【技术实现步骤摘要】
注入装置、三维存储器的制备装置及方法
本专利技术涉及半导体器件
,特别涉及一种注入装置、三维存储器的制备装置及方法。
技术介绍
电荷俘获型三维存储器(CTM)由于高存储密度,高稳定性和成熟的制备工艺而成为存储器闪存(flash)主流结构。三维存储器的沟道孔内在外延结构之前,需要对形成有沟道孔的晶圆结构进行冷却,然而冷却过程需要较长的时间,导致三维存储器的制备工作效率低,产率较低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种注入装置、三维存储器的制备装置及方法,以解决对形成有沟道孔的晶圆结构进行冷却,然而冷却过程需要较长的时间,导致三维存储器的制备工作效率低,产率较低的技术问题。本专利技术提供一种注入装置,包括:依次设置的至少一个分流器,每个所述分流器中均设有通孔,所述注入装置包括入口以及与所述入口相对设置的出口,在所述入口到所述出口的方向上,所述通孔的数量逐渐增加。其中,所述至少一个分流器形成环形结构,且所述环形结构为多层。其中,所述至少一个分流器为环形分流器。 >其中,当所述分流器本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种注入装置,其特征在于,包括:依次设置的至少一个分流器,每个所述分流器中均设有通孔,所述注入装置包括入口以及与所述入口相对设置的出口,在所述入口到所述出口的方向上,所述通孔的数量逐渐增加。/n
【技术特征摘要】
1.一种注入装置,其特征在于,包括:依次设置的至少一个分流器,每个所述分流器中均设有通孔,所述注入装置包括入口以及与所述入口相对设置的出口,在所述入口到所述出口的方向上,所述通孔的数量逐渐增加。
2.根据权利要求1所述的注入装置,其特征在于,所述至少一个分流器形成环形结构,且所述环形结构为多层。
3.根据权利要求1所述的注入装置,其特征在于,所述至少一个分流器为环形分流器。
4.根据权利要求1所述的注入装置,其特征在于,当所述分流器的数目大于或等于两个时,至少两个所述分流器上的通孔错位设置。
5.根据权利要求1所述的注入装置,其特征在于,在所述入口到出口的方向上,所述至少一个分流器的通孔的孔径逐渐减小。
6.一种三维存储器的制备装置,其特征在于,包括晶舟和如权利要求1-5任一项所述的注入装置,所述至少一个分流器与所述晶舟依次设置,且所述晶舟靠近所述注入装置的出口,所述晶舟用于承载所述三维存储器的晶圆结构。
7.一种应用如权利要求6所述的制备装置制备三维存储器的方法,其特征在于,包括:
提供依次设置的至少一个分流器与晶舟,其中,所述晶舟靠近所述注入装置的出口,所述晶舟内承载有多个晶圆结构,每个所述晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:邱宇渊,张珍珍,
申请(专利权)人:长江存储科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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