【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对半导体集成电路的元件进行布局的布局设计装置、布局设计方法和布局设计程序。
技术介绍
作为把半导体集成电路应用于模拟电路时的要求,能列举出减小补偿电压或增益的偏移。当把模拟电路中包含的元件布局时,通过使用布局工具对特定的元件进行对指定,抑制由这些对指定元件的特性偏移引起的电路特性不良。这里,对是指模拟电路的布局设计时,比精度成为问题的元件的对或组。例如关于电流反射镜电路或差动放大电路等中使用的双极晶体管或电阻,当有必要选择具有相似特性的元件时,进行元件的对指定。这时,要求基极-发射极之间电压VBE的比精度为数mV以下、电阻的比精度为数%以下。为了实现这些比精度,有必要进行元件的布局,使成对的元件在半导体芯片内的接近区域中向同一方向配置。通过将对指定的元件向同一方向配置在接近的区域中,能避免制造工艺的偏移引起的同一晶片内元件特性或尺寸的偏移或从周边受到的热和噪声的影响变为不均匀。在半导体集成电路中,如图19和图20所示,在半导体衬底上形成晶体管、电阻、电容等元件。各元件形成在由半导体衬底10表面的分离层12分离的外延层即称作岛14的区域内。分离层1 ...
【技术保护点】
一种布局设计装置,通过配置多个元件进行半导体集成电路的布局,其特征在于:包括:取得布局对象中包含的多个元件的元件类型和元件具有的电极间连接关系的电路信息取得部件;对指定部件,把布局对象中包含的元件作为关注元件依次选择,根据所述元件类型和所述连接关系求出应该与该关注元件接近配置的元件,把该关注元件和应该接近配置的元件指定为对组;把指定为所述对组的元件彼此接近配置以进行布局的布局部件。
【技术特征摘要】
JP 2003-3-17 071358/20031.一种布局设计装置,通过配置多个元件进行半导体集成电路的布局,其特征在于包括取得布局对象中包含的多个元件的元件类型和元件具有的电极间连接关系的电路信息取得部件;对指定部件,把布局对象中包含的元件作为关注元件依次选择,根据所述元件类型和所述连接关系求出应该与该关注元件接近配置的元件,把该关注元件和应该接近配置的元件指定为对组;把指定为所述对组的元件彼此接近配置以进行布局的布局部件。2.一种布局设计装置,通过配置多个元件进行半导体集成电路的布局,其特征在于包括取得布局对象中包含的多个元件的元件类型和元件具有的电极间连接关系的电路信息取得部件;岛化指定部件,把布局对象中包含的元件作为关注元件依次选择,根据所述元件类型和所述连接关系求出应该与该关注元件配置在同一岛内的元件,把该关注元件和应该配置在同一岛内的元件指定为岛组;把指定为所述岛组的元件彼此配置在同一岛内以进行布局的布局部件。3.根据权利要求2所述的布局设计装置,其特征在于所述电路信息取得部件是进一步取得元件吊电位的连接关系的部件;所述布局部件是当所述岛组中包含的全部元件的吊电位相等时,在配置有该岛组中包含的元件的岛中配置比该岛组中包含的元件数还少的吊电极的部件。4.一种布局设计方法,通过配置多个元件进行半导体集成电路的布局,其特征在于包括取得布局对象中包含的多个元件的元件类型和元件具有的电极间连接关系的电路信息取得步骤;对指定步骤,把布局对象中包含的元件作为关注元件依次选择,根据所述元件类型和所述连接关系求出应该与该关注元件接近配置的元件,把该关注元件和应该接近配置的元件指定为对组;把指定为所述对组的元件彼此接近配置以进行布局的布局步骤。5.一种布局设计方法,通过配置多个元件进行半导体集成电路的布局,其特征在于包括取得布局对象中包含的多个元件的元件类型和元件具...
【专利技术属性】
技术研发人员:岛村哲夫,鹿仓康弘,
申请(专利权)人:三洋电机株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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