用于测试设定/保持时间的设备和方法技术

技术编号:9435209 阅读:124 留言:0更新日期:2013-12-12 01:05
本发明专利技术涉及用于测试设定/保持时间的设备和方法。该方法包括:当测试模式处在禁用状态下时,根据第一输入数据校准芯片外驱动器的输出数据电平;以及当测试模式处在启用状态下时,根据第二输入数据校准多个数据输入单元当中的选择的数据输入单元的设定/保持时间。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于测试设定/保持时间的方法,包括:当测试模式处在禁用状态下时,根据第一输入数据校准芯片外驱动器的输出数据电平;以及当测试模式处在启用状态下时,根据第二输入数据校准多个数据输入单元当中的选择的数据输入单元的设定/保持时间。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:李政勋
申请(专利权)人:海力士半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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