有的to220封装器件的分选机，其测试区轨道承载to220器件的测试任务，测试区是指承载to220封装的器件，用来测试使用的一段轨道，测试主机通过测试爪在测试区抓住器件，将电流/电压/其他信号加到to220料品的引脚上，来测试220器件本身的电参数性能，由于此处经常处于电流电压冲击，该处温度为高温，且由于检测的220器件或测试设备的原因，易造成爆炸冲击轨道，进而测试区轨道需格外的保护；而现有的测试区轨道和整个轨道为同一材质电木或钢表面镀上绝缘层，此种同一材质的轨道结构在测试区轨道没有起到加强保护，故在测试区轨道处易损坏，其轨道利用率低，效率低下，维修时需更换整个轨道，其维修时间长，成本高。(三)
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提供了一种改进型to220封装器件分选机的轨道结构，其测试区轨道稳定性好，整个轨道利用高，效率高，维修时间短，成本低。其技术方案是这样的其包括轨道，其特征在于所述轨道位于测试区的位置开有安装槽，所述安装槽内安装有陶瓷固定块，陶瓷片覆盖陶瓷固定块...
【技术保护点】
一种改进型ｔｏ２２０封装器件分选机的轨道结构，其包括轨道，其特征在于：所述轨道位于测试区的位置开有安装槽，所述安装槽内安装有陶瓷固定块，陶瓷片覆盖陶瓷固定块后与所述导轨部分纵横向分别平齐。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：侯友良，
申请(专利权)人：无锡红光微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]
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