一种芯片的封装方法技术

技术编号:23857230 阅读:57 留言:0更新日期:2020-04-18 11:47
本发明专利技术公开了一种芯片的封装方法,包括如下步骤:S01:将晶圆和玻璃圆片键合;S02:将键合之后的晶圆切割为N个芯片,N为大于0的正整数,所述芯片包括工作区域和键合pad;S03:将键合之后的玻璃圆片切割为N个封装层,且N个封装层与N个芯片一一对应;S04:将所述键合pad上方的封装层去除,并将所述键合pad引出。本发明专利技术提供的一种芯片的封装方法,通过先封装再背切晶圆的方法,不仅不影响封装后芯片的工作性能,还能延长芯片的使用寿命。

A method of chip packaging

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的封装方法
本专利技术涉及芯片封装领域,具体涉及一种芯片的封装方法。
技术介绍
芯片封装即安装半导体集成电路芯片用的外壳,具有安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用。芯片封装是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁,芯片的接点用导线连接到封装外壳的键合pad上,键合pad又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。对于CIS芯片,在封装过程中还要确保封装层不影响CIS芯片中的感光区域的感光性能。因此,对于CIS芯片的封装不仅要考虑封装功效,还要考虑到对于CIS芯片内部感光区域的保护。现有技术中CIS芯片的封装方法如附图1和附图2所示,包括如下步骤:S01:将晶圆11切割为N个CIS芯片12;S02:在CIS芯片12上采用焊接技术焊接键合pad;S03:在CIS芯片12中感光区域以及键合pad周围涂覆DAM胶层13,并通过DAM胶层13将CIS芯片12和封装层14进行键合。采用上述方法制备的封装CIS芯片的结构如附图2所示,上述封装方法具有如下缺陷:(1)由于采用DAM胶层进行CIS芯片和封装层的键合,DAM胶层采用高粘度不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS01:将晶圆和玻璃圆片键合;/nS02:将键合之后的晶圆切割为N个芯片,N为大于0的正整数,所述芯片包括工作区域和键合pad;/nS03:将键合之后的玻璃圆片切割为N个封装层,且N个封装层与N个芯片一一对应;/nS04:将所述键合pad上方的封装层去除,并将所述键合pad引出。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片的封装方法,其特征在于,包括如下步骤:
S01:将晶圆和玻璃圆片键合;
S02:将键合之后的晶圆切割为N个芯片,N为大于0的正整数,所述芯片包括工作区域和键合pad;
S03:将键合之后的玻璃圆片切割为N个封装层,且N个封装层与N个芯片一一对应;
S04:将所述键合pad上方的封装层去除,并将所述键合pad引出。


2.根据权利要求1所述的一种芯片的封装方法,其特征在于,所述芯片为CIS芯片,所述玻璃圆片为透明玻璃。


3.根据权利要求2所述的一种芯片的封装方法,其特征在于,所述步骤S01中采用透明胶将所述晶圆和玻璃圆片键合。


4.根据权利要求3所述的一种芯片的封装方法,其特征在于,所述透明胶包括光学透明胶。


5.根据权利要求3所述的一种芯片的封装方法,其特征在于,所述步骤S01中将透明胶均匀涂...

【专利技术属性】
技术研发人员:史海军温建新叶红波李梦
申请(专利权)人:上海集成电路研发中心有限公司成都微光集电科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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