晶圆派工方法技术

本发明专利技术公开了一种晶圆派工方法，属于集成电路领域。派工方法包括：根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。如此，随后到缺陷检测站点检查后，制程机台组中的每个机台都会有检查结果，避免了现有技术中YE工程师手动取消等操作，从而提高了良率监控方案的监控效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于集成电路领域，具体地说，涉及一种。
技术介绍
在晶圆的加工制过程中，不同的制程机台对晶圆进行加工处理。为了监控各个制程机台加工完成的晶圆是否存在缺陷，通常设定一定的抽检晶圆样本，通过缺陷扫描机台对样本中的晶圆进行表面扫描以检测存在缺陷，最终达到对生产区域制程机台的良率实现监控。 目前，业内的良率监控方案是给每一制程机台加工处理的晶圆定义一个生产批号，通过选中生产批号末尾数为奇数或偶数的晶圆，作为抽检晶圆样本，随机的进入缺陷扫描机台进行缺陷检测。良率工程师对生产线产品的抽样控制方法，对于不同类型产品根据产品批号设置以尾数为奇数或者偶数，在生产工艺过程中随机的进入缺陷扫描区域机台进行扫描，从而达到监控工艺过程中良率的作用。但是，由于扫描的晶圆数量往往很多，而扫描机台的产能却有限，导致需要扫描产品往往远远超出缺陷扫描机台的产能。具体地，一方面，因为要扫描的晶圆很多，但扫描机台的产能，往往会造成等待和滞留的状况，影响工厂流片速度；另外一方面，如果连续对I个制程机台加工的晶圆进行缺陷扫描，这样就会占用其他制程机台加工的晶圆的缺陷扫描，从而缺乏对这些制程机台的监控机会。这两方原因最终导致扫描机台的扫描压力较大。为缓解扫描机台扫描压力较大的问题，现有技术中，良率(Yield Enhancement,以下简称YE)工程师会根据产品批号手动选择取消等待缺陷扫描区域的晶圆扫描。具体地，YE工程师要对晶圆的来源制程机台的历史记录进行查询，取消刚才已经扫瞄过的制程机台晶圆，把机会留其他制程机台的晶圆，以此方法来减少扫描机台的扫描压力。但是，现有技术中的良率监控方法有如下缺陷:(I) YE工程师手动取消扫描,一方面会占用工程师的工作时间；另外一方面,还容易出现选择晶圆错误，将不该取消的晶圆取消。(2) YE工程师必须每间隔一定时间去进行查看，挑选一些刚才已经监控过的机台的产品，取消扫描，以减少不必要的等待，间隔时间由YE部门基于等待晶圆的数量，根据平时数据统计和经验来定义，这都会影响产品完成一层光罩工艺的时间(Cycle Time)，延长了广品的等待时间。(3)若晶圆在扫描机台上连续扫描或者间隔较短时间的扫描结果是来自同一个工艺的制程机台，导致了扫描机台的浪费。综上，现有技术中的良率监控方案的监控效率亟待进一步提闻。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种，用以部分或全部克服、部分或全部解决现有技术存在的上述技术问题。为了部分或全部克服、部分或全部解决上述技术问题，本专利技术提供了一种，包括:根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。优选地，在本专利技术的一实施例中，根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息包括:定义一生产批号，根据生产批号的尾数来定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本,据此生成抽样配置信息。优选地，在本专利技术的一实施例中，所述机台的制程时间包括所述生产批号。优选地，在本专利技术的一实施例中，所述生产批号的尾数为抽样产品批次，比如为奇数或是偶数，原则上依照良率工程抽样规则选取产品批号尾数。优选地，在本专利技术的一实施例中，根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息包括:根据生产批号的尾数有规律或者随机定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本。优选地，在本专利技术的一实施例中，将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上时还包括:给已经分配了晶圆样本的制程机台赋予一生产标志。优选地，在本专利技术的一实施例中，所述抽样配置信息包括晶圆样本的名称、晶圆样本加工的制程机台编号、FAB生产规则。优选地，在本专利技术的一实施例中，所述机台的制程时间为产品进出制程机台的时间。优选地，在本专利技术的一实施例中，上述方法还包括:当一组制程机台组中的每一个制程机台都分配了生产标志后，在下一个生产周期前，清除该生产标志。与现有的方案相比，本专利技术中，根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规贝U，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。如此，随后到缺陷检测站点检查后，制程机台组中的每个机台都会有检查结果，避免了现有技术中YE工程师手动取消等操作，从而提高了良率监控方案的监控效率。【附图说明】图1为本专利技术实施例一中流程示意图；图2所示为图1中步骤101的流程图；图3为本专利技术实施例二中流程示意图；图4为本专利技术实施例二中流程图。【具体实施方式】以下将配合图式及实施例来详细说明本专利技术的实施方式，藉此对本专利技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。本专利技术的下述实施例中，根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。如此，随后到缺陷检测站点检查后，制程机台组中的每个机台都会有检查结果，避免了现有技术中YE工程师手动取消等操作，从而提高了良率监控方案的监控效率。图1为本专利技术实施例一中流程示意图；如图1所示，其可以包括:步骤101、根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；步骤102、根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。需要说明的是，由于派工可能发生的制程机台是可以正在运行的，允许等待时间又会影响产品关键的时间，但实际生产过程中，是不是要派货的机台还得需要进一步确定。因此，步骤102中，具体地，通过计算FAB生产规则中的样本晶圆的允许等待时间是否大于机台生产的制程时间，如果大于，则可以将晶圆样本平均派工到制程机台上；否则，如果等待时间小于机台生产的制程时间，即若允许等待时间不足以让产品等待派工，就不能执行平均抽样派工，而应该马上通过当前制程机台。本实施例中，步骤101可以具体包括:定义一生产批号，根据生产批号的尾数来定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息。本实施例中，优选地，所述机台的制程时间包括所述生产批号。具体地，所述生产批号的尾数为抽样产品批次。据此，图2所示为图1中步骤101的流程图；如图2所示，当所述生产批号的尾数为抽样产品批次时，步骤101可以包括:步骤111、定义一生产批号，根据生产批号的尾数来定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；步骤121、根据生产批号的尾数有规律或者随机定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本。图3为本专利技术实施例二中流程示意图；如图3所示，其还可以包括:步骤301、根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；步骤302、根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上；上述步骤301-302中的，与图1中的步骤101-102相同，在此不再赘述。步骤303、给已经分配了晶圆样本的制程机台赋予一生产标志。在上述图3所示实施例的基础上，还可以形成本专利技术另一实施例中的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶圆派工方法，其特征在于，包括：根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。

【技术特征摘要】
1.一种晶圆派工方法，其特征在于，包括: 根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息；根据所述抽样配置信息、机台的制程时间，生成派工规则，以将晶圆样本平均派工到制程机台组中的制程机台上。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据FAB生产规则定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息包括: 定义一生产批号，根据生产批号的尾数来定义进入缺陷检测扫描平台的晶圆样本，据此生成抽样配置信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述机台的制程时间包括所述生产批号。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述生产批号的尾数为抽样产品批次。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据FAB...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈晓栋，邵雄，
申请(专利权)人：上海华力微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：