支持开放架构测试系统中的校准和诊断技术方案

一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括：创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别，以及创建用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口的校准和诊断（Ｃ＆Ｄ）框架，其中所述Ｃ＆Ｄ框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类。该方法还包括接收厂商供给的测试模块；根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息；以及使用所述Ｃ＆Ｄ框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及自动测试设备(ATE)的领域。更具体地，本专利技术涉及一种用于支持开放架构测试系统中的校准和/或诊断的方法及系统。
技术介绍
芯片上系统(SOC)器件的增加的复杂度及同时对芯片测试成本减小的要求已经迫使集成电路(IC)制造者和测试设备厂商都在重新考虑应当如何执行IC测试。根据工业研究，在没有重新设计的情况下，测试设备的预计成本在不久的将来将继续大幅上升。测试设备的高成本的主要原因是传统测试设备架构的专有性质。每个测试设备制造者具有许多测试设备平台，这些平台不仅在多个公司如Advantest、Teradyne和Agilent之间是不兼容的，而且在一个公司内的多个平台如由Advantest制造的T3300、T5500和T6600系列测试设备之间也是不兼容的。由于这些不兼容，每个测试设备需要其自身专有的硬件和软件部件，并且这些专有的硬件和软件部件不能用在其它测试设备上。另外，将测试程序从一个测试设备移植至另一个以及开发第三方解决方案需要相当大的努力。即使当为一个平台开发了第三方解决方案时，其也不能被移植到不同的平台上或在不同的平台上再使用。从一个平台到另一个的翻译过程通常是复杂的和容易出错的，从而带来了附加的努力、时间和增加的测试成本。在这种专有的测试设备架构中，在主机上运行诸如操作系统和测试分析工具/应用程序的测试设备软件。由于这种架构的专用性质，所有的硬件和软件针对给定的测试设备保持为固定的配置。为了测试硬件器件或IC，开发了专用的测试程序，其使用部分或全部的测试设备能力来定义测试数据、信号、波形、及电流和电压电平，并收集被测器件(DUT)的响应以及确定DUT的通过/失败。各种DUT的测试需要测试设备系统的硬件和软件部件实现大范围的功能性和操作。在测试期间，可以利用厂商供给的测试模块的不同集来支持大范围的功能性，并且需要配置测试系统以便以即插即用的方式支持厂商供给的测试模块以及它们对应的校准和/或诊断数据。当利用新的厂商供给的测试模块时，可能需要该新测试模块的校准和/或诊断。另外，测试模块的性能可能在一定的时间后会漂移到原始校准的范围之外，并且可能需要通过测试系统来重新校准或重新诊断该测试模块。因此，需要一种可以基于测试要求而配置有不同测试模块的开放架构测试系统。特定地，需要一种开放架构测试系统，其可以被配置为在运行时期间以即插即用的方式使用厂商供给的校准和/或诊断(C&D)信息。
技术实现思路
本专利技术实施例的开放架构测试系统允许第三方测试模块的集成。该测试系统的硬件和软件框架包括标准接口，来自于不同厂商的模块可以以即插即用的方式与该标准接口交互。在一个实施例中，一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别(category)，以及创建用于在厂商供给的测试模块和模块化的测试系统之间建立标准接口的校准和诊断(C&D)框架，其中该C&D框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类。该方法还包括接收厂商供给的测试模块，根据部件类别从厂商供给的测试模块中检索模块集成信息，以及使用C&D框架基于模块集成信息将厂商供给的测试模块集成到模块化的测试系统中。在另一实施例中，模块化的测试系统包括系统控制器，至少一个耦合到该系统控制器的位置控制器(site controller)，至少一个厂商供给的测试模块以及其对应的被测器件(DUT)，用于集成厂商供给的测试模块的部件类别，以及用于在厂商供给的测试模块和模块化的测试系统之间建立标准接口的校准和诊断(C&D)框架，其中该C&D框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类。该模块化的测试系统还包括用于接收厂商供给的测试模块的装置，用于根据部件类别从厂商供给的测试模块中检索模块集成信息的装置，以及用于使用该C&D框架基于该模块集成信息将厂商供给的测试模块集成到模块化的测试系统中的装置。附图说明在下文中，当结合附图考虑时，通过对本专利技术实施例的详细描述，可以更为清楚地理解本专利技术的前述特征和优点以及其附加的特征和优点。图1说明根据本专利技术一实施例的开放架构测试系统。图2a说明根据本专利技术一实施例的用于使用C&D框架来集成厂商供给的C&D信息的方法。图2b说明根据本专利技术的一实施例的、由用于访问共享的仪器的测试系统使用的方案。图3a说明根据本专利技术一实施例的、校准其驱动定时的数字功能发生器模块的波形。图3b说明根据本专利技术一实施例的、驱动定时校准数据的在线补偿的波形。图4说明根据本专利技术一实施例的、在运行时期间特定于厂商的校准信息到开放架构测试设备框架中的集成。图5说明根据本专利技术一实施例的、用于实施测试条件存储器的方法。贯穿附图使用类似的标号。具体实施例方式提供了用于支持开放架构测试系统中的校准和/或诊断的方法和系统。提供下面的描述以使本领域任何技术人员能够实现和使用本专利技术。特定技术和应用的描述仅作为实例而提供。对于本领域技术人员而言，这里描述的实例的各种修改和组合将是显而易见的，并且在不脱离本专利技术的精神和范围的情况下，可以将这里限定的一般原理应用于其它的实例和应用。因此，本专利技术不是旨在限制成所描述和示出的实例，而是应该被给予符合这里公开的原理和特征的最宽的范围。图1说明根据本专利技术一实施例的开放架构测试系统。系统控制器(SysC)102耦合到多个位置控制器(SiteC)104。该系统控制器也可以耦合到网络以访问相关的文件。通过模块连接使能器106，耦合了每个位置控制器以控制位于测试位置110的一个或多个测试模块108。模块连接使能器106允许连接的硬件模块108的重新配置，并且也作为用于数据传输的总线(用于加载模式数据、采集响应数据、提供控制等)。另外，通过模块连接使能器，在一个位置处的模块可以访问在另一位置处的模块。模块连接使能器106允许不同的测试位置具有相同或不同的模块配置。换句话说，每个测试位置可以采用不同数量和类型的模块。可能的硬件实现包括专用连接、交换机连接(switch connection)、总线连接、环形连接、以及星形连接。例如，模块连接使能器106可以通过开关矩阵来实现。每个测试位置110与DUT112相关，DUT112通过负载板114连接到对应位置的模块。在一个实施例中，单个位置控制器可以连接到多个DUT位置。系统控制器102用作整个系统的管理器。其协调位置控制器的活动、管理系统级并行测试策略，并且附加地提供了处理程序/探查(handler/probe)控制以及系统级数据日志记录和错误处理支持。依赖于操作设置，可以在与位置控制器104的操作分离的CPU上部署系统控制器102。可替换地，可以由系统控制器102和位置控制器104共享公共的CPU。类似地，可将每个位置控制器104部署在其自身专用的CPU(中央处理单元)上，或作为同一CPU内单独的进程或线程。该系统架构在概念上可以被视作图1中所示的分布系统，同时应当理解，各个系统部件也可以视作集成的单片系统的逻辑部件而不必视作分布系统的物理部件。根据本专利技术的开放架构测试系统的实施例，通过在硬件和软件级都使用标准接口而便利了即插本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括：创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别；创建校准和诊断（Ｃ＆Ｄ）框架，其用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口，其中所述Ｃ＆Ｄ框架包括传递 厂商供给的模块集成信息的接口类；接收厂商供给的测试模块；根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息；以及使用所述Ｃ＆Ｄ框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：足立敏明，安康普拉马尼克，马克埃尔斯顿，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]