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一种适配器，用于在指状测试器中对具有几条导体路径的一个或多个导体组件（２）的测试，其中，导体组件具有一侧面（１１），侧面（１１）上排列有与最近的相邻触点相隔至少预定间距的触点（１６），使得可以通过适配器接触导体组件的所述侧面，其特征是， ...该专利属于德商·Atg测试系统股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过德商·Atg测试系统股份有限公司授权不得商用。
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一种适配器，用于在指状测试器中对具有几条导体路径的一个或多个导体组件（２）的测试，其中，导体组件具有一侧面（１１），侧面（１１）上排列有与最近的相邻触点相隔至少预定间距的触点（１６），使得可以通过适配器接触导体组件的所述侧面，其特征是， ...