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一种探针测试装置，其在一可供在表面放置待测电路板的测试平台接近侧端缘处分别设有成排纵向及横向探针；该等成排探针分别设有多数间隔探针，此等探针均被定位于探针座，且每一探针座固接于一共同轴，并使共同轴两端接合连动于导块，该等导块被接合于两侧预设...
该专利属于中台探针实业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中台探针实业有限公司授权不得商用。

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