谱数据处理装置和谱数据处理方法制造方法及图纸

提供谱数据处理装置和谱数据处理方法，能够以二维的方式在视觉上容易地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及规定的参数之间的关系。一种谱数据处理装置(210)，其根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部(220)，其中，该谱数据处理装置具有：二维谱计算部(217)，其根据谱数据，将每个时间的信号强度累加，计算信号强度和参数的二维谱(MS)；信号强度时间变化计算部(218)，其根据谱数据，按照每个参数来计算信号强度的时间变化(TC)；以及显示控制部(219)，其使显示部显示二维谱，并且，将信号强度的时间变化以参数与二维谱的参数一致、且时间沿着二维谱的信号强度的轴的形态进行重叠显示。

Spectrum Data Processing Device and Spectrum Data Processing Method

A spectral data processing device and a spectral data processing method are provided to visually and easily grasp the relationship between the time, signal intensity and the specified parameters of the three-dimensional spectral data in a two-dimensional manner. A spectral data processing device (210) displays a specific spectrum on a display unit (220) based on three-dimensional spectral data with time, signal strength and specified parameters. The spectral data processing device has a two-dimensional spectral computing unit (217), which accumulates the signal strength at each time and calculates the two-dimensional spectrum (MS) of signal strength and parameters according to the spectral data. The time variation (TC) of signal intensity is calculated according to the spectral data, and the display control unit (219) displays the two-dimensional spectrum on the display unit. Moreover, the time variation of signal intensity is displayed overlapping along the axis of signal intensity of the two-dimensional spectrum with the parameters of the two-dimensional spectrum consistent with the parameters of the two-dimensional spectrum.

【技术实现步骤摘要】
谱数据处理装置和谱数据处理方法
本专利技术涉及质谱等的谱数据处理装置和谱数据处理方法。
技术介绍
在质量分析中，使用质谱进行物质的鉴别等分析。该质谱是横轴为质荷比(m/z)、纵轴为信号强度的二维的谱。并且，也开发了如下的技术：在LC/MS分析或GC/MS分析中，取得色谱、质谱等各种分析结果，将该多个分析结果分别关联起来进行显示，使得能够在视觉上掌握它们(专利文献1)。专利文献1：日本特开2014-219317号公报另外，例如加热解吸离子化质量分析装置加热试样以产生气体成分，对该气体成分进行离子化而进行质量分析。此时，包含于试样中的气体成分的加热解吸的时机根据分子类型或加热条件而不同，存在从质谱的时间变化读取实际包含于试样中的成分的信息的可能性。例如，当在相同的时机产生了不同的质荷比的峰的情况下，这些峰很可能是从同一物质产生的碎片。并且，不论加热温度如何而随着时间始终检测到的成分很可能是杂质(污染物)或噪声。然而，即使仅观察色谱(总离子色谱；将每个质荷比的信号强度累加，以表现信号强度的时间变化)或质谱，也很难进行它们的分析，在视觉上也不容易掌握。例如，如图15所示，将每个时间的质谱M1～M3沿着时间序列重叠显示在同一画面上而对峰A的时间变化(在图15中，随着时间经过，在质谱M2中峰A消失)等进行分析在理论上是可能的。然而，在质谱的峰的个数多的情况下，很难将每个时间的质谱重叠显示，在显示空间方面也很难将每个极短的时间的质谱重叠显示。因此，很难以二维方式容易并且详细地分析质谱的时间变化等。
技术实现思路
因此，本专利技术是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够以二维方式在视觉上容易并且详细地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及规定的参数之间的关系的谱数据处理装置和谱数据处理方法的。为了达成上述的目的，本专利技术的谱数据处理装置根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部，其特征在于，所述谱数据处理装置具有：二维谱计算部，其根据所述谱数据，将每个所述时间的所述信号强度累加，计算所述信号强度和所述参数的二维谱；信号强度时间变化计算部，其根据所述谱数据，按照每个所述参数来计算所述信号强度的时间变化；以及显示控制部，其使所述显示部显示所述二维谱，并且，以所述参数与所述二维谱一致、且所述时间沿着所述二维谱的所述信号强度的轴的形态，通过多色、明暗或亮度变化来重叠显示所述信号强度的时间变化。根据该谱数据处理装置，将信号强度的时间变化以与二维谱的参数一致的方式在二维上重叠显示，因此能够以二维的方式在视觉上容易并且详细地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及参数的关系。在本专利技术的谱数据处理装置中，也可以是，所述谱数据是质量分析的数据，所述参数是质荷比，所述二维谱是质谱。在本专利技术的谱数据处理装置中，也可以是，所述谱数据是有机化合物的质量分析的数据。在本专利技术的谱数据处理装置中，也可以是，所述谱数据包含在所述有机化合物的离子化时生成的碎片离子。在本专利技术的谱数据处理装置中，也可以是，所述显示控制部使所述显示部将所述二维谱和所述信号强度重叠显示，并且将表示时间和信号强度之间的关系的色谱重叠显示。本专利技术的谱数据处理方法根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部，其特征在于，所述谱数据处理方法具有如下的步骤：二维谱计算步骤，根据所述谱数据，将每个所述时间的所述信号强度累加，计算所述信号强度和所述参数的二维谱；信号强度时间变化计算步骤，根据所述谱数据，按照每个所述参数来计算所述信号强度的时间变化；以及显示控制步骤，使所述显示部显示所述二维谱，并且，以所述参数与所述二维谱一致、且所述时间沿着所述二维谱的所述信号强度的轴的形态，通过多色、明暗或亮度变化来重叠显示所述信号强度的时间变化。专利技术效果根据本专利技术，能够以二维的方式在视觉上容易并且详细地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及规定的参数之间的关系。附图说明图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析装置在内的产生气体分析装置的结构的立体图。图2是示出气体产生部的结构的立体图。图3是示出气体产生部的结构的纵剖视图。图4是示出气体产生部的结构的横剖视图。图5是图4的局部放大图。图6是示出产生气体分析装置进行的气体成分的分析动作的框图。图7是示出二维谱计算部计算出的质谱的一例的图。图8是信号强度时间变化计算部计算出的信号强度的时间变化的示意图。图9是将信号强度的时间变化与图7的质谱重叠显示的图。图10是出现了两个峰F的通常的质谱的示意图。图11是将信号强度的时间变化与图10的质谱重叠显示的示意图。图12是放大显示了图9的横轴的图。图13是将信号强度的时间变化和色谱与质谱重叠显示的图。图14是将信号强度的时间变化和色谱与质谱重叠显示的另一图。图15是将每个时间的质谱沿着时间序列重叠显示在同一画面上的现有的图。标号说明210：计算机(谱数据处理装置)；217：二维谱计算部；218：信号强度时间变化计算部；219：显示控制部；220：显示部；MS：质谱(二维谱)；TC：信号强度的时间变化。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析计(质量分析装置)110在内的产生气体分析装置200的结构的立体图，图2是示出气体产生部100的结构的立体图，图3是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的纵剖视图，图4是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的横剖视图，图5是图4的局部放大图。产生气体分析装置200具有作为箱体的主体部202、安装在主体部202的正面上的箱型的气体产生部安装部204以及对整体进行控制的计算机(控制部)210。计算机210具有进行数据处理的CPU、存储计算机程序和数据的存储部215、液晶监视器等显示部220、以及键盘等输入部等。在气体产生部安装部204的内部收纳有气体产生部100，圆筒状的加热炉10、试样架20、冷却部30、使气体分支的分流器40、离子化部50、以及惰性气体流路19f以组件的形式成为一个整体从而得到该气体产生部100。并且，在主体部202的内部收纳有对加热试样而产生的气体成分进行分析的质量分析计110。另外，如图1所示，从气体产生部安装部204的上表面朝向前表面地设置有开口204h，当使试样架20移动到加热炉10外侧的排出位置(后述)时，该试样架20位于开口204h处，因此能够从开口204h将试样从试样架20取出或放到试样架20上。并且，在气体产生部安装部204的前表面上设置有缝204s，通过使从缝204s露出到外部的开闭把手22H左右移动，能够使试样架20向加热炉10的内外移动以设置于上述的排出位置，从而取出或放入试样。另外，例如如果利用由计算机210控制的步进电机等使试样架20在移动轨道204L(后述)上移动，则能够将使试样架20向加热炉10的内外移动的功能自动化。接下来，参照图2～图6对气体产生部100的各部分的结构进行说明。首先，加热炉10以使轴心O为水平的方式安装在气体产生部安装部204的安装板204a上，具有呈以轴心O为中心而开口的大致圆筒状的加热室12、加热块14以及保温套16。在加热室12的外周配置有加热块14，在加热块14的外周配置有保温套16。加热块1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种谱数据处理装置，其根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部，其特征在于，所述谱数据处理装置具有：二维谱计算部，其根据所述谱数据，将每个所述时间的所述信号强度累加，计算所述信号强度和所述参数的二维谱；信号强度时间变化计算部，其根据所述谱数据，按照每个所述参数来计算所述信号强度的时间变化；以及显示控制部，其使所述显示部显示所述二维谱，并且，以所述参数与所述二维谱一致、且所述时间沿着所述二维谱的所述信号强度的轴的形态，通过多色、明暗或亮度变化来重叠显示所述信号强度的时间变化。

【技术特征摘要】
2017.07.21 JP 2017-1422371.一种谱数据处理装置，其根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部，其特征在于，所述谱数据处理装置具有：二维谱计算部，其根据所述谱数据，将每个所述时间的所述信号强度累加，计算所述信号强度和所述参数的二维谱；信号强度时间变化计算部，其根据所述谱数据，按照每个所述参数来计算所述信号强度的时间变化；以及显示控制部，其使所述显示部显示所述二维谱，并且，以所述参数与所述二维谱一致、且所述时间沿着所述二维谱的所述信号强度的轴的形态，通过多色、明暗或亮度变化来重叠显示所述信号强度的时间变化。2.根据权利要求1所述的谱数据处理装置，其中，所述谱数据是质量分析的数据，所述参数是质荷比，所述二维谱是质谱。3.根据权利要求2所述的谱数据处理装置，其中，所述谱数据是有机化合物的质量分析的数据。...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐久田昌博，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：日本,JP