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本发明涉及用于测试设定/保持时间的设备和方法。该方法包括：当测试模式处在禁用状态下时，根据第一输入数据校准芯片外驱动器的输出数据电平；以及当测试模式处在启用状态下时，根据第二输入数据校准多个数据输入单元当中的选择的数据输入单元的设定/保持时...
该专利属于海力士半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。

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