整流二极管、芯片及其制作方法技术

本发明专利技术提供了一种整流二极管、芯片及其制作方法，包括：提供基底，所述基底为具有沟槽以及位于沟槽四周的台面的晶圆；通过刮涂的方式将胶状玻璃涂覆在晶圆的表面，以在晶圆表面形成玻璃层；将晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除；对晶圆进行低温烧结，并去除晶圆台面上的玻璃层；对晶圆进行高温烧结，以在晶圆表面形成钝化玻璃层。本发明专利技术提供的芯片制作方法，通过刮涂的方式在晶圆表面形成玻璃层，使得玻璃层的厚度更薄，从而能够有效去除台面和沟槽内待切割区域的玻璃层，并且，在形成钝化玻璃层之前，对晶圆进行了低温烧结，并去除了晶圆台面上的玻璃层，从而增大了台面的面积，即增大了芯片的焊接面积，进而降低了芯片的正向压降。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体晶圆
，更具体地说，涉及一种整流二极管、芯片及其制作方法。
技术介绍
目前，整流二极管的制作方法主要包括GPP(Glass Passivation Pellet，玻璃钝化)制程和DB(Doctor Blade，刀刮)制程。由于DB刀刮制程生产出的芯片焊接面积大，得到的正向压降值较小，因此，DB刀刮制程普遍应用于要求不高的电路中。此外，由于DB刀刮制程中在切割时会直接将玻璃切穿或者引裂，因此，容易导致玻璃受损，造成芯片在电路应用中失效。因此，现有技术中大多采用GPP制程来生产整流二极管。与DB刀刮制程制作的芯片相比，GPP制程制作的芯片也是一种玻璃钝化方法生产的芯片，其凭借PN结处的玻璃层及其他钝化层的多层保护以及在切割过程中不伤害玻璃层等优势，而具有很高的可靠性能，进而广泛应用于较为高端的产品电路中。但是，现有的GPP制程作为生产整流二极管的一种方式，依然存在着一定的缺点，即制作的芯片焊接面积较小、正向压降较大。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种整流二极管、芯片及其制作方法，以解决现有技术中的GPP制程制作的芯片焊接面积小和正向压降偏大的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种芯片制作方法，包括：提供基底，所述基底为具有沟槽以及位于所述沟槽四周的台面的晶圆；通过刮涂的方式将胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面，以在所述晶圆表面形成玻璃层；r>将所述晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除；对所述晶圆进行低温烧结，并去除所述晶圆台面上的玻璃层；对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。优选的，所述胶状玻璃是由光刻胶和玻璃粉混合配制而成的。优选的，在所述晶圆表面形成玻璃层的过程包括：将一定量的胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面；通过刮涂的方式将所述胶状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面，以在所述晶圆表面形成玻璃层。优选的，通过刮涂的方式将所述胶状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面是指采用刀片刮涂所述胶状玻璃，以使所述胶状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面。优选的，将所述晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除的过程包括：在所述晶圆表面形成光刻胶层；通过曝光的方式使所述光刻胶层具有镂空图案，所述镂空图案与所述晶圆的待切割区域对应；以所述光刻胶层为掩膜，通过显影的方式将所述晶圆的台面和沟槽内待切割部分的玻璃层去除。优选的，对所述晶圆进行低温烧结的过程包括：将所述晶圆放置在低温烧结炉中进行烧结，所述低温烧结炉的温度范围为480℃～520℃。优选的，去除所述晶圆台面上的玻璃层的过程包括：采用无尘布去除所述晶圆表面的玻璃粉，所述玻璃粉是所述玻璃层在低温烧结炉中进行烧结后形成的。优选的，对所述晶圆进行高温烧结的过程包括：将所述晶圆放入高温烧结炉中进行烧结，所述高温烧结炉的温度范围为680℃～720℃。一种芯片，所述芯片是采用上述任一项所述的方法形成的。一种整流二极管，所述整流二极管包括上述芯片。与现有技术相比，本专利技术所提供的技术方案具有以下优点：本专利技术所提供的整流二极管、芯片及其制作方法，在具有沟槽和台面的晶圆表面形成玻璃层后，去除待切割区域的玻璃层以及烧结后的晶圆台面上的玻璃层，然后对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。本专利技术提供的芯片制作方法，通过刮涂的方式在晶圆表面形成玻璃层，使得玻璃层的厚度更薄，从而能够有效去除台面和沟槽内待切割区域的玻璃层，并且，在形成钝化玻璃层之前，对晶圆进行了低温烧结，并去除了晶圆台面上的玻璃层，从而增大了台面的面积，即增大了芯片的焊接面积，进而降低了芯片的正向压降。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例一提供的芯片制作方法的流程图；图2为本专利技术实施例一提供的基底的结构示意图。具体实施方式正如
技术介绍
所述，现有的GPP制程制作的芯片虽然具有很高的可靠性能，但是，其制作的芯片焊接面积较小、正向压降偏大。专利技术人研究发现，造成这种问题的原因主要是，芯片的晶圆台面的面积较小，从而导致芯片的焊接面积较小，正向压降较大。基于此，本专利技术提供了一种整流二极管、芯片及其制作方法，以克服现有技术存在的上述问题，包括：一种芯片制作方法，包括：提供晶圆，所述晶圆具有沟槽以及位于所述沟槽四周的台面；通过刮涂的方式将胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面，以在所述晶圆表面形成玻璃层；将所述晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除；对所述晶圆进行低温烧结，并去除所述晶圆台面上的玻璃层；对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。本专利技术还提供了一种芯片，所述芯片是采用上述任一项所述的方法形成的。本专利技术还提供了一种整流二极管，所述整流二极管包括上述芯片。本专利技术所提供的整流二极管、芯片及其制作方法，在具有沟槽和台面的晶圆表面形成玻璃层后，去除待切割区域的玻璃层以及烧结后的晶圆台面上的玻璃层，然后对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。本专利技术提供的芯片制作方法，通过刮涂的方式在晶圆表面形成玻璃层，使得玻璃层的厚度更薄，从而能够有效去除台面和沟槽内待切割区域的玻璃层，并且，在形成钝化玻璃层之前，对晶圆进行了低温烧结，并去除了晶圆台面上的玻璃层，从而增大了台面的面积，即增大了芯片的焊接面积，进而降低了芯片的正向压降。以上是本专利技术的核心思想，为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。其次，本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。下面通过几个实施例详细描述。实施例一本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片制作方法，其特征在于，包括：提供基底，所述基底为具有沟槽以及位于所述沟槽四周的台面的晶圆；通过刮涂的方式将胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面，以在所述晶圆表面形成玻璃层；将所述晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除；对所述晶圆进行低温烧结，并去除所述晶圆台面上的玻璃层；对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。

【技术特征摘要】
1.一种芯片制作方法，其特征在于，包括：
提供基底，所述基底为具有沟槽以及位于所述沟槽四周的台面的晶圆；
通过刮涂的方式将胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面，以在所述晶圆表面
形成玻璃层；
将所述晶圆的台面和沟槽内待切割区域的玻璃层去除；
对所述晶圆进行低温烧结，并去除所述晶圆台面上的玻璃层；
对所述晶圆进行高温烧结，以在所述晶圆表面形成钝化玻璃层。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述胶状玻璃是由光刻胶
和玻璃粉混合配制而成的。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述晶圆表面形成玻璃
层的过程包括：
将一定量的胶状玻璃涂覆在所述晶圆的表面；
通过刮涂的方式将所述胶状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面，以在所述
晶圆表面形成玻璃层。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，通过刮涂的方式将所述胶
状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面是指采用刀片刮涂所述胶状玻璃，以使所
述胶状玻璃均匀涂覆在所述晶圆的表面。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述晶圆的台面和沟槽
内待切割区域的玻璃层去除的...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪良恩，张小明，汪曦凌，
申请(专利权)人：安徽安芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34