试样容器和热分析装置制造方法及图纸

提供试样容器和热分析装置。在对试样进行观察的热分析装置中，存在在对膜状的试样等进行加热或冷却时，试样会产生收缩、翘曲这样的热变形，无法稳定地观察试样这样的课题。一种热分析装置的试样容器，该试样容器用于热分析装置，该热分析装置测定与因试样的加热或冷却而引起的温度变化相伴的热行为，对测定试样进行观察，其特征在于，所述试样容器具有：主体部，其为有底筒状，圆筒的上部开口；以及透明或半透明的按压板，其与主体部的开口的内径相切、或比主体部的开口的内径小，从上表面压住放置于主体部的底面的试样。放置于主体部的底面的试样。放置于主体部的底面的试样。

【技术实现步骤摘要】
试样容器和热分析装置


[0001]本专利技术涉及用于在进行加热或冷却的同时进行试样的物理热分析的试样容器和使用该试样容器的热分析装置。

技术介绍

[0002]以往，作为对试样的温度特性进行评价的方法而执行由如下方法：对试样进行加热或冷却并测定伴随于温度变化的试样的物理变化的被称为热分析的方法。热分析在JISK0129：2005“热分析通则”中被定义，在对测定对象(试样)的温度进行程序控制时测定试样的物理性质的方法都是热分析。一般使用的热分析具有如下5种方法：(1)检测温度(温度差)的差示热分析(DTA)、(2)检测热流差的差示扫描热量测定(DSC)、(3)检测质量(重量变化)的热重量测定(TG)、(4)检测力学特性的热机械分析(TMA)、以及(5)动态粘弹性测定(DMA)。
[0003]此外，近年来，存在希望观察热分析时的试样的状态这样的期望，公知有如下的热分析装置：在对试样进行加热的加热炉设置开口部，能够经由该开口部观察试样(例如参照专利文献1、2)。
[0004]此外，在这种观察中，使用专利文献2所记载的这种容器上部开放的上有底圆筒的试样容器。另一方面，还公知有如下的密闭型的容器：对试样容器的上部整个面施加盖、并加压，由此使试样与容器底面的接触稳定(例如专利文献3)。
[0005]专利文献1：日本特开平8
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327573号公报
[0006]专利文献2：日本特开2017
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173209号公报
[0007]专利文献3：日本特开昭62
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231147号公报
[0008]在高分子膜或纸等膜状试样中，有时在加热时会发生收缩、翘曲这样的热变形，存在如下课题：在现有技术的开放型试样容器中无法减少该热变形、在密闭型试样容器中无法观察试样。
[0009]此外，在现有技术的观察试样容器的热分析装置中，存在如下课题，当在加热或冷却时产生热变形时，由于试样表面的倾斜度的变化会导致反射光的反光或角度的变化，会妨碍试样的色调和构造的观察，并且正在观察的试样的位置会发生移动，因此，试样的正在分析的区域发生变化。
[0010]因此，本专利技术是为了解决上述课题而完成的，其目的在于，提供在对试样进行加热或冷却的情况下也能够稳定地观察试样的试样按压工具和使用该试样按压工具的热分析装置。

技术实现思路

[0011]为了实现上述目的，本专利技术具有收纳测定试样的试样容器、以及用于进行按压以使试样与底面相接的至少一部分透明或半透明的按压板，通过使用透明材质的按压板，不会妨碍从上部观察试样，能够按压样本并减少热变形。
[0012]所述按压板可以由石英玻璃、蓝宝石玻璃、YAG陶瓷、耐热(TEMPAX)玻璃、耐热结晶玻璃、维克玻璃(vycor glass)、派热克斯玻璃(Pyrex glass)中的任意一方构成。
[0013]当使用上述按压板时，能够经由按压板从试样的上部观察加热或冷却中的试样的变化。此外，上述按压板从上部加压而按压试样，因此，能够减少引起试样的热变形的情况。
[0014]通过减少上述热变形，能够防止试样表面的倾斜度的变化。由此，能够防止在加热或冷却中产生的试样表面的反光，能够准确地观察试样的色调和构造的变化。
[0015]此外，在对与温度变化相伴的试样的一部分区域的变化进行图像分析的情况下，当产生上述热变形时，要分析的区域伴随着试样的热变形而变化，因此，分析结果产生误差。通过减少上述热变形，能够减少这些误差，提高分析的精度。
[0016]通过减少上述热变形，能够使依赖于试样的热变形的容器底面与试样的接触稳定化。由此，能够使热量、质量的测定稳定化，提高测定的精度，在该热量、质量的测定中，通过经由与容器底面相接的传感器来检测信号。上述按压板利用按压板的自重进行按压，或者通过来自上部的加压而按压住按压板的一部分区域，由此将试样按压到容器底面。
[0017]专利技术效果
[0018]根据本专利技术，能够减少对试样进行加热或冷却时的热变形，因此，能够稳定地进行试样观察。进而，能够减少对试样进行加热或冷却时的热变形，因此，能够高精度地进行热分析的物性评价。
附图说明
[0019]图1是示出本专利技术的实施方式的热分析装置的结构的剖视图。
[0020]图2是示出本专利技术的第1实施方式的测定试样容器的结构的沿着轴向L的剖视图。
[0021]图3是示出本专利技术的第1实施方式的测定试样容器的结构的俯视图。
[0022]图4是示出本专利技术的第2实施方式的测定试样容器的结构的沿着轴向L的剖视图。
[0023]图5是示出本专利技术的第2实施方式的测定试样容器的结构的俯视图。
[0024]图6是示出本专利技术的第2实施方式的测定试样容器的变形例的结构的俯视图。
[0025]图7是示出本专利技术的第3实施方式的测定试样容器的结构的沿着轴向L的剖视图。
[0026]图8是示出本专利技术的第3实施方式的测定试样容器的结构的俯视图。
[0027]图9是示出本专利技术的第4实施方式的测定试样容器的结构的沿着轴向L的剖视图。
[0028]图10是示出本专利技术的第4实施方式的测定试样容器的结构的俯视图。
[0029]图11是示出本专利技术的第5实施方式的测定试样容器的结构的沿着轴向L的剖视图。
[0030]图12是示出本专利技术的第5实施方式的测定试样容器的结构的俯视图。
[0031]图13是说明使用本专利技术的试样容器的热分析装置的动作的流程图。
[0032]标号说明
[0033]1：热分析装置；2：测定试样容器；10：加热炉；21、23、27、29、32：主体；22、24、28、30、33：按压板；31：光源；32：CCD照相机；51：CPU(控制部)；53：显示部；S：测定试样。
具体实施方式
[0034]下面，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出本专利技术的实施方式的热分析装置的结构的剖视图。
[0035]热分析装置1是差示扫描热量计(DSC)，除了在加热炉10的盖11设置能够观察内部的窗11W以外，具有与现有的差示扫描热量计相同的结构，因此，对概要进行说明。
[0036]热分析装置1具有收纳测定试样S的测定试样容器2、收纳基准物质R的基准物质容器3、加热炉10、连接在测定试样容器2和基准物质容器3与加热炉10之间且在它们之间形成热流路的热电阻体4、测定试样侧热电偶7、基准物质侧热电偶8、用于至少对测定试样S照射可视光的作为照明单元的LED等光源40、用于至少对测定试样S进行摄像的作为摄像单元的CCD照相机41、以及个人计算机50。
[0037]在加热炉10的外周卷绕有卷线状的加热器12，对加热炉10进行加热。另外，加热器12的外侧被未图示的罩覆盖。
[0038]CCD照相机41例如为区域扫描型，但是，也可以是行扫描型等，还可以使用CMOS照相机等其他固体摄像元件。
[0039]个人计算机50具有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种试样容器，该试样容器用于热分析装置，该热分析装置测定与因试样的加热或冷却而引起的温度变化相伴的热行为，对测定的所述试样进行观察，其特征在于，所述试样容器具有：主体部，其为有底筒状，圆筒的上部开口；以及透明或半透明的按压板，其与所述主体部的开口的内径相切，或比所述主体部的开口的内径小，从上表面按压放置于所述主体部的底面的所述试样。2.根据权利要求1所述的试样容器，其特征在于，所述试样是高分子膜。3.根据权利要求1所述的试样容器，其特征在于，在所述热分析装置的试样容器设置有弯折部，该弯折部是将所述主体部的圆筒的上部的局部区域向开口侧弯折而成，从上部按压所述按压板而固定该按压板。4.根据权利要求1所述的试样容器，其特征在于，在所述按压板设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：山崎绿平，西村晋哉，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：