【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于检查电路板和检查结合有电路板的设备的技术，尤其涉及一种用于确定电路板和结合有电路板的设备的可接受性的方法、设备、系统、计算机程序以及介质。
技术介绍
为了确定电路板或结合电路板的设备的可接受性，通常在电路板上或设备上连接检查设备。在一个示例中，检查设备向电路板输入测试数据，并且将通过电路板输出的处理过的数据与预定的参考数据进行比较。基于比较结果，检查设备检查电路板的可接受性以及设备的可接受性。在另一个示例中，检查设备向被检查设备输入测试数据，并且将通过所述被检查设备输出的处理过的数据与预定的参考数据直观地比较。但是由于检查是基于电路板或者设备任意一个进行的，因此上述任何一种方法都不能判别故障是否是由电路板或设备引起的。此外，当电路板包括多个功能块时，要指明实际引起故障的功能块是很困难的。除上述缺点外，传统的检查设备在兼容性方面还存在问题。为了给要被检查的电路板或设备提供合适的测试数据和参考数据，通常检查设备被制作成针对电路板或设备的每一种类型。因而，希望实现一种能够检查多种被检查项的通用检查设备。
技术实现思路
鉴于到以上内容，本专利技术的一...
【技术保护点】
一种检查设备，用于检查被检查项的可接受性，包括：获取被检查项的特征信息的器件；根据所述特征信息，生成包括一个或多个测试数据的测试数据集的器件；产生包括相应于一个或多个测试数据的一个或多个参考数据的参考数据集的器件； 将测试数据集存储在第一数据区的器件；将参考数据集存储在第二数据区的器件；从所述测试数据集中选择测试数据并且从参考数据集中选择相应的参考数据的器件；向被检查项输出所述测试数据，从而使被检查项生成处理过的数据的器件 ；将处理过的数据存储在第三数据区的器件；获取地址...
【技术特征摘要】
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