半导体器件制造技术

本实用新型专利技术提供了一种半导体器件，在衬底中的源区和漏区之间形成栅极结构以构成晶体管，然后在栅极结构的底部形成调整区，通过增加晶体管的沟道的掺杂浓度以在沟道内形成一个势垒，从而阻挡漏电流的通过，进而减小了沟道漏电流，同时，由于势垒并不是很高，在栅极结构上施加一个较低的电压就可以越过势垒，基本不会影响半导体器件的其他电学特性。

【技术实现步骤摘要】
半导体器件
本技术涉及半导体制造
，尤其涉及一种半导体器件。
技术介绍
动态随机存储器(DRAM)通常采用埋栅结构的晶体管，但是目前，在DRAM的制造过程中，还没有能够有效地降低埋栅结构的晶体管的沟道漏电流的方法。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种半导体器件，能够方便有效的降低晶体管的沟道漏电流，并且不影响半导体器件的其他电学特性。为了达到上述目的，本技术提供了一种半导体器件，包括：衬底，所述衬底中形成有源区及漏区；栅极结构，形成于所述源区和所述漏区之间的衬底中以构成晶体管；以及，调整区，位于所述栅极结构下方的衬底中，以增加所述晶体管的沟道的掺杂浓度。可选的，所述漏区和所述源区从所述衬底的表面延伸至所述衬底内的第一深度位置，所述栅极结构从所述衬底的表面延伸至所述衬底内的第二深度位置，所述第二深度位置更下沉于所述第一深度位置，以使沿着所述栅极结构的侧壁和底壁从所述源区至所述漏区之间的区域构成所述晶体管的沟道，所述调整区位于所述衬底的第二深度位置与第三深度位置之间，所述第三深度位置更下沉于所述第二深度位置。可选的，所述衬底中还形成有阱区，所述调整区位于所述阱区中。可选的，所述调整区的横向宽度尺寸小于所述栅极结构的横向宽度尺寸。可选的，所述调整区的横向宽度尺寸介于3nm～5nm。可选的，所述晶体管为N型晶体管时，所述调整区为P型掺杂以使所述晶体管的沟道的掺杂浓度增加。可选的，所述调整区掺杂的导电离子包括硼离子。可选的，所述调整区掺杂的导电离子的浓度介于1E12atoms/cm2～1E13atoms/cm2。在本技术提供的半导体器件中，在衬底中的源区和漏区之间形成栅极结构以构成晶体管，然后在栅极结构的底部形成调整区，通过增加晶体管的沟道的掺杂浓度以在沟道内形成一个势垒，从而阻挡漏电流的通过，进而减小了沟道漏电流，同时，由于势垒并不是很高，在栅极结构上施加一个较低的电压就可以越过势垒，基本不会影响半导体器件的其他电学特性。附图说明图1为本技术实施例提供的半导体器件的形成方法的流程图；图2-图6为本技术实施例提供的采用半导体器件的形成方法形成的半导体结构的剖面示意图；图中，附图标记为：1-衬底；11-阱区；12-深N阱；111-源区；112-漏区；113-调整区；13-沟槽隔离结构；2-栅极结构；21-栅极沟道；22-栅氧化层；23-栅电极层；24-绝缘层；3-掩膜层；31-掩膜材料层；H-调整区的横向宽度尺寸；h1-第一深度值；h2-第二深度值；h3-第三深度值。具体实施方式下面将结合示意图对本技术的具体实施方式进行更详细的描述。根据下列描述和权利要求书，本技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本技术实施例的目的。图6为本实施例提供的半导体器件的示意图，如图6所示，所述半导体器件包括：衬底1，所述衬底1中形成有源区111及漏区112；栅极结构2，形成于所述源区111和所述漏区112之间的衬底1中以构成晶体管；以及，调整区113，位于所述栅极结构2下方的衬底1中，以增加所述晶体管的沟道的掺杂浓度。具体的，请继续参阅图6，所述衬底1中形成有沟槽隔离结构13及若干有源区，所述沟槽隔离结构13隔离相邻的所述有源区，本实施例将以一个所述有源区中形成有两个晶体管为例进行详细说明，但应理解，本技术不限于所述有源区中有两个晶体管的情况，例如还可以有1个或两个以上。本实施例中，每个所述有源区包括两个源区111及一漏区112，所述有源区的衬底1中形成有两个栅极结构2，所述栅极结构2形成于所述衬底1且均位于所述源区111及所述漏区112之间以构成两个晶体管，可以理解的是，同一有源区中的两个晶体管分别使用与其相邻一个所述源区111，且共用所述漏区112。所述漏区112和所述源区111分别从所述衬底1的表面向所述衬底1的内部延伸至第一深度位置(即从衬底1表面向下延伸第一深度值h1的位置)，所述栅极结构从所述衬底的表面向所述衬底1的内部延伸至第二深度位置(即从衬底1表面向下延伸第二深度值h2的位置)，并且，所述第二深度位置更下沉于所述第一深度位置(第二深度值h2大于第一深度值h1)，以使所述栅极结构2的底部更下沉于所述源区111及所述漏区112，以构成所述晶体管的沟道，即沿着栅极结构2的侧壁和底壁从源区111至所述漏区112之间的区域。可选的，所述调整区113位于所述栅极结构2的下方，并且在所述晶体管的沟道中。所述调整区113通过增加晶体管的沟道的掺杂浓度，可以在晶体管的沟道内形成一个势垒以阻挡沟道漏电流的通过，同时由于势垒并不是很高，在栅极结构2上施加一个较低的电压就可以越过势垒，基本不会影响半导体器件的其他电学特性(例如阈值电压)。可选的，每个所述栅极结构2下方均形成有所述调整区113，且所述调整区113的侧边界不超过所述栅极结构2的侧边界，即所述调整区113的横向宽度尺寸H小于所述栅极结构2的横向宽度尺寸，可选的，本实施例中，所述调整区113的横向宽度尺寸H介于3nm～5nm。所述调整区113的顶面和底面可以分别位于所述第二深度位置和第三深度位置(即从衬底1表面向下延伸第三深度值h3的位置)，所述第三深度位置更下沉于所述第二深度位置(第三深度值h3大于第二深度值h2)，或者所述调整区113的顶面和底面也可以均位于所述第二深度位置和所述第三深度位置之间，只要能够实现增加晶体管的沟道的掺杂浓度即可，本技术不再一一举例。进一步，所述衬底1中还形成有一阱区11，本实施例中，所述阱区11为P阱，所述调整区113形成在所述阱区11中，所述阱区11中的离子掺杂浓度低于所述源区111和所述漏区112中的离子掺杂浓度。进一步的，所述阱区11的掺杂类型可根据所形成的晶体管的类型决定，例如，当所述晶体管为N型晶体管，则所述阱区11可相应的掺杂硼离子(B)。所述衬底1内还形成有一用于隔离的深阱区，本实施例中，所述深阱区为深N阱12，所述深N阱12形成于所述阱区11的下方，以将所述晶体管进行隔离，防止外部因素对所述晶体管造成干扰，或者防止不同有源区之间相互干扰，同时也防止所述晶体管干扰其他的外部器件。可选的，本实施例中，所述晶体管为N型晶体管，则所述调整区113为P型掺杂，即所述调整区113中掺杂的导电离子是P型离子(例如硼离子)以使所述晶体管的沟道的掺杂浓度增大。并且，所述调整区113的掺杂浓度越大，在所述晶体管的沟道形成的势垒越高，漏电流越不容易越过势垒，但同时，过高的势垒可能会影响晶体管的导通性能，所以本实施例中，所述调整区113中的掺杂的导电离子的浓度介于1E12atoms/cm2～1E13atoms/cm2。基于此，如图1所示，本技术还提供了一种半导体器件的形成方法，包括：S1：提供衬底，所述衬底中形成有源区及漏区；S2：形成栅极沟槽于所述源区和所述漏区之间的衬底中；S3：形成掩膜层于所述栅极沟槽的侧壁及部分底壁上，并以所述掩膜层为掩膜对所述栅极沟槽底部的衬底进行离子注入，以形成调整区于所述栅极沟槽下方；以及，S4：去除所述掩膜层并形成栅极结构于所述栅极沟槽中。具体的，请参阅图2，提供所述衬底1，所述衬底本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体器件，其特征在于，包括：衬底，所述衬底中形成有源区及漏区；栅极结构，形成于所述源区和所述漏区之间的衬底中以构成晶体管；以及，调整区，位于所述栅极结构下方的衬底中，以增加所述晶体管的沟道的掺杂浓度。

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件，其特征在于，包括：衬底，所述衬底中形成有源区及漏区；栅极结构，形成于所述源区和所述漏区之间的衬底中以构成晶体管；以及，调整区，位于所述栅极结构下方的衬底中，以增加所述晶体管的沟道的掺杂浓度。2.如权利要求1所述的半导体器件，其特征在于，所述漏区和所述源区从所述衬底的表面延伸至所述衬底内的第一深度位置，所述栅极结构从所述衬底的表面延伸至所述衬底内的第二深度位置，所述第二深度位置更下沉于所述第一深度位置，以使沿着所述栅极结构的侧壁和底壁从所述源区至所述漏区之间的区域构成所述晶体管的沟道，所述调整区位于所述衬底的第二深度位置与第三深度位置之间，所述第三深度位置更下沉于所述第二深度位置。3.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：周步康，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34