测试一个和多个导体组件的适配器制造技术

一种适配器，用于在指状测试器中对具有几条导体路径的一个或多个导体组件（２）的测试，其中，导体组件具有一侧面（１１），侧面（１１）上排列有与最近的相邻触点相隔至少预定间距的触点（１６），使得可以通过适配器接触导体组件的所述侧面，其特征是，　　　　适配器（１）具有至少一个带一组接触元件（６、７；２６、２７）的接触区（１７、１８），接触区（１７、１８）的这组接触元件（６、７；２６、２７）以对应导体组件的触点（１６）的图形排列，以及　　　　接触元件（６、２６）以这样的方式电连接其它接触元件（７；２７），即导体组件的导体路径合并成几个测试网，这些测试网在适配器不接触的侧面上具有至少一个触点。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测试一个或多个导体组件的适配器。特别是，本专利技术涉及测试电路板和其他大体粗糙板型非组成式导体组件的适配器。这样的导体组件是例如一些芯片载体，这些芯片载体具有的芯片侧面和连接侧面，芯片侧面上设置用于连接集成电路的触点，连接侧面上设置连接其它导体组件的较大触点。连接侧面上的这些触点可以按规则栅格布置。
技术介绍
测试非组成式电路板的已知装置可大体分成两组。第一组包括具有适配器的装置，即所谓的平行测试器，其中采用适配器可以同时接触电路板的所有触点。第二组包括所谓的指状测试器。这些测试器是用两个或两个以上测试指顺序扫描单独触点的装置。DE4237591A1、DE4406538A1、DE4323276A、EP215146B1和DE3838413A1公开了带适配器的测试器。这样的适配器基本上用于使待测试电路板上触点的不均匀结构与电测试器的预置基本网格相匹配。在待测试的现代电路板中，触点不再布置在均匀栅格中，使得实现接触栅格和触点之间连接的适配器中的接触针倾斜或偏斜布置，或者设置所谓的变换器以将一致的接触栅格“变换”成不均匀触点配置。这些适配器因此还被称为栅格匹配适配器。与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：曼弗雷德·普罗科普，维克托·罗曼诺夫，
申请(专利权)人：德商·Atg测试系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：