用于膜电极组件的检测方法和检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于膜电极组件的检测方法和检查装置。膜电极组件的检查方法包括：第一过程，该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域；第三过程，该第三过程基于膜电极组件中的异物的平面尺寸与由于X射线的衍射而引起的亮度变化之间的相关性，根据亮度降低区域的平面尺寸，校正在第二过程中识别的亮度降低区域的亮度；以及第四过程，该第四过程基于在第三过程中校正的亮度，求出膜电极组件中异物的厚度。电极组件中异物的厚度。电极组件中异物的厚度。

【技术实现步骤摘要】
用于膜电极组件的检测方法和检查装置


[0001]本公开涉及用于膜电极组件的检查方法和检查装置。

技术介绍

[0002]关于用于燃料电池的膜电极组件的检查方法，例如，日本未审查专利申请公报No.2017
‑
162745(JP2017
‑
162745A)中公开的技术注意到如下的事实：X射线由包含在电解质膜中的催化剂颗粒吸收，并且基于由X射线发射强度和检测强度之间的差计算的X射线透射率计算电解质膜中催化剂颗粒的负载量。

技术实现思路

[0003]在制造时，具有X射线吸收能力的异物、诸如Fe颗粒可能混入膜电极组件中。本公开提供一种用于膜电极组件的检查方法和检查装置，该检查方法和检查装置能够使用X射线以高精度检测这种异物的大小。
[0004]本公开可以在以下方面中实现。
[0005]根据本公开的第一方面，提供了一种膜电极组件的检查方法。该检查方法包括：第一过程，该第一过程获取膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，该第二过程在第一过程中所获取的X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种膜电极组件的检查方法，所述检查方法的特征在于包括：第一过程，所述第一过程获取所述膜电极组件的X射线透射图像；第二过程，所述第二过程在所述第一过程中获取的所述X射线透射图像中识别具有比周围区域的亮度低的亮度的亮度降低区域；第三过程，所述第三过程基于所述膜电极组件中的异物的平面尺寸与由于X射线的衍射而引起的亮度变化之间的相关性，根据所述亮度降低区域的平面尺寸，对在所述第二过程中识别出的所述亮度降低区域的亮度进行校正；以及第四过程，所述第四过程基于在所述第三过程中校正过的亮度求出所述膜电极组件中的异物的厚度。2.根据权利要求1所述的检查方法，其特征在于还包括第五过程，所述第五过程基于在所述第四过程中求出的厚度和所述亮度降低区域的平面尺寸来求出所述异物的三维尺寸。3.根据权利要求2所述的检查方法，其特征在于还包括第六过程，所述第六过程通过将在所述第五过程中求出的所述异物的三维尺寸与预先设定的缺陷判定阈值进行比较来执...

【专利技术属性】
技术研发人员：竹下慎也，高原稔幸，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：