提供X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是具有正极材料的涂布部和未涂布部的试样，也能够在相同的条件下同时对双方的部分进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源...

本发明提供偏振光图像取得装置，该偏振光图像取得装置能取得热分析装置内的测定试样或参照试样的偏振光图像。偏振光图像取得装置安装于热分析装置，该热分析装置具备分别收纳测定试样和参照试样的一对试样容器和从外侧包围试样容器的加热炉，能经由加热炉...

本发明涉及一种氨基酸分析方法和液相色谱装置，在该氨基酸分析方法和液相色谱装置中实现苏氨酸、丝氨酸、甘氨酸和丙氨酸的分离性能的提高。该氨基酸分析方法是使用具备阳离子交换柱的液相色谱装置对氨基酸进行分析的方法，其具备使含有作为氨基酸的苏氨酸...

本发明提供液相色谱仪，在液相色谱仪中，在分离工序后使分离柱迅速降温，实现分析时间的缩短。液相色谱仪具备送液部、试样注入部、分离柱、将分离柱的温度升温至第1温度的第1温度调整装置、检测器、设置于分离柱的上游的将流动相的温度调整为比第1温度...

本发明提供扫描型探针显微镜，其使探针与试样表面接触，利用所述探针间歇地扫描所述试样表面，其具有：悬臂，在其前端具有所述探针；驱动部，其从所述探针与所述试样表面接触的状态起进行将所述试样和所述探针分开的分开动作；激振部，其在所述分开动作中...

本发明提供扫描型探针显微镜，其使探针与试样表面接触，利用所述探针间歇地扫描所述试样表面，其具有：悬臂，在其前端具有所述探针；驱动部，其从所述探针与所述试样表面接触的状态起进行将所述试样和所述探针分开的分开动作；激振部，其在所述分开动作中...

本发明涉及离子交换层析的控制方法和离子交换层析，即使在使用单一分离柱的情况下，也能够兼顾试样成分的分离性能的提高和分析时间的缩短。离子交换层析的控制方法具备送液部、试样注入部、分离柱以及控制装置，基于特定的时间程序，改变洗脱液的混合比例...

本发明提供分光光度计、分光测定方法以及程序。在对吸光度因波长区域而大幅变化的测定试样进行测定的情况下，能够高效地短时间实施S/N比和精度较高的测定。分光光度计(100)针对测定试样的波长扫描测定中的多个波长区域，根据包含在各波长区域中应...

本发明涉及用于膜电极组件的检测方法和检查装置。膜电极组件的检查方法包括：第一过程，该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域；第三过程...

本发明提供一种探针显微镜以及探针显微镜的光轴调整方法。能够缩短光轴调整时间。探针显微镜(1)具有悬臂(3)、第一激光器(11)、照相机(25)、无限远光学系统(PL)、第一转动部(31)以及控制部(35)。无限远光学系统(PL)形成于悬...

提供显微镜系统、试样的观察方法、试样的膜厚的校正方法、试样的复折射率的计算方法。抑制悬臂与试样发生碰撞那样的麻烦。显微镜系统(100)具有：探针单元(40)，其具有悬臂(43)：照相机(15)；照相机位置微调机构(17)，其为了调整照相...

提供带电粒子束装置。通过适当地校正由于试样的旋转而引起的位置偏移而能够抑制带电粒子束的照射位置的变动的。带电粒子束装置(10)具有会聚离子束镜筒(17)、试样保持器(12)、支承试样保持器(12)的载台(31)、固定部旋转机构、载台驱动...

本发明提供扫描型探针显微镜以及设定方法。提供有助于测定时间的缩短的扫描型探针显微镜以及设定方法。扫描型探针显微镜具备：移动驱动部，其使所述悬臂与所述试样至少能够在Z方向上相对地进行移动；以及控制装置，其通过对所述移动驱动部进行控制而执行...

提供生体组织试样的观察方法。能够容易地掌握存在于生体组织内的观察对象区域，并且，能够容易地从生体组织的试样块切出多个试样片。具有以下工序：树脂包埋工序，形成试样块；固定工序，将所述试样块切分成多个试样片，将各个试样片固定于试样片放置部件...

本发明提供粒子射束装置和复合射束装置，该粒子射束装置能够选择性地且适当地切换带电粒子射束和中性粒子射束。粒子射束镜筒(19)具备离子源(41)、聚光镜(52)、电荷交换栅极(55)和物镜(56)。离子源(41)产生离子。聚光镜(52)通...

提供试样容器和热分析装置。在对试样进行观察的热分析装置中，存在在对膜状的试样等进行加热或冷却时，试样会产生收缩、翘曲这样的热变形，无法稳定地观察试样这样的课题。一种热分析装置的试样容器，该试样容器用于热分析装置，该热分析装置测定与因试样...

提供在利用会聚离子束进行截面加工时改善截面形状、并且提高作业效率的会聚离子束加工装置。会聚离子束加工装置(100)具有离子源(21)、保持试样(200)的试样载台(50)、会聚透镜(22)、具有一边(24t)呈直线状的狭缝(24s)的光...

本发明提供热分析装置的控制部以及热分析装置，能够掌握难以进行热分析的测定对象的热特性。热分析装置进行伴随测定对象(X、Y)的加热或冷却引起的温度变化的热性能的测定，该热分析装置的控制部(51)针对时间和温度中的任意变量取得测定对象对照射...

本公开涉及膜电极接合体的检查方法和检查装置，膜电极接合体的检查方法具备：向膜电极接合体照射X射线来取得X射线透视像；和参照沿着膜电极接合体的面方向的异物的大小与X射线透视像中的亮度降低量的相关关系，并根据所取得的X射线透视像中的各像素的...

本发明提供热分析装置。即使在将散热器冷却至室温以下的状态下也能够观察试样。所述热分析装置的特征在于，包括：散热器，其承载有测定试样容器和参考试样容器；差示热流检测部，其检测因测定试样的吸热和发热而产生的测定试样与参考试样的温度差；测定电...