芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，方法包括获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；对获取的原始数据进行数据解析，以获得各个测试方法对应的测试结果；在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；根据模式选取指令，在模式选择区域选取至少一个测试方法；获取被选取的测试方法所对应的测试结果；在图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。本发明专利技术在芯片测试结果中使用图形用户界面将芯片测试的结果数据更加完整和直观展示在图形中，提高分析芯片测试结果数据的准确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统
本专利技术涉及在半导体集成电路测试领域，尤其涉及一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统。
技术介绍
成品的芯片和一整片晶圆上的芯片会存在各种各样的差异，为了让测试程序适用于这种差异，需要对一些比较敏感的测试项进行测试，找到适合该芯片的最佳设定。芯片测试会产生原始数据，再根据生成的原始数据对芯片进行各类分析和决策。但是现有技术中芯片测试方法获取的原始数据可读性和可编辑性差，并且芯片测试结果图相对简单，通常现有的芯片测试结果图只能展示单个结果，且存在功能缺失和无法编辑的缺点，因此，在分析芯片测试结果图时会产生误差。
技术实现思路
本专利技术提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，以至少解决现有技术中的以上技术问题中的一个或多个技术问题，或至少提供一种有益的选择。本专利技术的第一个方面，本专利技术提供一种芯片测试结果的显示方法，包括：获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及在所述图形用户界面(GraphicalUserInterface，简称GUI，又称图形用户接口，是指采用图形方式显示的计算机操作用户界面)的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。在一实施例中，还包括：获取被选取的测试方法对应的参数；以及在所述图形用户界面的参数显示区域显示获取的参数。在一实施例中，根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法，包括：根据模式选取指令，在所述模式选择区域显示的多个测试方法对应的图标中选取至少一个测试方法对应的图标。在一实施例中，所述在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：在所述结果显示区域显示被选取的一个测试方法对应的单次测试结果图形，所述单次测试结果图形包括单次测试的成功标记与失败标记。在一实施例中，所述在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：在所述结果显示区域显示被选取的多个测试方法对应的多次测试结果图形，所述多次测试结果图形包括多次测试的成功标记与失败标记的叠加效果。在一实施例中，所述方法还包括：通过应用程序编程接口(ApplicationProgrammingInterface，简称API，是一些预先定义的函数)，得到具有设定格式的所述原始数据。本专利技术的第二个方面，本专利技术提供一种芯片测试结果的显示设备，包括：数据获取模块，用于获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；数据解析模块，与所述测试模块连接，用于对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；图形用户界面模块，与所述数据解析模块连接，用于在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。在一实施例中，图形用户界面模块包括：参数获取单元，用于获取被选取的测试方法对应的参数；以及参数显示单元，用于在所述图形用户界面的参数显示区域显示获取的参数。在一实施例中，所述图形用户界面模块还包括：模式选取单元，用于根据模式选取指令，在所述模式选择区域显示的多个测试方法对应的图标中选取至少一个测试方法对应的图标。在一实施例中，所述图形用户界面模块还包括：第一结果显示单元，用于在所述结果显示区域显示被选取的一个测试方法对应的单次测试结果图形，所述单次测试结果图形包括单次测试的成功标记与失败标记。在一实施例中，所述图形用户界面模块还包括：第二结果显示单元，用于在所述结果显示区域显示被选取的多个测试方法对应的多次测试结果图形，所述多次测试结果图形包括多次测试的成功标记与失败标记的叠加效果。本专利技术的第三个方面，本专利技术提供一种测试系统，包括：测试设备，用于利用多个测试方法对芯片进行测试得到原始数据；显示设备，与所述测试设备连接，采用上述任一实施例所述的芯片测试结果的显示设备。在一实施例中，还包括：应用程序编程接口，与所述测试设备连接，所述测试设备通过所述应用程序编程接口，在对芯片进行测试的过程中生成具有设定格式的所述原始数据。本专利技术在芯片测试中使用图形用户界面将芯片测试的结果数据更加完整和直观展示在图形中，提高分析芯片测试的结果数据的准确性。上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本专利技术进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。附图说明在附图中，除非另外规定，否则贯穿多个附图相同的附图标记表示相同或相似的部件或元素。这些附图不一定是按照比例绘制的。应该理解，这些附图仅描绘了根据本专利技术公开的一些实施方式，而不应将其视为是对本专利技术范围的限制。图1为本专利技术实施例中芯片测试结果的显示方法的流程图。图2为本专利技术实施例中一个测试方法对应的单次测试结果图形。图3为本专利技术实施例中多个测试方法对应的多次测试结果图形。图4为本专利技术实施例中芯片测试结果的显示设备的连接示意图。图5为本专利技术实施例中图形用户界面模块的结果连接示意图。图6为本专利技术实施例中芯片测试结果的测试系统的连接示意图。附图标记：10模式选择区域；10a测试方法图标一；10b测试方法图标二；10c测试方法图标三；10d测试方法图标四；10e测试方法图标五；20结果显示区域；20a成功标记；20b失败标记；30参数显示区域；100显示设备；110数据获取模块；120数据解析模块；130图形用户界面模块；131模式选取单元；132参数选取单元；133参数显示单元；134第一结果显示单元；135第二结果显示单元；200测试设备；300应用程序编程接口。具体实施方式在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。实施例一本实施例提供了一种芯片测试结果的显示方法，参见图1和图2所示，包括：步骤S10：获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试结果的显示方法，其特征在于，包括：/n获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；/n对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；/n在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；/n根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；/n获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及/n在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试结果的显示方法，其特征在于，包括：
获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；
对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；
在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；
根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；
获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及
在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
获取被选取的测试方法对应的参数；以及
在所述图形用户界面的参数显示区域显示获取的参数。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在前述根据模式选取指令在所述模式选择区域选取至少一个测试方法的步骤中，包括：
根据模式选取指令，在所述模式选择区域显示的多个测试方法对应的图标中选取至少一个测试方法对应的图标。


4.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：
在所述结果显示区域显示被选取的一个测试方法对应的单次测试结果图形，所述单次测试结果图形包括单次测试的成功标记与失败标记。


5.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：
在所述结果显示区域显示被选取的多个测试方法对应的多次测试结果图形，所述多次测试结果图形包括多次测试的成功标记与失败标记的叠加效果。


6.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
通过应用程序编程接口，得到具有设定格式的所述原始数据。


7.一种芯片测试结果的显示设备，其特征在于，包括：
数据获取模块，用于获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；
数据解析模块，与所述测试模块连接，用于对获取的所述原始数据进行数...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34