检测无元件型印刷电路板的方法技术

一种采用带几个指状件的指状测试器测试无元件型印刷电路板的方法，几个指状件自动移动以接触待测电路板的电路板测试点，其中每个测试指状件具有测试探针（１），测试探针（１）设有接触传感器（１６），用于确定测试探针（１）的探针尖端（５）何时与待测电路板表面进行接触，使得借助该时间点和探针尖端（５）在该时间点的位置，确定待测电路板（２１）表面的水平高度，并可根据确定的水平高度控制接触更多电路板测试点的接触过程。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及使用带几个指状件的指状测试器，这些指状件自动横向移动以接触待测电路板的电路板测试点。
技术介绍
测试电路板的测试器通常可以被分成两类，一类带有指状测试器，另一类带有并行测试器。并行测试器是借助适配器同时接触待测试电路板的所有或者至少多数电路板测试点的测试器。指状测试器是测试无元件或者有元件电路板的测试器，它利用两个或者两个以上测试指顺序扫描各个接触点。在无元件型印刷电路板的测试中，与有元件型电路板测试也就是内部电路测试相比，无元件型电路板测试必须更有效地接触多个测试点。为此，无元件型电路板的指状测试器成功销售的主要条件是在预定时间内接触电路板测试点的处理量。测试指通常固定在滑动件上，滑动件能沿着横杆移动，而横杆又经导引而沿着导轨移动。因此，滑动件能被定位于测试阵列上任一预期点，测试阵列通常为矩形。当接触待测电路板的接触点时，滑动件能在横杆上垂直移动，使测试指可从电路板上方或下方放置在接触点上。EP 0 468 153 A1描述一种指状测试器；EP 0 853 242 A1则描述一种使用指状测试器来测试电路板的方法。JP02-130477A公开一种采用带一个测试指的指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：维克多·罗曼诺夫，奥勒·尤舒克，
申请(专利权)人：德商·Atg测试系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：