【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及自动测试设备(ATE)的领域。更具体地，本专利技术涉及一种用于支持开放架构测试系统中的校准和/或诊断的方法及系统。
技术介绍
芯片上系统(SOC)器件的增加的复杂度及同时对芯片测试成本减小的要求已经迫使集成电路(IC)制造者和测试设备厂商都在重新考虑应当如何执行IC测试。根据工业研究，在没有重新设计的情况下，测试设备的预计成本在不久的将来将继续大幅上升。测试设备的高成本的主要原因是传统测试设备架构的专有性质。每个测试设备制造者具有许多测试设备平台，这些平台不仅在多个公司如Advantest、Teradyne和Agilent之间是不兼容的，而且在一个公司内的多个平台如由Advantest制造的T3300、T5500和T6600系列测试设备之间也是不兼容的。由于这些不兼容，每个测试设备需要其自身专有的硬件和软件部件，并且这些专有的硬件和软件部件不能用在其它测试设备上。另外，将测试程序从一个测试设备移植至另一个以及开发第三方解决方案需要相当大的努力。即使当为一个平台开发了第三方解决方案时，其也不能被移植到不同的平台上或在不同的平台上再使用。从一个平台到...
【技术保护点】
一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法，包括：创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别；创建校准和诊断（Ｃ＆Ｄ）框架，其用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口，其中所述Ｃ＆Ｄ框架包括传递 厂商供给的模块集成信息的接口类；接收厂商供给的测试模块；根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息；以及使用所述Ｃ＆Ｄ框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：足立敏明，安康普拉马尼克，马克埃尔斯顿，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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