数据压缩制造技术

一种用于压缩供测试逻辑产品之用的测试矢量数据的方法和设备，其中原始测试矢量数据是以两个或两个以上包含″关注″位和″非关注″位的序列的形式来生成的。然后，通过比较两个或两个以上后续矢量的对应位并且如果发现两个或两个以上矢量的所有对应位是相容的则将两个或两个以上矢量合并成代表其的单个矢量来压缩该测试矢量数据。如果它们不具有明确不相容的值或相对的值，则两个位相容。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种供数据压缩之用的方法和设备，更具体来讲但非必须排它地来讲，本专利技术涉及这样一种方法和设备，其用于减少供测试诸如集成电路芯片等等之类的逻辑产品之用的测试数据的量或压缩该测试数据从而节省计算机存储器、盘存储器的量以及节省测试这种产品所需的时间。
技术介绍
每个制造的集成电路(IC)都必须彻底地进行测试以便在将其运往订户那里之前找出制造缺陷。测试IC的常规方法包括利用ATPG(自动测试图案生成)工具自动生成测试图案，并且利用ATE(自动测试设备)将这些测试图案应用于IC以及芯片内的可测试性设计(DfT)结构。一种用于数字逻辑电路的普通DfT技术就是‘扫描设计’，其允许在测试模式期间将电路中的触发器配置成串行移位寄存器(‘扫描链’)。参照在扫描测试期间的附图的图6，首先通过一个或多个管脚204将测试激励移入到扫描链200中。在完整的测试激励已被移入之后，电路208在功能性(或‘正常的’)模式下运行一个或多个时钟周期。在正常模式循环周期期间，将触发器中的激励施加到电路中的逻辑单元202上并且在触发器中捕获该响应。在正常模式循环周期之后，再次将所述电路配置成测试模式，并且本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压缩数据的方法，所述数据包括至少两个连续矢量的序列，其中一个矢量包括一位或多位，所述方法的特征在于包括下列步骤：ｉ）比较两个或者两个以上连续矢量中的对应位来判断它们是否相容；并且如果所述矢量的所有对应位是相容的，则ｉｉ） 合并所述两个或者两个以上矢量以创建代表其的单个矢量；其中假如两个位不具有明确不相容的值或相对的值，则所述两个位相容。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：HPE弗兰肯，HDL霍尔曼，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]