【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及集成电路(IC)的测试，特别是涉及用于测试一个或多个IC的自动化测试设备(ATE)。
技术介绍
本申请案主张以下申请案地优先权2003年2月24日提出的申请案第60/449,622号，名称为“测试集成电路的方法与装置”；2003年2月14日提出的申请案第60/447,839号，名称为“为半导体集成电路开发测试程序的方法和结构”；2003年3月31日提出的美国申请案第10/404,002号，名称为“测试仿真器、测试模块仿真器、和其中的记录媒体存储程序”；2003年3月31日提出的美国申请案第10/403,817号，名称为“测试装置和测试方法”，上述所有申请在此全文并入以资参考。本申请还全文参考了同时提出的美国申请号_________，名称为“为半导体集成电路开发测试程序的方法和结构”，该申请案主张2003年2月14日提出的申请案第60/447,839号、名称为“为半导体集成电路开发测试程序的方法和结构”的优先权。芯片系统(system-on-a-chip，SOC)复杂程度的增加和同时存在的降低芯片测试成本的需求，促使IC制造商和测试机供货商重新考虑I...
【技术保护点】
一种用来测试至少一个被测元件（ＤＵＴ）的半导体测试系统的分布式操作系统，其特征在于该操作系统包括：一主操作系统，其藉由一系统控制器实现对至少一个现场控制器的控制；和至少一个本地操作系统，其与每个现场控制器关联，用于藉由一相关 联的现场控制器实现对至少一个测试模块的控制，其中至少一个测试模块对一个对应的被测元件执行测试。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：安肯拉马尼克，马克艾尔斯顿，陈良力，罗伯萨乌尔，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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