半导体分立器件特性曲线跟踪仪器制造技术

本发明专利技术涉及一种通过半导体分立器件特性曲线跟踪仪器。半导体分立器件特性曲线跟踪装置，由上位机、测试主机、扩展台、治具四部分组成，所述测试主机里包含下位机、机械手/探针台驱动模块、总线转换模块、数据总线模块、AD/DA转换模块、功率放大器、继电器阵列，所述的下位机里装有自检、自校准程序，所述的扩展台扩展所述功率放大器，采用16位并行AD/DA转换模块设计，测试速度快，精度高；采用下位机控制，实现脱机运行；采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确；完整的自检/自校准能力；采用上位机显示，直观，好操作；可以连接机械手或探针台，效率高；数据存储在PC机里，读写方便。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
半导体分立器件特性曲线跟踪仪器，其特征在于，由上位机、测试主机、扩展台、治具四部分组成，所述测试主机里包含下位机、机械手/探针台驱动模块、总线转换模块、数据总线模块、AD/DA转换模块、功率放大器、继电器阵列，所述的下位机里装有自检、自校准程序，所述的扩展台扩展所述功率放大器，所述的总线转换模块是通过数据转换芯片把所述下位机送来的数据转换成数据总线上兼容的数据后，再传递到所述数据总线模块上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李耀武，
申请(专利权)人：西安谊邦电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61