一种瓷片平面度检测方法及装置制造方法及图纸

一种瓷片平面度检测方法及装置，其特征在于包括设置在瓷砖输送装置两侧的水平设置的上直线导轨、下直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的竖直线导轨、与瓷砖对角方向对应的斜向直线导轨和滑动设置在各直线导轨上的激光位移传感器，激光位移传感器的检测方向向下，各直线导轨上的激光位移传感器由电动动力机构带动移动。本发明专利技术与已有技术相比，具有无需要校准的、不容易漏检瓷砖变形情况的优点。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】
:本专利技术涉及一种陶瓷加工技术。
技术介绍
:传统瓷砖平面检测设备都是以5~7个激光位移传感器来进行平整度检测，传感器以一定间隔固定在横梁上，瓷砖通过后，通过计算得到瓷砖的平整度。此种方式校准困难，容易漏检一部分瓷砖的变形数据。
技术实现思路
:本专利技术的专利技术目的在于提供一种无需要校准的、不容易漏检瓷砖变形情况的瓷片平面度检测方法及装置。本专利技术瓷片平面度检测方法是这样实现的，在瓷砖输送过程中分别用数个沿直线导轨移动的激光位移传感器沿瓷砖的四边及对角连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，依据距离参数获得相应的线段，依据各线段的平直度就能获得四边表面及对角表面的平整度，依据这些平整度就能判别瓷砖的变形情况。由于激光位移传感器沿直线导轨移动的轨迹是一条直线，如果瓷砖表面是平直的，那么连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离所获得的线段也应该是一条直线，若线段的某个部分偏离了直线，则说明该部分所对应的瓷砖表面已经是变形了，这样，就无需要已有技术所必须要的校准，就能对瓷砖的平整度进行检测，而且，由于是连续的检测，因此，不容易漏检瓷砖变形情况。本专利技术的瓷片平面度检测装置是这样实现的，包括设置在瓷砖输送装置两侧的水平设置的上直线导轨、下直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的竖直线导轨、与瓷砖对角方向对应的斜向直线导轨和滑动设置在各直线导轨上的激光位移传感器，激光位移传感器的检测方向向下，各直线导轨上的激光位移传感器由电动动力机构带动移动。工作时，呈正方形状或者长方形状的瓷砖以其中两边平行于瓷砖输送方向的姿态在瓷砖输送装置带动下，到达本专利申请的装置的下面，在电动动力机构的带动下，各直线导轨上的激光位移传感器沿各自的直线导轨移动并连续监测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，所获得的距离参数传输到电脑控制装置上并在电脑上生成线段，依据线段的形态获得线段的直线度及预设在电脑内的判别标准，判别该线段所对应的瓷砖表面的变形度，进而判别瓷砖的质量等级及瓷砖表面特性。这里，为了避免各激光位移传感器工作时的相互干扰，与瓷砖两对角方向对应的两斜向直线导轨分别设置在瓷砖输送方向上的前后两个位置上。本专利技术与已有技术相比，具有无需要校准的、不容易漏检瓷砖变形情况的优点。【附图说明】:图1为本专利技术实施例1的结构示意图；图2本专利技术实施例2的结构示意图。【具体实施方式】:现结合附图和实施例对本专利技术做进一步详细描述: 实施例一:如图1所示，本专利技术的瓷片平面度检测装置是这样实现的，包括设置在瓷砖输送装置I两侧的水平设置的上直线导轨a、下直线导轨b、垂直于瓷砖输送方向A的两竖直线导轨c、d、与瓷砖对角方向B、D对应的斜向直线导轨e、f和滑动设置在各直线导轨上的激光位移传感器2，激光位移传感器2的检测方向向下，各直线导轨上的激光位移传感器2由电动动力机构3带动移动。这里，直线导轨上滑动设置一由电动动力机构3带动的活动机架4，活动机架4飘出到瓷砖5的上方，激光位移传感器2设置在飘出的活动机架4上，这样，就有效地避免直线导轨横置在瓷砖的上方，使各激光位移传感器2检测时相互干扰。实施例二:如图2所示，本实施例是在实施例一德基础上，设置在瓷砖输送装置I其中一侧的水平设置的带有激光位移传感器2的上直线导轨a、垂直于瓷砖输送方向A的其中一带有激光位移传感器2的竖直线导轨c和与瓷砖其中一对角方向B对应的带有激光位移传感2的斜向直线导轨e为第一组，设置在瓷砖输送装置I另一侧的水平设置的带有激光位移传感器2的上直线导轨b、垂直于瓷砖输送方向A的另一带有激光位移传感器2的竖直线导轨d和与瓷砖另一对角方向D对应的带有激光位移传感2的斜向直线导轨f为第二组，第一组、第二组分别位于瓷砖输送方向上的前后两个位置上。【主权项】1.一种瓷片平面度检测方法，其特征在于在瓷砖输送过程中分别用数个沿直线导轨移动的激光位移传感器沿瓷砖的四边及对角连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，依据距离参数获得相应的线段，依据各线段的平直度就能获得四边表面及对角表面的平整度，依据这些平整度就能判别瓷砖的变形情况。2.—种瓷片平面度检测装置，其特征在于包括设置在瓷砖输送装置两侧的水平设置的上直线导轨、下直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的竖直线导轨、与瓷砖对角方向对应的斜向直线导轨和滑动设置在各直线导轨上的激光位移传感器，激光位移传感器的检测方向向下，各直线导轨上的激光位移传感器由电动动力机构带动移动。3.根据权利要求2所述的瓷片平面度检测装置，其特征在于与瓷砖两对角方向对应的两斜向直线导轨分别设置在瓷砖输送方向上的前后两个位置上。4.根据权利要求3所述的瓷片平面度检测装置，其特征在于设置在瓷砖输送装置其中一侧的水平设置的带有激光位移传感器的上直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的其中一带有激光位移传感器的竖直线导轨和与瓷砖其中一对角方向对应的带有激光位移传感的斜向直线导轨为第一组，设置在瓷砖输送装置另一侧的水平设置的带有激光位移传感器的上直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的另一带有激光位移传感器的竖直线导轨和与瓷砖另一对角方向对应的带有激光位移传感的斜向直线导轨为第二组，第一组、第二组分别位于瓷砖输送方向上的前后两个位置上。【专利摘要】一种瓷片平面度检测方法及装置，其特征在于包括设置在瓷砖输送装置两侧的水平设置的上直线导轨、下直线导轨、垂直于瓷砖输送方向的竖直线导轨、与瓷砖对角方向对应的斜向直线导轨和滑动设置在各直线导轨上的激光位移传感器，激光位移传感器的检测方向向下，各直线导轨上的激光位移传感器由电动动力机构带动移动。本专利技术与已有技术相比，具有无需要校准的、不容易漏检瓷砖变形情况的优点。【IPC分类】G01B11/30【公开号】CN105203053【申请号】CN201510646060【专利技术人】杨扬 【申请人】广东赛因迪科技股份有限公司【公开日】2015年12月30日【申请日】2015年10月9日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种瓷片平面度检测方法，其特征在于在瓷砖输送过程中分别用数个沿直线导轨移动的激光位移传感器沿瓷砖的四边及对角连续检测瓷砖表面到激光位移传感器间的距离，依据距离参数获得相应的线段，依据各线段的平直度就能获得四边表面及对角表面的平整度，依据这些平整度就能判别瓷砖的变形情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨扬，
申请(专利权)人：广东赛因迪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44