本发明提供扫描型探针显微镜及其扫描方法。在进行间歇测定方法时，避免探针和试样表面相互成为过负荷，并且缩短试样表面的凸凹形状的测定时间。扫描型探针显微镜具有安装有探针的悬臂，通过使所述探针与试样表面间歇地接触而对所述试样表面进行扫描，其中...

提供带电粒子束装置。自动反复进行摘出试样片而将其移设于试样片保持器的动作，其中，该试样片是通过离子束对试样的加工而形成的。带电粒子束装置具有计算机，该计算机实施如下控制：在不使将试样片固定在试样保持器上的针旋转的情况下，从带电粒子束照射...

本发明提供原子吸光光度计和原子吸光光度计的极微量分析诊断方法。在电加热原子吸光中进行极微量分析的情况下，当存在污染的影响时，无法得到正确的分析值。以往，测定者根据经验反复进行用于确定污染源的事前测定，需要时间和劳力。分析初学者无法进行针...

提供截面加工观察装置及其方法、程序以及形状测定方法，提高试样的形状的测定精度。具有：保持试样的试样台；向试样照射聚焦离子束的聚焦离子束镜筒；在与照射聚焦离子束的方向垂直的方向上向试样照射电子束的电子束镜筒；检测二次电子或反射电子的电子检...

提供带电粒子束装置和试样加工观察方法。提供如下的带电粒子束装置和使用该带电粒子束装置的试样加工观察方法，该带电粒子束装置具备镓离子束镜筒、具有半浸没透镜型的物镜的电子束镜筒和气体离子束镜筒，能够在短时间内高效地进行试样的精加工和试样加工...

本发明提供带电粒子束装置、载台驱动范围限制方法和记录介质，抑制载置有试样的试样保持器与试样室的内部构造物之间的干涉。具有：载台，支承载置有试样的试样保持器；载台驱动机构，驱动载台；试样室，收容载台；聚焦离子束镜筒，对试样照射聚焦离子束；...

[课题]本发明提供一种制造工序简便的塑料标准物质及其制造方法，其赋值的误差小。[解决手段]利用天平称量作为塑料标准物质的候选的物质的质量，利用天平称量化学物质的同位素标记物质，将所称量的作为塑料标准物质的候选的物质和所称量的同位素标记物...

提供扫描探针显微镜，可选择性地显示或一同显示测定数据及其差分数据的分布像，能够得到边缘强调像并且提高了用户的便利性。扫描探针显微镜(200)具有悬臂(1)和检测表示悬臂的位移的信号的位移检测器(5)，取得在使探针(99)沿着试样(300...

本发明提供一种质量分析装置和质量分析方法，其在不使装置大型化的情况下提高对包含夹杂物等第2物质的第1物质的检测精度，并且能够缩短测定时间。一种对试样进行分析的质量分析装置(110)，该试样包含由有机化合物构成的第1物质、和由有机化合物构...

提供截面加工观察方法、带电粒子束装置，能够容易并且准确地形成用于观察试样的内部的观察用截面。该截面加工观察方法的特征在于，具有如下的工序：设计数据取得工序，取得具有三维立体构造物的试样的所述三维立体构造物的设计数据；移动工序，根据所述设...

提供带电粒子束装置，自动地重复进行摘出试样片并将其移设于试样片保持器的动作，该试样是通过基于离子束的试样的加工而形成的。带电粒子束装置具有计算机，该计算机对聚焦离子束照射光学系统进行控制，以使得在通过针保持试样片后，设定包含与试样的加工...

提供色谱的数据处理装置，能够考虑由测定条件的变动引起的峰的保持时间的偏差来进行标准试样和测定试样的辨识。该色谱的数据处理装置具有：标准试样时间表(31)；峰数量判定部(21)，其在辨识了标准试样的色谱图时无法辨识一个以上的实测峰的情况下...

提供荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法，能够在同一试样容器内不变更配置地测定分析深度不同的元素。荧光X射线分析装置具有：试样容器(4)，其能够收纳试样(S)；X射线源(2)，其向试样照射原级X射线(X1)；检测器(3)，其检测从被照...

提供分析装置和分析方法，在遵照标准规格进行基于规定的分析方法的分析时能够减轻操作人员的负担、防止错误的分析。分析装置(100)具有：存储部(102)，其存储按照一个以上的分析方法的每个分析方法分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析...

提供恒温装置和具有该恒温装置的分析装置，能够抑制装置大型化和功耗增加、对试样容器进行恒温保持、并且在冷却时将冷凝水容易地排出。恒温装置(20)对保持试样的多个试样容器(50)进行恒温保持，所述恒温装置具有：试样架(21)，其收容并保持多...

提供谱数据处理装置和谱数据处理方法，能够以二维的方式在视觉上容易地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及规定的参数之间的关系。一种谱数据处理装置(210)，其根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部(220...

提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有...

提供产生气体分析装置和产生气体分析方法，提高气体成分的检测精度而不会使装置大型化。产生气体分析装置(200)具有：气体成分产生部(10)；检测气体成分(G)的检测单元(110)；混合气体流路(41)，将气体成分产生部与检测单元之间连接起...

提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测...

提供质量分析装置和质量分析方法。一种质量分析装置(200)，其具有加热含有第一物质和在比第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部(10)，检测通过加热部而生成的气体成分，所述质量分析装置(200)具有：加热控制部(2...