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一种采用带几个指状件的指状测试器测试无元件型印刷电路板的方法,几个指状件自动移动以接触待测电路板的电路板测试点,其中每个测试指状件具有测试探针(1),测试探针(1)设有接触传感器(16),用于确定测试探针(1)的探针尖端(5)何时与待测电路...该专利属于德商·Atg测试系统股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过德商·Atg测试系统股份有限公司授权不得商用。
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一种采用带几个指状件的指状测试器测试无元件型印刷电路板的方法,几个指状件自动移动以接触待测电路板的电路板测试点,其中每个测试指状件具有测试探针(1),测试探针(1)设有接触传感器(16),用于确定测试探针(1)的探针尖端(5)何时与待测电路...