【技术实现步骤摘要】
流动试样用试样盒、荧光X射线分析装置以及方法
[0001]本专利技术涉及在进行X射线分析时使用的流动试样用试样盒、使用该流动试样用试样盒的荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法。
技术介绍
[0002]已知有如下的荧光X射线分析装置:利用检测器检测对试样照射一次X射线时产生的荧光X射线(二次X射线),根据检测出的荧光X射线的光谱分布等进行试样中包含的元素的确定和该元素的浓度的计算等。测定对象不限于固体状的试样,还已知有粉体、具有流动性的流动试样。
[0003]例如,图4所示的荧光X射线分析装置用的试样容器3使用如下结构:使用下部窗口构件框138将下部窗口构件134固定于试样盒壳体137的下部,在其中收纳流动试样110,使用上部窗口构件框139固定上部窗口构件136。
[0004]已知在该试样容器3中,在分析对象为液体或粉体那样的流动试样110的情况下,在以X射线所透过的膜(窗口构件134)为底面的试样容器3内收纳流动试样110,在将试样容器3载置于荧光X射线分析装置的测定部位的状态下,从(未图示的)X射线管 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种流动试样用试样盒,其特征在于,具有:试样盒外框,其在两端具有开口部;下部窗口构件,其封闭所述试样盒外框的一个开口部;试样盒内框,其在两端具有比所述试样盒外框的开口部窄的开口部;以及上部窗口构件,其封闭所述试样盒内框的一个开口部,所述下部窗口构件和所述上部窗口构件的至少一方由使X射线透过的物质构成,所述试样盒内框被插入到所述试样盒外框中,在所述下部窗口构件与所述上部窗口构件之间填充流动试样。2.根据权利要求1所述的流动试样用试样盒,其特征在于,所述试样盒内框的下端位置比所述试样盒外框的下端位置高,通过所述试样盒外框的下端位置与所述试样盒内框的下端位置之差来规定所述下部窗口构件与所述上部窗口构件之间的间隔。3.根据权利要求2所述的流动试样用试样盒,其特征在于,在所述试样盒内框的外周与所述试样盒外框的内周之间设置与所述下部窗口构件和所述上部窗口构件之间连通的空间。4.根据权利要求3所述的流动试样用试样盒,其特征在于,在所...
【专利技术属性】
技术研发人员:金泽雄辉,佐藤恒郎,巽正树,
申请(专利权)人:日本株式会社日立高新技术科学,
类型:发明
国别省市:
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