电子元器件的外观检查方法技术

一种正确检测轮廓线上有无凹凸的电子元器件的外观检查方法。通过提取检查对象电子元器件的矩形轮廓线（１），微分该轮廓线（１），用微分值的极大、极小值（１０，１１）与中值（１２）差的绝对值的大小来判定轮廓线（１）上有无凹凸。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测电子元器件轮廓上凹凸的。
技术介绍
在检查电容器等电子元器件过程中需检查测量各种外部凹凸，尤其是所谓突角。毛边等的凹凸(下面，本说明书简称为突角)。突角可能发生在任何部位，但借助多台摄像机或一台摄像机在多个方向上进行摄像，就能对轮廓上的所有凹凸进行检测。特别是通过配置摄像机使其光轴对准突角发生频度高的部位作为轮廓检测的方向，就能检测轮廓上的凹凸。参照图8至附图说明图10来说明已有技术以电子元器件突角作为轮廓上凹凸进行检测的外观检查方法。图8表示检查对象电容器的图像，其中1为电容器的轮廓，2为突角部位，θ为突角角度。图9表示外观检查装置的结构。其中，3为电视摄像机，4为数据处理单元，包括电视摄像机3送来的模拟图像信号的A/D变换单元5，数字图像信号用图像存储器6，通用存储器7，及CPU8(数据处理单元)。通用存储器7存储从图像信号提取的轮廓线，轮廓线的微分，轮廓的角度等。下面，参照图10说明CPU8中突角检查的数据处理过程。预先用电视摄像机3摄取检查对象的电容器，将其A/D变换后的图像信号存储在图像存储器6中。然后，在一方向上依次对其图像进行扫描，将灰度变化量最大的点作为轮廓点来提取(步骤11)，将该边缘点列变换为函数获得轮廓线(步骤12)。再求取边缘点列函数的梯度。这里，若有突角，则梯度(与水平轴的坡度，角0)变大，设定固定的梯度作为预定的基准值，若绝对值比该基准值大，则判定为是突角。但是，在上述已有方法中，当电容器倾斜时，没有突角的部位其梯度也会增大，恐会作为突角检测而成误检测，故存在可靠性低的问题。本专利技术鉴于上述已有技术的问题，其目的在于提供一种始终可准确检测轮廓线有无凹凸的可靠性高的电子元器件外观检查方法。本专利技术揭示本专利技术，包含提取检查对象电子元器件的大致矩形轮廓线的步骤；对轮廓线微分的步骤；提取微分值系列的中值的步骤；检测微分值极大极小值的步骤；根据微分值的极大极小值与中值的差的绝对值大小判定轮廓线凹凸的步骤，由于根据轮廓线微分值的极大、极小值的大小来检测凹凸的存在，故能消除检查对象倾斜产生的不良影响而能稳定地检测轮廓的凹凸。附图概述图1为本专利技术一实施形态外观检查方法的流程图，图2为上述实施形态中检查对象电容器的图像和提取轮廓线时扫描方向的说明图，图3为表示从图2图像提取到的轮廓线的图，图4为表示图3轮廓线的微分值的图，图5为表示上述实施形态中倾斜放置电容器的图像图，图6为从图5图像提取的轮廓线的图，图7为表示图6轮廓线的微分值的图，图8为表示检查对象电容器的图像图，图9为表示已有技术例外观检查装置的结构方框图，图10为已有技术例中电子元器件外观检查方法的流程图。实施本专利技术的最佳形态下面，参照图1至图7说明本专利技术一实施形态。作为检查对象电子元器件的电容器的形状与图8所示已有技术例的一样，外观检查装置的整体结构与图9说明的已有技术例的结构相同，这里引用其说明。参看图1，说明本实施形态中检查电容器凸起时CPU8的数据处理方法。预先用电视摄像机3摄取检查对象的电容器，其A/D变换后的图像信号存储在图像存储器6中。图2表示存储在图像存储器6中的图像。然后，先在图2中箭头9所示方向扫描图像，提取灰度变化量最大的点作为轮廓点(步骤1)。接着将该边缘点列变换为函数，获得图3所示的轮廓函数(步骤2)。再如图4所示根据轮廓函数计算其微分(步骤3)。微分的具体方法如下。作为举例使用算子(-1.,+1)，在运用这种算子(operator)情况下，用式 Δai=ai+1-ai求取轮廓线坐标列{ai}的微分值Δai。进而若采用将上述算子进行平滑处理的算子，则更有效果。具体而言，可使用(-1，1)×(1，1)2=(-1，+1)×(1，3，3，1)=(1，2，0，-2，-1)等算子，若使用这种算子，可获得使抽样所得的外观边缘平滑的效果，在电容器等那样烧结制造的元器件等表面平滑的场合，有时比算子(-1，+1)更好。这样一来，在微分后，接着求极大值、极小值及中值(步骤4、5)。在图4中，10为极大值，11为极小值，12为中值，13为最大值，14为最小值。极大值为比其两侧微分值大某个固定值以上的值，极小值为比其两侧微分值小某个固定值以下的值，分别与最大值、最小值不同。中值12为对全微分值按大小顺序排列时的正当中的值。在图4例中，中值取靠近0(水平轴)的值。接着，在求出上述极大值、极小值和中值之后，将|极大值-中值|、|极小值-中值|分别与基准值(表示凸起的梯度)比较(步骤6)，不管哪个比基准值大，就认为是凸起(步骤7)，若小于基准值，就认为没有凸起(步骤8)。采用极大、极小值的理由是因为，若单纯用最大、最小值，会误将电容器拐弯的梯度大的地方检测为是凸起，但是用极大、极小值则能准确地检测凸起。采用中值有如下的效果。图5表示倾斜放置电容器，图6表示从其轮廓检测到的轮廓点函数，图7表示其微分值。因电容器倾斜，故微分值整体下移(在图示例中，电容器右侧低，故微分下移，若右侧高则上移)。中值12，因电容器倾斜，取值移向0(水平轴)的负侧，在上式中由于取与该中值的差，故能补偿电容器的倾斜。所用的中值是按大小顺序排列全微分值时的正当中的值，若用全微分的平均值，则会受到电容器拐弯20非常大的微分值的强烈影响，而出现不能正确反映倾斜的情况。依序排列微分值，则会忽略大的值，从而不受拐弯20的影响。通过比较上下左右边的倾斜(每变化90度更好)，能检查上面那样得到的倾斜是否正确，最后可用4边的平均值，若仅仅一边有太大不一致的，也可用其它3边的值或其平均值。工业上的可应用性按照本专利技术，从以上说明可见，是通过提取检查对象电子元器件的大致矩形的轮廓线，对该轮廓线微分，用微分值的极大极小值与中值差的绝对值大小来判定轮廓线的凹凸，故不受检查对象倾斜的不良影响，能稳定地检测轮廓的凹凸，作为电容器等是有效的。权利要求1．一种电子器件的外观检查方法，其特征在于，包含提取检查对象电子元器件的大致矩形轮廓线(1)的步骤；对轮廓线(1)微分的步骤；提取微分值系列的中值(12)的步骤；检测微分值极大极小值(10，11)的步骤；根据微分值的极大极小值(10，11)与中值(12)的差的绝对值大小判定轮廓线(1)凹凸的步骤。全文摘要一种正确检测轮廓线上有无凹凸的。通过提取检查对象电子元器件的矩形轮廓线(1),微分该轮廓线(1),用微分值的极大、极小值(10,11)与中值(12)差的绝对值的大小来判定轮廓线(1)上有无凹凸。文档编号G01N21/88GK1212049SQ97192537 公开日1999年3月24日 申请日期1997年2月26日 优先权日1996年2月27日专利技术者横山晴彦, 中村雅俊 申请人:松下电器产业株式会社本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子器件的外观检查方法，其特征在于，包含：提取检查对象电子元器件的大致矩形轮廓线（１）的步骤；对轮廓线（１）微分的步骤；提取微分值系列的中值（１２）的步骤；检测微分值极大极小值（１０，１１）的步骤；根据微分值的极大极小值（１０，１１）与中值（１２）的差的绝对值大小判定轮廓线（１）凹凸的步骤。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：横山晴彦，中村雅俊，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]