【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试转接工装，具体涉及一种分立器件的测试转接装置。
技术介绍
在制得半导体分立器件成品后，需要对分立器件进行电性能测试，即在分立器件测试过程中，需要将测试设备的测试线通过测试转接头与物料分选设备的测试座相连接，然后对测试座上的分立器件进行电性能测试；所述测试转接头包括公母接头，母接头与物料分选设备的测试座固定连接，公接头与测试设备的测试线是焊接连接的，这样，当机台变更或产品变更需要调整测试线与公接头的焊接位置，就必须先将已有的测试线与公接头的焊接处熔融后再按照新的技术要求，调整两者之间的焊接位置并将两者焊接连接，这样，不仅浪费了测试人员的时间，使得测试效率低，而且长时间这样重复焊接会影响公接头的使用寿命。
技术实现思路
本技术的目的是：提供一种不仅省时省力、无需焊接连接，而且测试效率高的分立器件的测试转接装置，以克服现有技术的不足。为了达到上述目的，本技术的技术方案是：一种分立器件的测试转接装置，包括转接座、第一测试片副、第二测试片副、第一紧固螺钉和第二紧固螺钉；而：所述转接座具有第一连接凹腔和第二连接凹腔，且转接座内沿其长度方向插入有两排测试插针，第一排为第一测试插针，第二排为第二测试插针，在第一连接凹腔内有由与第一测试插针连接的第一动测试片，和与转接座连接的第一定测试片有间距相对布置所组成的第一测试片副，在第二连接凹腔内有由与第二测试插针连接的第二动测试片，和与转接座连接的第二定测试片有间距相对布置所组成的第二测试片副；所述第一紧固螺钉穿过第一动测试片并指向第一定测试片，所述第...
【技术保护点】
一种分立器件的测试转接装置，其特征在于：包括转接座（1）、第一测试片副（2）、第二测试片副（3）、第一紧固螺钉（4）和第二紧固螺钉（5）；而：所述转接座（1）具有第一连接凹腔（1‑1）和第二连接凹腔（1‑2），且转接座（1）内沿其长度方向插入有两排测试插针，第一排为第一测试插针（6‑1），第二排为第二测试插针（6‑2），在第一连接凹腔（1‑1）内有由与第一测试插针（6‑1）连接的第一动测试片（2‑1），和与转接座（1）连接的第一定测试片（2‑2）有间距相对布置所组成的第一测试片副（2），在第二连接凹腔（1‑2）内有由与第二测试插针（6‑2）连接的第二动测试片（3‑1），和与转接座（1）连接的第二定测试片（3‑2）有间距相对布置所组成的第二测试片副（3）；所述第一紧固螺钉（4）穿过第一动测试片（2‑1）并指向第一定测试片（2‑2），所述第二紧固螺钉（5）穿过第二动测试片（3‑1）并指向第二定测试片（3‑2）。
【技术特征摘要】
1.一种分立器件的测试转接装置，其特征在于：包括转接座（1）、第一测试片副（2）、第二测试片副（3）、第一紧固螺钉（4）和第二紧固螺钉（5）；而：
所述转接座（1）具有第一连接凹腔（1-1）和第二连接凹腔（1-2），且转接座（1）内沿其长度方向插入有两排测试插针，第一排为第一测试插针（6-1），第二排为第二测试插针（6-2），在第一连接凹腔（1-1）内有由与第一测试插针（6-1）连接的第一动测试片（2-1），和与转接座（1）连接的第一定测试片（2-2）有间距相对布置所组成的第一测试片副（2），在第二连接凹腔（1-2）内有由与第二测试插针（6-2）连接的第二动测试片（3-1），和与转接座（1）连接的第二定测试片（3-2）有间距相对布置所组成的第二测试片副（3）；
所述第一紧固螺钉（4）穿过第...
【专利技术属性】
技术研发人员：王双，
申请(专利权)人：常州银河世纪微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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