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半导体器件制造技术
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文档序号:20687604
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本实用新型提供了一种半导体器件,在衬底中的源区和漏区之间形成栅极结构以构成晶体管,然后在栅极结构的底部形成调整区,通过增加晶体管的沟道的掺杂浓度以在沟道内形成一个势垒,从而阻挡漏电流的通过,进而减小了沟道漏电流,同时,由于势垒并不是很高,在...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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