测试装置及其设置方法制造方法及图纸

一种测试电气元件的测试装置，包括：多个信号输入－输出单元，其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和／或输出测试信号；一个通道选择存储器，其存储指示每个信号输入－输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息；一个设置条件存储器，其存储关于信号输入－输出单元的设置条件；以及一个控制构件；当接收到设置指令以设置信号输入－输出单元的设置条件时；其根据设置指令检索并向信号输入－输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息，其中当至少一个信号输入－输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时，则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入－输出单元。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种。特定来说，本专利技术涉及一种测试电气元件的测试装置，及设置该测试装置中所包括的信号输入-输出单元的设置方法。另外，本申请与以下日本专利申请有关，其内容并入此处作为参考。2003年3月19日提交的日本专利申请2003-074898号。
技术介绍
现有的测试装置指示测试控制单元响应测试项目从磁盘设备中读出设置条件，并将该些设置条件发送给连接在电气元件的通道以便执行设置。尽管这种测试装置重复测试相同类型的电气元件，但是其每次测试都要从磁盘设备中读出设置条件，并经由系统总线将该设置条件发送给通道，这样，测试装置需要花费大量时间从磁盘设备中读出数据以及发送数据。因此，为了减少测试时间，已知一种测试装置包括一个用于分析来自上述测试控制单元的指令并设置一个通道条件的指令分析单元，例如，在日本专利申请早期(laid-open)公开号1995-218602(专利文献1)中。该现有技术所揭示的测试装置在测试之前将磁盘设备的设置条件经由系统总线发送并存储到指令分析单元中的存储器中。并且所述测试控制单元经由系统总线将设置条件发送到指令分析单元，以便向通道发送和设置条件。然而，当设置连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试电气元件的测试装置，其包括：多个信号输入－输出单元，其响应所述电气元件中所包括的多个端子中的每一个来输入和／或输出测试信号；一个通道选择存储器，其存储指示每个所述信号输入－输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条频 道选择信息；一个设置条件存储器，其存储关于所述信号输入－输出单元的所述设置条件；以及一个控制构件，当接收到所述设置指令以设置所述信号输入－输出单元的设置指令时，其根据设置指令检索并向所述信号输入－输出单元提供存储在所述设置条 件存储器中的设置条件和存储在所述通道选择存储器中的通道选择信息，其中当至少一个所述信号输...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：矢口刚史，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]