一种莫尔相位解调方法技术

本发明专利技术公开了一种通过改变光电传感器位置而解调相位的莫尔测量方法，这种测量方法通过处于不同位置的Ｎ（Ｎ≥３）个光电传感器同时获取Ｎ幅被测物的光场图。当光电传感器为面阵时，对被测物上同一点得到相应Ｎ个莫尔条纹光场分布Ⅰ↓［１］、Ⅰ↓［２］、…Ⅰ↓［Ｎ］，求解出被测物体的三维信息；当光电传感器为线阵时，对被测物进行扫描，得到被测物上每一点的Ｎ个莫尔条纹光场分布Ⅰ↓［１］、Ⅰ↓［２］、…Ⅰ↓［Ｎ］，从而求解出被测物体的三维信息。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属光电检测
，更进一步属于莫尔轮廓测量术。现有莫尔轮廓测量术分为阴影莫尔法和投影莫尔法，阴影莫尔法具有结构简单、实用等特点，可根据测量对象的不同采取不同参数的结构系统，它只需要一个光栅，但要求被测物与光栅靠近；投影莫尔法需两个光栅，一个为投影光栅，一个为解调光栅。此法的特点是把投影光栅投影到物体上，因此可用小光栅测大物体，被测物与测量装置之间有较自由的工作距离。无论是阴影莫尔法还是投影莫尔法最后形成的莫尔轮廓分布都可写成I(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cosφ(1)的形式，｜(x,y)为莫尔轮廓光强分布，A(x,y)为背景光强，B(x,y)/A(x,y)为条纹对比度，φ为莫尔轮廓分布的相位，它包含了被测物体的轮廓信息。为了解调出相位φ，目前通常的方法是引入一定的相移量φ1、φ2、…φn(n≥3)得到一组方程I1(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(φ+φ1)I2(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(φ+φ2)(2)In(x,y)=A(x,y)+B(x,y)cos(φ+φn)从(2)中解得φ值。相移实现的方法一般为移动光栅或移动物体等，这些本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种莫尔相位解调方法，首先确立基准面或基准点以及计算所用坐标系，其次，对系统参数进行标定，本专利技术的特征是，对被测物进行测量，由各不同位置的光电传感器同时获取莫尔轮廓光场分布信息，再根据获取的莫尔轮廓光场分布信息，利用计算机对其进行处理并找出物体上同一点在各个光电传感器上得到的光强值，根据这些光强值计算得到该点的被测量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王昭，谭玉山，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]