检查电路板及其设备的方法、设备和系统技术方案

公开了一种能够检查多种电路板的方法、设备、系统、计算机程序以及相关的计算机介质。控制器件根据电路板的特征信息生成测试数据和参考数据。使用该测试数据，电路板生成处理过的数据。比较器件以位为基础比较处理过的数据和参考数据。基于比较结果，比较器确定电路板的可接受性。此外，比较器能够指定引起故障的电路板的特定部分。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于检查电路板和检查结合有电路板的设备的技术，尤其涉及一种用于确定电路板和结合有电路板的设备的可接受性的方法、设备、系统、计算机程序以及介质。
技术介绍
为了确定电路板或结合电路板的设备的可接受性，通常在电路板上或设备上连接检查设备。在一个示例中，检查设备向电路板输入测试数据，并且将通过电路板输出的处理过的数据与预定的参考数据进行比较。基于比较结果，检查设备检查电路板的可接受性以及设备的可接受性。在另一个示例中，检查设备向被检查设备输入测试数据，并且将通过所述被检查设备输出的处理过的数据与预定的参考数据直观地比较。但是由于检查是基于电路板或者设备任意一个进行的，因此上述任何一种方法都不能判别故障是否是由电路板或设备引起的。此外，当电路板包括多个功能块时，要指明实际引起故障的功能块是很困难的。除上述缺点外，传统的检查设备在兼容性方面还存在问题。为了给要被检查的电路板或设备提供合适的测试数据和参考数据，通常检查设备被制作成针对电路板或设备的每一种类型。因而，希望实现一种能够检查多种被检查项的通用检查设备。
技术实现思路
鉴于到以上内容，本专利技术的一个目的是提供一种能够识别故障原因的用于检查电路板和检查结合有电路板的设备的技术。本专利技术的另一个目的是提供一种能检查多种电路板和设备的技术。在一示例中，可以使用一种用于检查被检查项的可接受性的新型检查设备来实现这种技术。这种新型的检查设备包括控制器、存储装置、测试数据输入装置、参考数据输入装置、测试数据输出装置、处理过的数据输入装置、地址管理器、以及数据比较器。控制器提供包括至少一个测试数据的测试数据集，和包括至少一个参考数据的参考数据集。这些数据集可以由控制器本身或其它任何通过网络与控制器连接的器件产生，例如只要与从被检查项获得的特征信息相应地产生它们即可。存储装置具有第一数据区、第二数据区、以及第三数据区。测试数据输入装置从控制器中提取测试数据，并且将其存储在存储装置的第一数据区。同时，参考数据输入装置从控制器中提取参考数据，并且将其存储在存储装置的第二数据区。测试数据输出装置从第一数据区中提取测试数据，并且将其提供给被检查项。然后被检查项使用测试数据来产生处理过的数据。处理过的数据输入装置接收来自被检查项的处理过的数据，并且将其存储在存储装置的第三数据区。地址管理器获得地址信息，这些地址信息分别表示第一数据区中的测试数据的位置、第二数据区内的参考数据的位置、以及第三数据区内的处理过的数据的位置，并且存储这些用于以后的参考。数据比较器为了进行比较，使用地址信息从存储装置中提取处理过的数据以及相应的参考数据。基于比较结果，数据比较器能够确定被检查项的可接受性。除去以上操作外，当被检查项使用与新型检查设备的位宽不同的位宽操作时，新型检查设备能够转换测试数据和处理过的数据。在另一示例中，新型检查设备可以在多种位宽选项中，比较处理过的数据和参考数据。在另一示例中，新型检查设备可以基于检测到的故障数量，确定被检查项的可接受性。例如，当故障数量超过预定值时，确定被检查项存在故障。在另一示例中，新型检查设备可以使用地址信息，识别引起故障的被检查项的特定部分。除去已描述的新型检查设备外，本专利说明书可以结合在许多其它的特定形式中，包括系统、方法、计算器程序以及介质，这对于相关领域的技术人员来讲是显而易见的，而且不脱离本专利技术的精神和范围。附图说明在结合附图考虑的同时通过参照以下的详细描述，可以很容易地获知并且更好地理解所公开内容的更加完整的评价以及本专利技术附带的更多的优点，其中图1是说明根据本专利技术优选实施例的检查系统的结构示意方块图；图2是说明根据本专利技术另一优选实施例的检查系统的结构示意方块图；图3是说明根据本专利技术另一优选实施例的检查系统的结构示意方块图；图4是说明由图3的检查系统执行的测试数据转换操作的示意图；图5是说明由图3的检查系统执行的处理过的数据转换操作的示意图；图6是说明根据本专利技术另一实施例的检查系统的结构示意方块图；图7是说明根据本专利技术另一实施例的检查系统的结构示意方块图；图8是说明根据本专利技术另一实施例的检查系统的结构示意方块图；图9是说明根据本专利技术另一实施例的检查系统的结构示意方块图；图10是由图9的检查系统产生的示范性数据文件；图11是说明由本专利技术的任一检查系统执行的示范性比较操作的示意图；图12是说明由本专利技术的任一检查系统执行的比较结果的示范性存储操作的示意图；图13是说明由本专利技术的任一检查系统执行的示范性屏蔽操作的示意图；和图14是说明本专利技术的任一检查系统执行的示范性比较操作的示意图。具体实施例方式为清楚起见，在对附图中所示的优选实施例的详细描述中，采用特殊的术语。但是，本专利技术说明书所公开的内容并不旨在限制为特定的所选择的术语，应该理解每一特定的元件都包括操作方式与其相似的所有等价物。现在参照附图，其中相同的附图标记表示在所有附图中相同或相似的部分，尤其图1，是对根据本专利技术优选实施例的检查系统1的说明。检查系统1包括具有电路板31的被检查设备30，和能够检查电路板31的可接受性的检查设备10。此外，检查设备10可以基于电路板31的可接受性来确定被检查设备30的可接受性。电路板31具有多个功能块，每个块都具有特定的功能。这些功能块的全部功能决定了电路板31的特性。功能块的数量取决于电路板的类型，然而，为了便于说明，假设图1的电路板31包括三个功能块，31a、31b和31c。检查设备10包括控制器11、测试数据输入装置12、参考数据输入装置13、存储器14、测试数据输出装置18、处理过的数据输入装置19、数据比较器20、以及地址管理器21。存储器14包括测试数据区15、参考数据区16、以及处理过的数据区17。在操作时，控制器11获得有关被检查设备30的特性(特征信息)的信息，并且根据被检查设备30的特征信息产生一组测试数据和参考数据。特征信息包括，例如关于电路板31的结构方面的信息，诸如引脚数数量。测试数据输入装置12将测试数据存储在存储器14的测试数据区15。参考数据输入装置13将参考数据存储在存储器14的参考数据区16。同时，地址管理器21分别获取测试数据和参考数据的地址信息。这些地址信息指明，例如测试数据和参考数据的实际位置和数据长度。测试数据输出装置18从测试数据区15取出测试数据，并且将其发送给被检查设备30的电路板31。电路板31使用功能块31a至31c，产生与接收到的测试数据相应的处理过的数据。处理过的数据输入装置19接收从电路板31输出的处理过的数据，并且将其存储在存储器14的处理过的数据区17。同时，地址管理器21获取处理过的数据的地址信息。数据比较器20使用存储在地址管理器21中的地址信息，以位为基础比较处理过的数据和参考数据。然后数据比较器20基于比较结果，确定电路板31的可接受性。更确切的说，如果处理过的数据与参考数据匹配，那么数据比较器20确定电路板31可接受的。进一步，如果电路板31是可接受的，那么数据比较器20可以确定结合有电路板31的被检查设备30是可接受的。数据比较器20给控制器11输出确定结果。控制器11可以在与控制器11相连的显示装置(未示出)上显示确定结果。可替换地，控制器11也可以使用与控制器1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查设备，用于检查被检查项的可接受性，包括：获取被检查项的特征信息的器件；根据所述特征信息，生成包括一个或多个测试数据的测试数据集的器件；产生包括相应于一个或多个测试数据的一个或多个参考数据的参考数据集的器件；　 　将测试数据集存储在第一数据区的器件；将参考数据集存储在第二数据区的器件；从所述测试数据集中选择测试数据并且从参考数据集中选择相应的参考数据的器件；向被检查项输出所述测试数据，从而使被检查项生成处理过的数据的器件 ；将处理过的数据存储在第三数据区的器件；获取地址信息的器件，这些地址信息表示第一数据区中的测试数据的位置，第一数据区中的参考数据的位置，以及第一数据区中的处理过的数据的位置；关于地址信息，从存储装置中提取处理过的数据 和参考数据的器件；以位为基础，比较处理过的数据和参考数据的器件；以及基于所述比较，确定被检查项的可接受性的器件。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：清水武彦，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：JP[日本]