本发明专利技术公开一种平板天线的平面度检测方法及其快速可调节工装，包括平板底座、在平板底座上设有呈阵列分布的支撑结构单元，其支撑结构单元包括套筒支撑件，在套筒支撑件内设有表面带有刻度尺的支撑件，以及用于固紧支撑件的锁紧螺栓，在检测时，将平板底座置于水平面内，以支撑件表面的刻度尺为依据，将各个支撑件的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓固定支撑件，采用水平仪对各个支撑件顶端的高度进行等高校正，将平板天线放置在支撑件上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。该检测方法及其快速可调节工装操作简单方便，且能够解决目前检测工作量大、测量反复、平面度检测精度和质量不高等问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于机械工程及天线应用领域，具体涉及一种平板天线的平面度检测方法及其快速可调节工装。
技术介绍
随着雷达天线技术的发展，在装配和安装天线时，需要检测和计算其平板的平面度，查看其是否满足雷达天线的技术要求，如果天线平面度过大，将会造成在与其它结构安装面装配时出现较大的装配间隙，导致天线的性能下降。因此，天线平板的平面度对于提高天线性能具有重要作用。在天线平面度检测以及天线装配时，需要一种快速可调节的工装进行放置和支撑，便于对其进行检测和调节放置的高度，使得天线平板支撑的高度具有一致性。目前，在实际的测量及装配过程中，无论是平板天线平面度的检测还是铆接筋板装配，对于所使用的工装的研究较少，在调节支撑高度时，调节工装的主要方法是在支撑框架上的每个支撑面最底部垫用不同厚度诸如和3mm等不同规格的铜皮。首先是测量每个支撑面的高度，如果高度不够，垫用铜皮，如果高度较高，就需要加垫到最高的高度，使得高度统一。此种工装使用不便，支撑高度需要多次测量，工作量大且效率较低，平面度检测精度和质量不高，严重影响天线的性能指标。因此，如何研发和提出一种准确快速的调节天线平面度检测的工装是一个亟待解决的重要问题。提出和发展快速可调节的工装，能够大幅改善天线平面度检测时支撑高度测量反复、工作量大且效率低下的问题，采用先进的检测和测量技术，可以显著提高天线平面度的检测精度。同时，有助于推动和加快快速可调节工装在雷达天线平面度检测和铆接装配过程中发展和应用。
技术实现思路
技术问题:本专利技术的目的在于提供一种平板天线的平面度检测方法及其快速可调节工装，本专利技术能够实现检测时平板天线高度的快速调节，减小工装对平板天线平面度检测精度的影响。技术方案:为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是:本专利技术所述的一种平板天线的平面度检测方法，包括以下步骤:步骤I取快速可调节工装，所述速可调节工装包括平板底座，在平板底座上设有呈阵列分布的支撑结构单元，所述支撑结构单元包括套筒支撑件，在套筒支撑件内设有支撑件且支撑件的表面有刻度尺，在套筒支撑件还设有用于固紧支撑件的锁紧螺栓，步骤2将平板底座置于水平面内，以支撑件表面的刻度尺依据，将各个支撑件的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓固定支撑件，步骤3将平板天线放置在支撑件上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。本专利技术所述的一种用于平板天线的平面度检测方法的快速可调节工装，包括平板底座，在平板底座上设有呈阵列分布的支撑结构单元，所述支撑结构单元包括套筒支撑件，在套筒支撑件内设有支撑件且支撑件的表面有刻度尺，在套筒支撑件还设有用于固紧支撑件的锁紧螺栓。有益效果:与现有技术相比，本专利技术的技术方案具有以下有益效果:克服目前检测工作量大、测量反复、平面度检测精度和质量不高等不足。本专利技术的平板底座上的呈阵列分布的支撑结构单元构成工装的整体框架，在检测过程中共同支撑平板天线，用于测量天线平板的位置高度及平面度。当需要对平板天线的支撑高度进行调节时，整体调节带有刻度尺的支撑件的高度，达到某一所需要的刻度，并通过锁紧螺栓进行固定和夹紧；测量前，可以通过支撑件的上下移动，统一调整支撑件的刻度尺的刻度，使得每个支撑结构单元达到统一的高度，克服了现有技术只能通过反复测量来调整每个支撑件高度的缺点，减少了其它专用工装的数量，大幅度的降低了人工工作量及测量反复，将其与通过在支撑面底部垫用不同规格的铜皮相比，降低了天线平板平面度检测的周期，提高了检测效率及位置精度。【附图说明】图1为本专利技术的工装结构示意图。图2为本专利技术的工装结构后视结构示意图。图3为本专利技术的工装结构俯视结构示意图。图4为本专利技术的支撑结构单元示意图。图5为本专利技术中支撑结构单元的装配爆炸图。图中有:平板底座1、支撑结构单元2、带有刻度尺的支撑件201、直角件202、锁紧螺栓203、套筒支撑件204、支撑平台205。【具体实施方式】实施例1一种平板天线的平面度检测方法，包括以下步骤:步骤I取快速可调节工装，所述速可调节工装包括平板底座1，在平板底座I上设有呈阵列分布的支撑结构单元2，所述支撑结构单元2包括套筒支撑件204，在套筒支撑件204内设有支撑件201且支撑件201的表面有刻度尺，在套筒支撑件204还设有用于固紧支撑件201的锁紧螺栓203，步骤2将平板底座I置于水平面内，以支撑件201表面的刻度尺依据，将各个支撑件201的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓203固定支撑件201，步骤3将平板天线放置在支撑件201上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。在本实施例中，在将各个支撑件201的顶端调至相同高度后，采用水平仪对各个支撑件201顶端的高度进行等高校正。实施例2—种用于平板天线的平面度检测方法的快速可调节工装，包括平板底座1，在平板底座I上设有呈阵列分布的支撑结构单元2，所述支撑结构单元2包括套筒支撑件204，在套筒支撑件204内设有支撑件201且支撑件201的表面有刻度尺，在套筒支撑件当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种平板天线的平面度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1取快速可调节工装，所述的快速可调节工装包括平板底座(1)，在平板底座(1)上设有呈阵列分布的支撑结构单元(2)，所述支撑结构单元(2)包括套筒支撑件(204)，在套筒支撑件(204)内设有支撑件(201)且支撑件(201)的表面有刻度尺，在套筒支撑件(204)还设有用于固紧支撑件(201)的锁紧螺栓(203)，步骤2将平板底座(1)置于水平面内，以支撑件(201)表面的刻度尺为依据，将各个支撑件(201)的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓(203)固定支撑件(201)，步骤3将平板天线放置在支撑件(201)上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：汤文成，潘明辉，倪俊，幸研，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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