探针测试装置制造方法及图纸

技术编号:2640694 阅读:167 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种探针测试装置,其在一可供在表面放置待测电路板的测试平台接近侧端缘处分别设有成排纵向及横向探针;该等成排探针分别设有多数间隔探针,此等探针均被定位于探针座,且每一探针座固接于一共同轴,并使共同轴两端接合连动于导块,该等导块被接合于两侧预设承架的内侧导轨;依上述成排探针因而能以预设气动控制系统驱控使其先行上升以加大探针与待测电路板间的操作空间,并在探针受控偏转后下降探测。在较佳实施例中,平台底面还可设置一中间板及一底板,供在平台与中间板之间预设一倾斜高速机构,而在中间板及底板之间预设一高度调整机。(*该技术在2012年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术有关一种探针测试装置,尤指其可控制探针进行上升偏转及下降侦测,而可加大操作空间及防止探针及待测电路板受损。早期的此类探针装置均使用斜角探测,也即将待测电路板设置在一斜置平台的表面,然后驱动探针位移以进行侦测,但此种传统探针装置对于不同位置难以进行精确探测。为此,有使用可旋转的探针,使已定位的探针可垂直旋转下降以触接及探险测电路板。但其缺点则是,直接旋转的探针与待测电路板间的空间非常狭小,使待测电路板不容易放入,此为其缺点之一;再者,由于在短行程进行旋转,使探针容易因其弧度旋转动作而碰触电路板,探针及待遇测电路板因而受损的情况时常发生。在较佳实施例中,上述测试平台可进行倾斜角度及垂直高度位移的调整。本技术的新颖性及其它特点将配合以下附图及较佳实施例的详细说明而明了。图2为附图说明图1的后视立体图。图3为图1的横向成排探针的断面剖视图。图4为显示图3探针受控上升。图5为显示图4探针受控偏转。图6为显示图5探针受控下降探测。图7为图1的倾斜及高度调整机构图。图8为图1的侧视及局部剖视图。图9为图8的调整动作图。标号说明10平台20横向成排探针21探针22探针座23共同轴 24本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针测试装置,其在一可供在表面放置待测电路板的测试平台接近侧端缘处分别设有成排纵向及横向探针;该等成排探针分别设有多数间隔探针,此等探针均被定位于探针座,每一探针座被固接于一共同轴,并使共同轴两端接合连动于导块;该等导块被接合于两侧预设承架的内侧导轨;依上述成排探针因而能以预设气动控制系统驱控使其先行上升以加大探针与待测电路板间的操作空间,并在探针受控偏转后下降探测。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吕金湶
申请(专利权)人:中台探针实业有限公司
类型:实用新型
国别省市:71[中国|台湾]

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