【技术实现步骤摘要】
一种非易失性存储器的修复方法
本专利技术涉及非易失性存储器
,具体涉及一种非易失性存储器的修复方法。
技术介绍
非易失性存储器,又称为非挥发性存储器,简单地说,就是在断电情况下能够保持所存储的数据的存储器。对于非易失性存储器,在正常的存储单元中,编程单元存储的数据为0,擦除单元存储的数据为1。然而编程单元因自身的内部缺陷或者宇宙射线等因素影响会造成浮栅漏电,相应存储单元中的电子会不断跑掉,阈值电压会逐渐降低,随着时间的推移,编程单元中的数据由0变为1,再进行读操作时,读出的数据就是错误的,从而降低了非易失性存储器的数据保持力。数据保持力是指存储单元中单个比特能够保持其数据稳定的周期,它是非易失性存储器非常重要的一个性能指标,它的性能直接影响到存储器的可靠性和使用寿命。导致数据保持力降低的主要因素有存在的漏电、电荷的损失或者增加;此外,高温或者反复的擦除编程操作,也可能会导致电荷量的变化,从而造成数据的丢失。通常数据保持时间会伴随擦除和编程操作次数的增加而减少。非易失性存储器的数据保持特性,一般要求是在10年以上。因此,改善数据保持力,对于提高存储器的可靠性十 ...
【技术保护点】
一种非易失性存储器的修复方法,其特征在于,包括:开启所述非易失性存储器的修复模块;所述修复模块判断是否执行对所述非易失性存储器的修复操作,如果不执行所述修复操作,则关闭所述修复模块;如果执行所述修复操作,则所述修复模块对所述非易失性存储器的修复单元进行修复校验;所述修复模块判断所述修复单元是否通过修复校验,如果没有通过所述修复校验,则所述修复模块对所述修复单元进行修复操作;如果通过所述修复校验或在完成对所述修复单元的修复操作后,所述修复模块根据预设的控制位对所述修复单元对应的修复地址进行递增或递减并得到下一次的修复地址,同时将所述下一次的修复地址保存在所述非易失性存储器的存 ...
【技术特征摘要】
1.一种非易失性存储器的修复方法,其特征在于,包括:开启所述非易失性存储器的修复模块;所述修复模块判断是否执行对所述非易失性存储器的修复操作,如果不执行所述修复操作,则关闭所述修复模块;如果执行所述修复操作,则所述修复模块对所述非易失性存储器的修复单元进行修复校验;所述修复模块判断所述修复单元是否通过修复校验,如果没有通过所述修复校验,则所述修复模块对所述修复单元进行修复操作;如果通过所述修复校验或在完成对所述修复单元的修复操作后,所述修复模块根据预设的控制位对所述修复单元对应的修复地址进行递增或递减并得到下一次的修复地址,同时将所述下一次的修复地址保存在所述非易失性存储器的存储阵列中;关闭所述修复模块;当所述修复模块再次进行修复校验时,所述非易失性存储器的修复单元为所述下一次的修复地址对应的修复单元,其中,所述下一次的修复地址为上一次执行完对所述非易失性存储器的修复操作时所保存在所述存储阵列中的修复地址。2.根据权利要求1所述的非易失性存储器的修复方法,其特征在于,当所述修复模块首次进行修复校验时,所述非易失性存储器的修复单元为预设的初始修复地址对应的修复单元。3.根据权利要求1所述的非易失性存储器的修复方法,其特征在于,所述修复模块对所述非易失...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡洪,舒清明,苏如伟,马英,
申请(专利权)人:北京兆易创新科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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