【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种背光源平整度检测系统及检测方法。
技术介绍
随着显示技术的快速发展，目前对显示装置的要求也越来越高，背光源作为显示装置的重要组成部分，为显示面板提供光源。背光源在制作过程中容易发生正翘或逆翘，即背光源不平整，而背光源的平整度显著地影响着显示装置的显示质量。现有技术通常采用三次元、高度规或厚薄规对背光源平整度进行检测。然而，三次元和高度规设备价格昂贵，操作相对麻烦，且操作复杂，需要经过专业培训才可以操作。厚薄规是将片状量规插入到背光源和工作台的结合面之间的多个间隙中，通过厚薄规读出各个间隙的大小，从而判断背光源的平整度。由于片状量规插入到背光源和工作台的结合面之间的间隙中的数量是完全靠手感觉的，因而检测结果精确度不高，且效率低，无法大批量对背光源平整度进行检测。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种背光源平整度检测系统及检测方法，解决了现有技术中背光源平整度检测设备成本高、操作复杂、检测结果精确度不高、效率低等问题。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：一方面，本专利技术实施例提供一种背光源平整度检测系统，包括工作台、支撑柱、检测装置、处理器及显示器。所述工作台用于放置待检测背光源，其中，所述工作台为透明；支撑柱用于支撑所述工作台；检测装置设置在所述工作台的下方，用于检测所述待检测背光源的至少2个检测点与所...
【技术保护点】
一种背光源平整度检测系统，其特征在于，包括工作台、支撑柱、检测装置、处理器及显示器；所述工作台用于放置待检测背光源，其中，所述工作台的材料为透明材料；所述支撑柱用于支撑所述工作台；所述检测装置设置在所述工作台的下方，用于检测所述待检测背光源的至少2个检测点与所述检测装置之间的距离，所述至少2个检测点包括至少1个中间位置点和至少1个边缘位置点；所述处理器与所述检测装置相连，用于对所述检测装置的检测结果进行处理，得到翘曲值；所述显示器与所述处理器相连，至少用于对所述处理器得到的所述翘曲值进行显示。
【技术特征摘要】
1.一种背光源平整度检测系统，其特征在于，包括工作台、支撑
柱、检测装置、处理器及显示器；
所述工作台用于放置待检测背光源，其中，所述工作台的材料为透
明材料；
所述支撑柱用于支撑所述工作台；
所述检测装置设置在所述工作台的下方，用于检测所述待检测背光
源的至少2个检测点与所述检测装置之间的距离，所述至少2个检测点
包括至少1个中间位置点和至少1个边缘位置点；
所述处理器与所述检测装置相连，用于对所述检测装置的检测结果
进行处理，得到翘曲值；
所述显示器与所述处理器相连，至少用于对所述处理器得到的所述
翘曲值进行显示。
2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测装置
包括至少2个红外测距传感器。
3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述检测装置
包括至少5个所述红外测距传感器；
其中，至少1个所述红外测距传感器与所述待检测背光源的中间位
置对应，至少4个所述红外测距传感器与所述待检测背光源的边缘位置
对应。
4.根据权利要求2或3所述的检测系统，其特征在于，所述检测
系统还包括支撑板和控制器；
所述支撑柱和所述红外测距传感器均设置在所述支撑板的上表面，
且所有所述红外测距传感器与所述控制器相连；
所述控制器，用于控制所有所述红外测距传感器中，对所述待检测
背光源进行检测的所述红外测距传感器的个数。
5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述处理器包
括最大值计算模块、最小值计算模块和减法器；
所述减法器用于将所述最大值计算模块计算得到的最大距离和所
述最小值计算模块计算得到最小距离相减。
6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述支撑柱包
括支撑部和调节部；所述支撑部上设有外螺纹；
所述调节部上设有与所述支撑部的外螺纹匹配的内螺纹，用于调节
支撑部的高度。
7.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统
还包括设置在所述工作台上的至少两个挡墙；
所述至少两个挡墙靠近所述工作台的至少两个相邻的边缘设置。
8.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统
还包括与所述处理器相连的报警装置；
所述处理器还用于将所述翘曲值与预设值进行对比，若所述翘曲值
大于预设值，则向所述报警装置发出报警信号；
所述报警装置，用于根据接收的所述报警信号，发出报警。
9.一种如权利要求1-8任一项所述的检测系统的检测方法，其特
征在于，
利用检测装置检测待检测背光源的至少2个检测点与所述检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：龙登武，俞江，
申请(专利权)人：京东方光科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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