一种宽视角模式TFT基板制备方法技术

技术编号:13989505 阅读:50 留言:0更新日期:2016-11-13 14:50
本发明专利技术公开了一种宽视角模式TFT基板制备方法。所述方法包括:在基板上沉积Gate层的工序;采用CVD工艺,沉积岛层的工序;沉积第一ITO层的工序;沉积源极漏极层的工序;采用PECVD工艺,沉积PA层的工序;在本工序中,包括:以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,以及以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;沉积第二ITO层的工序。应用本发明专利技术技术方案,能够在制备过程中避免将第一ITO层还原,进而可以保护第一ITO层的电学和光学性能,同时可以提升TFT基板的透过率,从而减小TFT显示器的功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体器件制备和显示领域,特别是涉及一种宽视角模式TFT基板制备方法
技术介绍
TFT LCD(Thin-Film-Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示器)由于其高速度、高亮度、高对比度等优点,目前已经得到普遍的应用。TFT基板的模式有很多,较常见的有TN、IPS、MVA等。TN模式,响应速度最快,但色彩最差,可视角度相对较小,成本低,主要应用在显示器和小型电视领域。宽视角模式的TFT基板,视角可达170°以上,以IPS模式为典型,可视角度相对较高,响应速度较快,色彩准确,成本适中。传统技术中,宽视角模式的TFT基板在制备过程中需要先后经过多道工序,分别以制作不同的材料膜层,包括Gate层、岛层、D/S(源极漏极)层、第一ITO层、PA(保护层)、第二ITO层。有一些非金属材料膜层的制作是采用CVD(Chemical Vapor Deposition,化学气相沉积)工艺,例如用PECVD法沉积PA。专利技术人在研究中发现,传统技术至少具有下列问题:在使用PECVD制作PA层的工序中,形成PA层的工艺气体会形成等离子体,其中又包含了大量的H离子和电子,H离子和这些电子可能会与基板裸露的第一ITO层发生还原反应,从而影响最终宽视角TFT基板成品第一ITO层的电学和光学性能,降低成品良率。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种宽视角模式TFT基板制备方法,能够在PECVD法制备PA的工序中,降低H离子和电子与裸露的第一ITO层发生还原反应的几率,从而提升TFT基板成品整体上的良率。一种宽视角模式TFT基板制备方法,包括:在基板上沉积Gate层的工序;采用CVD工艺,沉积岛层的工序;沉积第一ITO层的工序;沉积源极漏极层的工序;采用PECVD工艺,沉积PA层的工序;在本工序中,包括:以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,以及以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;沉积第二ITO层的工序。在一个实施例中,所述采用PECVD工艺,沉积PA层的工序包括:经过本工序前述工序的基板进入PECVD工艺腔室;通过等离子体清洁气体进行清洁;通过本工序的工艺气体,以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层;以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;对经过前述步骤的基板进行优化除静电;从所述PECVD工艺腔室中移出基板。在一个实施例中,在所述以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层的步骤中:产生等离子体的射频电源功率为800~1500W;所述工艺气体包括N2、NH3、SiH4,气体流量分别为6000sccm、2000sccm、220sccm,所述PECVD腔室内压力为1200mTorr。在一个实施例中,沉积的第一PA层的厚度为200~300A。在一个实施例中,在所述以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层的步骤中:产生等离子体的射频电源功率为2500~3500W;所述工艺气体包括N2、NH3、SiH4,气体流量分别为7850sccm、3360sccm、750sccm,所述PECVD腔室内压力为1500mTorr。在一个实施例中,所述等离子体清洁气体为N2、NH3或其混合气体等离子体;在进行清洁的过程中,所述PECVD腔室内的压力值为1500mTorr,气流量为1500sccm,产生等离子体的射频电源功率为300~500W。在一个实施例中,所述对经过前述步骤的基板进行优化除静电的步骤,包括:通过H2,气流量为800sccm,所述PECVD腔室压力为1500mTorr,利用射频电源产生等离子体进行除静电。在一个实施例中,所述在基板上沉积Gate层的工序,所述沉积第一ITO层的工序,所述沉积源极漏极层的工序,以及所述沉积第二ITO层的工序,采用PVD成膜工艺。上述宽视角模式TFT基板制备方法,在采用PECVD工艺,沉积PA层的工序当中,先以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,使得等离子气体中H离子和电子具备较低的能量,从而抑制了H离子和电子与裸露的第一ITO层发生还原反应,从而保证了第一ITO层和第二ITO层之间的电场和光学性能,提升了TFT基板的良率。附图说明图1为一个实施例中的宽视角模式TFT基板制备方法的流程示意图;图2为一个实施例中的宽视角模式TFT基板的结构示意图;图3为一个实施例中沉积PA层工序的流程示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。参见图1和图2,在一个实施例中提供了一种宽视角模式TFT基板制备方法,包括:101,在基板上沉积Gate层的工序。具体的,可采用PVD(Physical Vapor Deposition,物理气相沉积)成膜工艺,在基板20上沉积金属,经工艺处理得到Gate图案21。102,采用CVD工艺,沉积岛层的工序。具体的,岛(Island)层为非金属膜层,包括G-SiNx(图2中221)、a-Si(图2中区域222)、n+a-Si(图2中223)。103,沉积第一ITO层的工序。具体的,采用PVD沉积ITO,第一ITO如图2中23。104,沉积源极漏极层的工序。具体的,在前述基础上,沉积金属层,经工艺处理得到源极漏极(S/D)图案24。105,采用PECVD工艺,沉积PA层的工序。具体的,PA层即图2中的25,为非金属层。工艺为PECVD工艺。由于第一ITO层为裸露的(源极漏极层不覆盖第一ITO层),为避免等离子体中的H离子和电子与第一ITO层(含有In2O3、SnO2)发生还原反应,本工序,先以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,再以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层。106,沉积第二ITO层的工序。具体的,第二ITO层为图2中26,采用PVD成膜工艺。上述宽视角模式TFT基板制备方法,在采用PECVD工艺,沉积PA层的工序当中,先以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,使得等离子气体中H离子和电子具备较低的能量,从而抑制了H离子和电子与裸露的第一ITO层发生还原反应,从而保证了第一ITO层和第二ITO层之间的电场和光学性能,提升了TFT基板的良率。在图3实施例中,采用PECVD工艺,沉积PA层的工序包括:301,经过本工序前述工序的基板进入PECVD工艺腔室。302,通过等离子体清洁气体进行清洁。等离子清洁气体主要作用是抑制膜内,不能与第一ITO层进行反应,可以从后续的工艺气体中优选,例如等离子体清洁气体为N2、NH3或其混合气体等离子体。在进行清洁的过程中,PECVD腔室内的压力值为1500mTorr,气流量为1500sccm,产生等离子体的射频电源功率为300~500W。303,通过本工序的工艺气体,进行P本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种宽视角模式TFT基板制备方法,其特征在于,所述方法包括:在基板上沉积Gate层的工序;采用CVD工艺,沉积岛层的工序;沉积第一ITO层的工序;沉积源极漏极层的工序;采用PECVD工艺,沉积PA层的工序;在本工序中,包括:以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,以及以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;沉积第二ITO层的工序。

【技术特征摘要】
1.一种宽视角模式TFT基板制备方法,其特征在于,所述方法包括:在基板上沉积Gate层的工序;采用CVD工艺,沉积岛层的工序;沉积第一ITO层的工序;沉积源极漏极层的工序;采用PECVD工艺,沉积PA层的工序;在本工序中,包括:以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层,以及以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;沉积第二ITO层的工序。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采用PECVD工艺,沉积PA层的工序包括:经过本工序前述工序的基板进入PECVD工艺腔室;通过等离子体清洁气体进行清洁;通过本工序的工艺气体,以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层;以另一相对较高的功率将所述工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第二PA层;对经过前述步骤的基板进行优化除静电;从所述PECVD工艺腔室中移出基板。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述以一相对较低的功率将本工序的工艺气体解离成等离子体,进行反应沉积为第一PA层的步骤中:产生等离子体的射频电源功率为800~1500W;所述工艺气体包括N2、NH3、SiH4,气体流量分别为6000sccm、2000sccm、220...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱东梅刘力明邓泽新黄伟东李建华
申请(专利权)人:信利惠州智能显示有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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