一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法技术

本发明专利技术属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架顶部连接，另一端穿过探针组件与U型框架底部连接；探针组件包括测试探针定位板和测试探针；载物台与测试探针定位板固定连接；平台底座、器件固定底板以及导轨支架三者固定连接；本发明专利技术采用探针测试方式对芯片级器件进行测试，能够有效的接触被测器件的测试点，同时不会造成器件的短路，解决了原先对无外引出线的微小器件无法进行测试的问题。

A test platform for chip level devices without external leads and its application

【技术实现步骤摘要】
一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法
本专利技术属于自动化测试
，特别涉及一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法。
技术介绍
近年来随着电子产品的尺寸和功耗要求越来越小，产品内部的组成器件也越做越小，甚至出现了部分芯片级的器件(直径3mm以下)，这类器件大都没有外引出线，测试点或测试焊盘往往位于器件本体上，尺寸非常微小(直径1mm以下)，大多数的器件没有相应的测试平台，并且无法像一些有引出线的器件在端头进行夹测，使得这类器件无法有效的测试，从而不能对这类器件的参数及电性能进行判断。鉴于这种现状，以往遇见该类器件时，往往只能采取试用检验的方式，也就是组装前不对该类器件进行筛选测试，而是直接将器件装进整机电路中，根据整机的功能进行判断。这种情况下往往造成极大的隐患，甚至因为单个器件的失效，造成整机电路的故障，带来极大的经济损失。要想对无引出线芯片级器件进行有效的测试，测试器具的尺寸必须和这类器件测试点的尺寸处于同一数量级，甚至远远小于器件测试点的尺寸，而在晶圆测试中一种探针台测试法，但是这种单个电路的测试和工艺上晶圆的测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：测试平台包括导轨支架(1)、探针组件(2)、器件固定底板(3)以及平台底座(4)；/n所述导轨支架(1)包括一个载物台(17)、两根金属杆(14)以及一个U型框架(18)，载物台(17)活动设置在两根金属杆(14)上；两根金属杆(14)的一端与U型框架(18)的顶部连接，另一端穿过探针组件(2)与U型框架(18)底部连接；探针组件(2)设置在载物台(17)上；/n所述器件固定底板(3)包括L型定位调节板(31)、一字型定位调节板(32)、器件定位板(33)和底板(37)，L型定位调节板(31)和一字型定位调节板(32)活动设置在底板(37)上，...

【技术特征摘要】
1.一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：测试平台包括导轨支架(1)、探针组件(2)、器件固定底板(3)以及平台底座(4)；
所述导轨支架(1)包括一个载物台(17)、两根金属杆(14)以及一个U型框架(18)，载物台(17)活动设置在两根金属杆(14)上；两根金属杆(14)的一端与U型框架(18)的顶部连接，另一端穿过探针组件(2)与U型框架(18)底部连接；探针组件(2)设置在载物台(17)上；
所述器件固定底板(3)包括L型定位调节板(31)、一字型定位调节板(32)、器件定位板(33)和底板(37)，L型定位调节板(31)和一字型定位调节板(32)活动设置在底板(37)上，且将器件定位板(33)放置在探针组件(2)的下面；器件定位板(33)上设置有器件定位孔(331)；底板(37)固定连接在U型框架(18)的底部；
器件固定底板(3)和导轨支架(1)固定设置在平台底座(4)上。


2.根据权利要求1所述的一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：所述U型框架(18)的顶部设置有步进电机(11)，步进电机(11)通过轴链接器(12)与设置有螺纹的运行滑轨(13)的一端链接，运行滑轨(13)的另一端穿过载物台(17)和探针组件(2)与U型框架(18)的底部连接，且运行滑轨(13)随着步进电机(11)的转动而跟着转动。


3.根据权利要求2所述的一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：所述步进电机(11)连接有信号接收装置，信号处理装置以及信号发送装置。


4.根据权利要求1所述的一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于，所述探针组件(2)包括探针固定板(22)和测试探针(21)，测试探针(21)固定在探针固定板(22)上且测试探针(21)向外伸出，探针固定板(22)固定设置在载物台(17)上；测试探针定位板(2)与载物台(17)固定连接的方式包括：测试探针定位板(2)与载物台(17)上均设置有两个大小相同，间距相等的小孔，用两根长条型螺栓(15)穿过两个小孔，用两个螺帽(16)固定。


5.根据权利要求4所述的一种无外出引线芯片级器件测试平台，其特征在于：所述的探针固定板(22)的一侧设置有半圆形缺口，且测试探针(21)的尾部焊接在测试探针定位板(22)的半圆形缺口周围，测试探针(21)的探针向半圆形缺口的圆心位置伸出，针头向下；测试探针定位板(22)的半圆形缺口周围设置有测试线引出孔，一个测试线引出孔与一个测试探针(21)的尾部连接，测试线与测试线引出孔焊接，测试探针(21)通过测试线连接外部测试仪器。


6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡建荣，邱忠文，秦国林，罗俊，吴兆希，李晓红，谭骁洪，杨勇，杨迁，朱朝轩，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十四研究所，
类型：发明
国别省市：重庆;50