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晶片级CSP的制造方法技术

技术编号:3203755 阅读:193 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种晶片级CSP的制造方法,为了大幅地提高整体的制造效率以便更有效地进行热应力缓和柱、绝缘层和焊料块的形成。在晶片(1)上形成由电镀形成的再布线电路(3)的同时,在该再布线电路(3)上形成由焊料等导电材料形成的热应力缓和柱(4),另外,在这些再布线电路(3)和热应力缓和柱(4)的周围,除了该热应力缓和柱(4)的上面,形成由聚酰亚胺等构成的绝缘层(6),此外,在所述热应力缓和柱(4)上形成焊料块(7),而且,通过丝网印刷来形成所述热应力缓和柱(4)、绝缘层(6)和焊料块(7)。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种晶片级CSP的制造方法
技术介绍
由于便携电话、数字摄像机、数字照相机等的高密度安装的要求,作为小型封装的CSP(Chip Size Package)快速地开始普及。这样的CSP,由于与TSOP(Thin Small Outline Package)或者QFP(Quad Flat Package)这样的已有型的引导型封装相比,减少了安装面积或者缩短了布线长度,所以,具有适用于高频率器件。另外,与将芯片直接安装到基板上的倒装晶片相比,能够扩大焊点间距,所以也具有容易向基板上安装这样的特点。换言之,如TSOP容易处理且如倒装晶片能够实现高速、高密度地封装因此成为快速开始普及的原因。而且,这样的晶片级CSP的已有的制造方法中,如图2所示那样,在晶片100上形成由绝缘材料构成需要的厚薄的热应力缓和层101,在该热应力缓和层101的土面形成焊盘102,连接该焊盘102和粘合焊点103的再布线电路104,此外在该再布线电路104上形成绝缘层105后,在焊盘102上形成焊料块106。而且,热应力缓和层101,在向印刷基板上封装晶片时,用于降低由于晶片和印刷基板的线膨胀系数差本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶片级CSP的制造方法,其在晶片上形成由电镀形成的再布线电路的同时,在该再布线电路上形成由焊料等导电材料形成的热应力缓和柱,在这些再布线电路和热应力缓和柱的周围,除了该热应力缓和柱的上面,形成由聚酰亚胺等构成的绝缘层,此外,在所述热应力缓和柱上形成焊料块,其特征在于,通过丝网印刷来进行所述热应力缓和柱、绝缘层和焊料块的形成。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:村上武彦
申请(专利权)人:南株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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