电子元件包装载带检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子元件包装载带检测方法及装置。该电子元件包装载带检测方法包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当所述检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，压盖被驱动上移与检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种检测方法及装置，尤指一种用以在将电子元件置入包装用载带后，对载带中待包装的电子元件进行合格产品或不合格产品检测的电子元件包装载带检测方法及装置。
技术介绍
一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，且为取得加工定位的准确性，常将电子元件在检测后以具有连续排列的多个载槽的包装用载带进行包装；电子元件在进行检测的流路中要被置入载带的搬送流路中，一般通常具有许多不同的方式，例如在检测的流路与载带的搬送流路间设通道并以气压吹送，或在检测的流路与载带的搬送流路间设可位移于两个流路间进行搬送的搬送机构；这些被置入包装用载带的电子元件为了避免仍有瑕疵未受检出，通常会在载带输送过程中以检测装置如CCD对载带的搬送流路中一开放性的检测区间中电子元件进行检测，经检出该电子元件仍为不合格产品时，则予以移出载带并对遗留的空载槽进行补料。现有技术在进行对移出不合格品后遗留的空载槽进行补料时，常采用一移载机构进行，其先移至不合格产品检出的载带处将不合格产品取出并置入卸料口予以排出，再位移至检测流路入料于载带搬送流路的入料口处，将电子元件取出，再将其搬运至载带的搬送流路中缺料的载槽进行补料。然而，现有技术在载带输送过程中以检测装置如CCD对载带的搬送流路中一开放性的检测区间中电子元件进行检测，由于被载带搬送的待包装电子元件通常极微细，在包装机台经年累月的操作下，灰尘容易沾附在机台表面上，而自开放性的检测区间中飘入载带盛载电子元件的置纳槽中，使其中的待包装电子元件同时积有粉尘，另一方面，因该检测区间为开放性，待包装电子元件输送到该处时容易弹跳发生落料情况；惟若在开放性的检测区间上设置盖板以遮覆该开放性的检测区间，则因遇到被搬送到检测区间的待包装电子元件为不合格产品时，将因被盖板遮覆而无法以检测装置进行检测，且移载机构无法自该被遮覆的检测区间将不合格产品检出并补料。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于提供一种在可防尘、防落料的考量下，适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料的电子元件包装载带检测方法。本专利技术的另一目的，在于提供一种在可防尘、防落料的考量下，适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料的电子元件包装载带检测装置。本专利技术的又一目的，在于提供一种用以执行前述电子元件包装载带检测方法的装置。依据本专利技术目的的电子元件包装载带检测方法，包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当所述检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，压盖被驱动上移与检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。依据本专利技术另一目的的电子元件包装载带检测装置，包括：一检测件，设于一载带装置中，该载带装置上以设有置纳槽的载带提供直线的间歇搬送流路，并以所述置纳槽搬送待包装元件；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，所述检测件对该检测区间进行检测；一压盖，其上设有透明材质遮罩所构成的视窗，其位于该检测件下方，并恰对应于该检测区间上方；压盖被一驱动件驱动可作上、下位移；检测件可经由压盖上视窗对该检测区间进行检测。依据本专利技术又一目的的电子元件包装载带检测装置，包括用以执行前述电子元件包装载带检测方法的装置。本专利技术实施例的电子元件包装载带检测方法及装置，由于在正常状态下，压盖是随移载座被驱动件驱动下移而覆罩在镂空的检测区间处，故检测区间中载带的置纳槽内待包装元件可以防止被粉尘沾染，而检测件的CCD镜头亦可经由压盖上透明材质遮罩所构成的视窗对该检测区间中的载带的置纳槽内待包装元件进行检测；当检测出该检测区间中载带的置纳槽中具有不合格的待包装元件时，压盖可以被驱动上移以提供足够供移载机构的操作臂及吸嘴进行不合格的待包装元件检出，及将供补料用的待包装元件植入置纳槽中；使在防尘、防落料的考量下，又适于检测装置在该检测区间进行检测，并适于移载装置在该检测区间进行不合格的待包装元件检出及补料。附图说明为让本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本专利技术的具体实施方式作详细说明，其中：图1是本专利技术实施例中各机构装置在检测台面上配置的立体示意图。图2是本专利技术实施例中入料口处强排机构设置的立体示意图。图3是本专利技术实施例中移载机构的立体示意图。图4是本专利技术实施例中检测装置前侧的立体示意图。图5是本专利技术实施例中检测装置后侧的立体示意图。图6是本专利技术实施例中移载机构进行检出步骤的示意图。图7是本专利技术实施例中移载机构进行卸料步骤的示意图。图8是本专利技术实施例中移载机构进行取料步骤的示意图。图9是本专利技术实施例中检测装置的压盖覆罩在检测区间的示意图。图10是本专利技术实施例中检测装置的压盖上移的示意图。符号说明：A 工作台面 A1 卸料口A2 座架 B 转盘B1 载槽 B2 上盖片B21 检料区 C 载带装置C1 载带 C11 置纳槽C2 盖件 C21 检测区间C3 检测装置 C31 检测座架C32 载座 C33 检测件C34 承载座 C341 滑轨C35 移载座 C36 驱动件C361 连动件 C37 压盖架C371 长槽孔 C372 螺固件C373 压盖 C374 视窗C38 照明架 C381 长槽孔C382 螺固件 C383 照明座C384 LED光源 C4 入料口D 强排机构 D1 排出构件E 移载机构 E1 第一驱动件E11 驱动座 E12 第一连动件E13 第一滑轨 E131 滑座E132 固定座 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件包装载带检测方法，包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；该压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当该检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，该压盖被驱动上移与该检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。

【技术特征摘要】
2015.05.12 TW 1041151251.一种电子元件包装载带检测方法，包括：使待包装元件由一间歇旋转流路被搬送，并经由一入料口进入一形成直线的间歇搬送流路的载带的置纳槽中；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，并在该检测区间设有检测装置；该检测装置设有检测件及可上、下位移的压盖；该压盖在正常状态下保持覆盖该检测区间，当该检测装置的检测件在检测区间检出不合格的待包装元件时，该压盖被驱动上移与该检测区间保持一适当高度，使一移载装置可将该不合格的待包装元件检出，并补料至该检测区间中载带的置纳槽。2.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该压盖与设有LED光源的一照明座同步上、下位移。3.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该检测件经该压盖上一透明材质遮罩所构成的视窗对该检测区间进行检测。4.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该入料口由直线的间歇搬送流路与该间歇旋转流路交汇而形成；移载装置自位于间歇旋转流路顺向到达该入料口的前的一捡料区取出待包装元件，并移送至该检测区间进行补料。5.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该移载装置将不合格的待包装元件检出后，使该待包装元件执行一弧形路径的位移而移至一卸料口处卸除该不合格的待包装元件。6.如权利要求1所述的电子元件包装载带检测方法，其特征在于，该移载机构将不合格的待包装元件检出并至捡料区取料的位移路径，与完成取料自捡料区返回至检测区间补料的位移路径相同、方向相反。7.一种电子元件包装载带检测装置，包括：一检测件，设于一载带装置中，该载带装置上以设有置纳槽的载带提供直线的间歇搬送流路，并以该置纳槽搬送待包装元件；该直线的间歇搬送流路中形成一检测区间，该检测件对该检测区间进行检测；一压盖，其上设有透明材质遮罩所构成的视窗，其位于该检测件下方，并恰对应于该检测区间上方；该压盖被一驱动件驱动可作上、下位移；该检测件可经由该压盖上视窗对该检测区间进行检测。8.如权利要求7所述的电子元件包装...

【专利技术属性】
技术研发人员：王安田，黄清泰，林芳旭，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71