检测电路，相关有源放电电路以及集成电路制造技术

提供了检测电路，相关有源放电电路以及集成电路。描述了一种用于有源放电电路的检测电路(40)。这种有源放电电路经常用于对X电容器(304)进行放电。针对该目的，检测电路(40)生成通知应用于X电容器(304)的AC振荡存在或不存在的放电使能信号(EN)。具体地，检测电路(40)包括用于连接至X电容器(304)的传感器电路(402；404)，其中传感器电路(402；404)生成指示X电容器(304)处的电压的传感器信号(S)。检测电路(40)还包括处理单元(406)，该处理单元包含比较器电路、计时器电路、精化电路和动态阈值生成器电路。具体地，比较器电路通过比较传感器信号(S)和至少一个阈值生成至少一个比较信号。

【技术实现步骤摘要】

本公开的实施例涉及用于对X电容器放电的电路。
技术介绍
图1a示出了经由通过外部AC电源20(例如具有诸如230VAC或110VAC的电源)提供的输入电压Vin供电的设备10a的示例。例如，通常设备10a包括连接器102，诸如插头，包括用于连接到外部AC电源20的两端102a和102b，并且经由连接器102接收的AC电源信号Vin被提供给某种电子负载106。设备10a还可以包括直接连接到AC输入连接器102的电容器104，其通常被称为X电容。例如，这种X电容经常用于开关模式电源(SMPS)中。在这方面，图1b显示了典型的开关模式电源10b的示例。具体的，在考虑的示例中，图1a的电子负载106现在由整流器电路110表示，诸如二极管桥式整流器，被配置为将AC电源信号Vin转换为DC电源信号，并且电子变换器112，诸如DC/DC开关变换器，其可能供给负载114，诸如外部负载114a和/或内部负载114b。例如，在这种情况下，电容器104可以被配置为过滤来自开关变换器112的开关活动的EMI(电磁干扰)噪声。安全规则，诸如国际标准IEC609本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于有源放电电路(308)的检测电路(40)，其特征在于，所述有源放电电路被适配为对设备(30)的X电容器(304)进行放电，所述检测电路(40)被配置为生成放电使能信号(EN)，所述放电使能信号(EN)信号通知应用于所述X电容器(304)的AC振荡的存在或不存在，其中所述检测电路(40)包括：传感器电路(402；404)，用于连接至所述X电容器(304)，所述传感器电路(402；404)被配置为生成指示所述X电容器(304)的电压的传感器信号(S)；比较器电路(412)，被配置为通过将所述传感器信号(S)和至少一个阈值(DLT；DLT，DHT；DT1，DT2)进行比较来生成至少一个比较信...

【技术特征摘要】
2014.11.04 IT TO2014A0009061.一种用于有源放电电路(308)的检测电路(40)，其特征在于，所述有源放电电路被适配为对设备(30)的X电容器(304)进行放电，所述检测电路(40)被配置为生成放电使能信号(EN)，所述放电使能信号(EN)信号通知应用于所述X电容器(304)的AC振荡的存在或不存在，其中所述检测电路(40)包括：
传感器电路(402；404)，用于连接至所述X电容器(304)，所述传感器电路(402；404)被配置为生成指示所述X电容器(304)的电压的传感器信号(S)；
比较器电路(412)，被配置为通过将所述传感器信号(S)和至少一个阈值(DLT；DLT，DHT；DT1，DT2)进行比较来生成至少一个比较信号(OVTH；COMP1，COMP2)；
计时器电路(414)，被配置为：
a)当所述计时器电路(414)已经经由重置信号(RESET)而被重置时，设置所述放电使能信号(EN)至第一逻辑电平；并且
b)确定自所述计时器电路(414)已经经由重置信号(RESET)而被重置以来经过的时间；
c)测试所述经过的时间是否超过给定的超时值；以及
d)在所述经过的时间超过所述给定的超时值的情况下，设置所述放电使能信号(EN)至第二逻辑电平；
精化电路(418)，被配置为根据所述至少一个比较信号(OVTH；COMP1，COMP2)生成用于所述计时器电路(414)的所述重置信号(RESET)；以及
动态阈值生成器电路(416)，被配置为根据所述传感器信号(S)改变所述比较器电路(412)的所述至少一个阈值(DLT，DHT；DT1，DT2)。
2.根据权利要求1所述的检测电路(40)，其特征在于，所述动态阈值生成器电路(416a)被配置为以前馈的方式根据所述传感器信号(S)改变所述比较器电路(412)的所述至少一个阈值(DLT，DHT)。
3.根据权利要求2所述的检测电路(40)，其特征在于，所述动态阈值生成器电路(416a)包括：
峰值检测器电路(408)，被配置为确定指示所述传感器信号(S)的峰值的上阈值(DHT)；以及
阈值生成器电路(410)，被配置为根据所述上阈值(DHT)确定下阈值(DLT)。
4.根据权利要求3所述的检测电路(40)，其特征在于，所述比较器电路(412a)包括：
单个比较器(412a)，被配置为生成指示所述传感器信号(S)是否大于所述下阈值(DLT)的比较信号(OVTH)；或者
窗口比较器(412a)，被配置为生成指示所述传感器信号(S)是否在所述下阈值(DLT)和所述上阈值(DHT)之间的比较信号(OVTH)。
5.根据权利要求4所述的检测电路(40)，其特征在于，所述精化电路(418a)被配置为：
测试所述比较信号(OVTH)是否包括上升沿和/或下降沿；以及
当所述比较信号(OVTH)包括上升沿和/或下降沿时，经由所述重置信号(RESET)重置所述计时器电路(414a)。
6.根据权利要求4或权利要求5所述的检测电路(40)，其特征在于，所述精化电路(418a)被配置为：
测试所述比较信号(OVTH)是否包括上升沿和下降沿两者；以及
在所述比较信号(OVTH)包括所述上升沿和所述下降沿两者的情况下，确定在所述上升沿和所述下降沿之间经过的时间；
测试所述上升沿和所述下降沿之间的所述经过的时间是否小于给定的...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·戈比，I·S·贝洛莫，D·特里波蒂，A·博雷洛，A·比安科，
申请(专利权)人：意法半导体股份有限公司，
类型：新型
国别省市：意大利;IT