壳盖密封配合后腔体平整度的检测方法技术

本发明专利技术涉及一种壳盖密封配合后腔体平整度的检测方法，其特征是：采用多条线性光线分点照射壳盖密封配合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度比较的检测其平整度方法。本发明专利技术的优点：方法易于实现：只需要配置线状红光激光源和摄像系统，就可以实现壳盖密封配合后腔体平整度的检测；检测稳定；检测精度高；适合在自动化应用：可以通过ＰＬＣ、工控机的自动控制部件对摄像系统的动作和信号进行采集和控制，从而实现自动控制应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于腔体激光密封工艺，尤其涉及一种适用于制造笔记本电池、汽 车动力电池、超级电容器进行腔体激光密封时，壳盖密封配合后腔体平整度 的4企测方法。 '
技术介绍
笔记本电池、汽车动力电池、超级电容器等都是属于腔体密封产品。这 些产品的腔体基本上都是由壳、盖通过激光焊接构成。由于腔体的内部放置 有液体材料，为了防止液体材料从腔体内部泄露到腔体外，必须严格保证腔 体具有良好的密封性。在腔体密封产品的生产装配过程中，腔体密封之前安排有扣盖工序该工序是将盖装配到壳体上。扣盖效果好坏直接影响着激光 密封焊接工序的焊接效果。扣盖完成后，如果盖与壳配合不好，则在焊接过 程中，就会产生焊漏、焊接强度低等问题，从而产生废品。因此腔体密封在 焊接工序之前，设有检测腔体平整度工序，需要对产品的扣盖效果进行检测， 将扣盖不合格产品先挑选出来，重新进行扣盖装配，再进行激光焊接，以避 免废品的产生。腔体密封产品壳盖配合平整度不良，即扣盖不良， 一般有以 下几种情况盖与壳口面不平行，呈一定角度；盖与壳口平行，但盖整体高 于或者低于壳口。无论是那种扣盖不良，盖与壳口必然形成有一处或多处高 度落差。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中的不足，提供一种壳盖密封配合后腔体平 整度的检测方法，可以有效地检测出腔体密封产品的盖与壳是否配合良好， 从而避免废品的产生。本专利技术为实现上述目的，通过以下技术方案实现 一种壳盖密封配合后 腔体平整度的检测方法，其特征是采用多条线性光线分点照射壳盖密封配 合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度比较的检测其平整度方法。所述采用多条线性光线分点照射的检测平整度方法是采用两个或两个3以上的线状红光激光源照射在壳盖密封配合后腔体表面上形成两条或多条的激光线，在激光线的连接处，激光线交叉形成6角，通过摄像系统将e角值读取并与设定的角度值比较的检测平整度方法，具体步骤1、 在壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统，在其上方侧边各固定 有红光激光光源；2、 红光激光光源发出线状红光激光，分别照射在密封腔体的盖和壳的壳 口上；3、 摄像系统对线状红光激光分别照射在密封腔体盖和壳上的图像进行摄 像；4、 摄像系统将读取的e角逐一和系统设定的角度值进行比较，如果有一 个或多个e角比系统设定的角度值大，则摄像系统判定此腔体密封产品扣盖 不良，并输出相应信号；5、 将平整度检测完成的腔体转移到激光焊接工序，激光器根据摄像系统 的判定结果，选择激光焊接或者激光不焊接。本专利技术的优点1. 方法易于实现只需要配置线状红光激光源和摄像系统，就可以实现 壳盖密封配合后腔体平整度的检测；2. 检测稳定激光是最稳定的光源，发散角小。光是直线传播，因此， 光在密封腔体表面形成的光线稳定。摄像系统的检测过程是先照相，然后对 所拍摄的相片进行取样比较检测，即能避免检测过程中由于外部环境变化对 检测精度的影响；3. 检测精度高采用最稳定的激光光源及高精度像素的摄像系统保证了 系统的检测精度；4. 适合在自动化应用可以通过PLC、工控机的自动控制部件对摄像系 统的动作和信号进行采集和控制，从而实现自动控制应用。附图说明图l是本专利技术的结构原理图2是密封腔体上的光线示意图3是密封腔体表面上的局部光线示意图4是本专利技术的摄像系统取像示意图。具体实施例方式以下结合较佳实施例，对依据本专利技术提供的具体实施方式详述如下。 详见附图， 一种，采用多条线性 光线分点照射壳盖密封配合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度 比较的检测其平整度方法。所述釆用多条线性光线分点照射的检测平整度方法是采用两个或两个以上的线状红光激光源照射在壳盖密封配合后腔体表面上形成两条或多条的激光线，在激光线的连接处，激光线交叉形成e角， 通过摄像系统将e角值读取并与设定的角度值比较的检测平整度方法，具体步骤1、 在壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统，在其左上方和右上方各固定有红光激光光源3;2、 红光激光光源发出线状红光激光5，分别照射在密封腔体的盖2和壳1 的壳口上，如果腔体密封产品盖2和壳1的高度一致，则照射在腔体密封产 品盖2上的激光5-l和照射在腔体密封产品壳1上的激光5-2在同一直线上。 如果腔体密封产品盖2和壳1的高度不一致，则照射在腔体密封产品盖2上 的激光5-1和照射在腔体密封产品壳1上的激光5-2形成6角；3、 摄像系统4对线状红光激光分别照射在密封腔体盖和壳上的图像进行 摄像,摄像系统4对所摄图像中，腔体密封产品盖2和壳1的激光交接处4-1、 4-2、 4-3、 4-4的6角进行读耳又；4、 摄像系统将读取的6角逐一和系统设定的角度值进行比较，如果有一 个或多个6角比系统设定的角度值大，则摄像系统判定此腔体密封产品扣盖 不良，并输出相应信号；5、 将平整度检测完成的腔体转移到激光焊接工序，激光器根据摄像系统 的判定结果，选择激光坪接或者激光不焊接。在实际生产中，可以根据现场实际情况选择线状红光激光源的数量。线 状激光源也可以是其他颜色可见光激光源。以上所述，仅是本专利技术的较佳实施例而已，并非对本专利技术的结构作任何 形式上的限制。凡是依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何筒单修 改、等同变化与修饰，均仍属于本专利技术的技术方案的范围内。权利要求1、一种，其特征是采用多条线性光线分点照射壳盖密封配合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度进行比较的检测其平整度方法。2、 根据权利要求1所述的，其特 征是所述采用多条线性光线分点照射的检测平整度方法是采用两个或两 个以上的线状激光源，照射在壳盖密封配合后腔体表面上形成两条或多条的激光线，在激光线的连接处，激光线交叉形成e角，通过摄像系统将e角值读取并与设定的角度值比较的检测平整度方法，具体步骤(1) 、在壳盖密封配合后腔体的正上方固定摄像系统，在上方侧边各固 定有红光激光光源；(2) 、红光激光光源发出线状红光激光，分别照射在密封腔体的盖和壳 的壳口上；(3) 、摄像系统对线状红光激光分别照射在密封腔体盖和壳上的图像进 行摄像；(4) 、摄像系统将读取的e角逐一和系统设定的角度值进行比较，如果 有一个或多个e角比系统设定的角度值大，则摄像系统判定此腔体密封产品扣盖不良，并输出相应信号；(5) 、将平整度检测完成的腔体转移到激光焊接工序，激光器根据摄像 系统的判定结果，选择激光焊接或者激光不焊接。全文摘要本专利技术涉及一种，其特征是采用多条线性光线分点照射壳盖密封配合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度比较的检测其平整度方法。本专利技术的优点方法易于实现只需要配置线状红光激光源和摄像系统，就可以实现壳盖密封配合后腔体平整度的检测；检测稳定；检测精度高；适合在自动化应用可以通过PLC、工控机的自动控制部件对摄像系统的动作和信号进行采集和控制，从而实现自动控制应用。文档编号G01B11/26GK101566467SQ20091006843公开日2009年10月28日 申请日期2009年4月10日 优先权日2009年4月10日专利技术者吉跃华, 张明昆, 杨振昱 申请人:天津力神电池股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种壳盖密封配合后腔体平整度的检测方法，其特征是：采用多条线性光线分点照射壳盖密封配合后腔体表面上，读取光线交叉角与设定阈值角度进行比较的检测其平整度方法。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吉跃华，张明昆，杨振昱，
申请(专利权)人：天津力神电池股份有限公司，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]