【技术实现步骤摘要】
本技术涉及印刷电路板测试
，特别是涉及印刷电路板测试治具改造结构，其具有在不改变原测试针间距下，可以增加测试针布设密度。
技术介绍
现有技术中，印刷电路板测试治具通常都具有数片测试板，各片测试板则视实际需要以数组固定杆组结合成一体，以实现测针斜率，参见图1所示，该治具(1)包括有数片测试板(10)，各片测试板(10)中具有依据待测印刷电路板测试接点设置的测试针(11)，各测试针(11)二端凸伸出治具(1)，其于待测电路板端(X)，做为与待测电路板(3)待测接点(30)接触，而于针床端(Y)，则做为与针床(2)的弹簧针(20)接触，各测试针(11)并依据待测电路接点具有适当的斜率，使依据待测接点(30)原密度布设的待测电路板端(X)测的测试针(11)，经适当的斜率调整，使针床端(Y)放大测试针(11)间距。现有技术中针床端(Y)的测试针布设为等矩阵布设，参见图2所示，各相邻测试针(11)的间距均为A，但对角间距则为C(且C必然大于A)。此种测试针的布设在印刷电路板电路布局越来越精密的现代，已渐不敷所求，越是精密的电路布局需要越是精密的测试针布设，现行解决的方...
【技术保护点】
一种印刷电路板测试治具改造结构，其主要包括有数片测试板，各片测试板中具有依据待测印刷电路板测试接点设置的测试针，各测试针二端凸伸出治具，其于待测电路板端，做为与待测电路板待测接点接触，而于针床端，则做为与针床的弹簧针接触，各测试针并依据待测接点具有适当的斜率，其特征在于：该治具针床端上各相邻测试针与测试针间为等距布设。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林东熙，张信荣，
申请(专利权)人：自然兴电通科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]
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