主板测试设备和方法技术

技术编号:15335926 阅读:178 留言:0更新日期:2017-05-16 22:14
本发明专利技术公开了一种主板测试设备及方法,所述主板测试设备包括:图像采集模块、计算机和转接模块,其中,所述转接模块包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板的第二接插接口之间的连接,且所述第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块,所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块;所述图像采集模块的输入端与转接模块连接、输出端与计算机连接,且所述图像采集模块用于对所述转接模块传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机;所述计算机用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。本发明专利技术能够减少材料线的损损耗,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
主板测试设备和方法
本专利技术涉及主板测试的
,尤其涉及一种主板测试设备和方法。
技术介绍
随着4K技术的快速发展,4K电视随之产生。4K电视的物理分辨率为3840×2160,分辨率是2K电视的4倍,在此分辨率下,观众将可以看清画面中的每一个细节,每一个特写,得到一种身临其境的观感体验。4K电视带来的观感体验使得各个生产厂家对4K电视的产量逐年增加。对于电视生产厂家来说,工厂产线上对电视出产前的各种测试也是必不可少的,但产线测试有时候会带来一定的损耗,甚至在一项技术刚出来的时候由于测试方面不成熟不规范,给工厂带来的损耗以及人工增加费用也是很大的一项支出,而4K技术在这两年发展的很迅速,同时出厂前的测试也是必不可少的。目前,现有VB1线的测试方式,每次都需要对主板端口进行拔插,而VB1线属于高速传输的的信号线,工艺精细,经常性的拔插很容易造成损耗,信号也容易受到静电干扰,且测试效率不高,同时对工厂自动化操作带来一定的阻碍。因此现有VB1线的测试方式存在材料损耗率较高、测试效率较低,信号容易受到干扰的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种主板测试设备和方法,旨在解决现有VB1线的测试方式材料损耗率较高、测试效率较低,信号容易受到干扰的技术问题。为实现上述目的,本专利技术提供的一种主板测试设备,所述主板测试设备包括:图像采集模块、计算机和转接模块,其中所述转接模块包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板的第二接插接口之间连接,且所述第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块,所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块;所述图像采集模块的输入端与转接模块连接、输出端与计算机连接,且所述图像采集模块用于对所述转接模块传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机;所述计算机用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。可选地,所述转接模块、所述图像采集模块和所述计算机均包括VB1接口,所述图像采集模块通过VBI接口分别与所述转接模块和所述计算机连接。可选地,所述转接模块还包括待测主板供电单元,所述待测主板供电单元与待测主板的供电接插针连接,用于向待测主板供电。可选地,所述计算机通过检测线与转接模块和图像采集模块连接,所述计算机还用于检测图像采集模块与转接模块之间的连接状态,以及图像采集模块与计算机之间的连接状态。可选地,所述转接模块还包括显示单元,所述显示单元用于显示所述转接模块与待测主板的连接状态信息。此外,为实现上述目的,本专利技术还提供一种主板测试方法,所述主板测试方法包括:所述主板测试方法包括:待测主板通过接插接口与转接模块连接后,所述待测主板上电输出测试信号,并将所述测试信号传输至所述转接模块;所述转接模块将所述测试信号转接至图像采集模块;所述图像采集模块对所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号传输至计算机;所述计算机对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。可选地,所述计算机对接收到的已处理测试信号进行合格验证并显示验证结果的步骤包括:判断已处理测试信号是否与预设信号相同;若已处理测试信号与预设信号相同,则判定测试后的主板合格,并显示合格信息;若已处理测试信号与预设信号不同,则判定测试后的主板不合格,并显示不合格信息。可选地,所述若已处理测试信号与预设信号不同,则判定所述测试信号不合格,并显示不合格信息的步骤之后,所述主板测试方法还包括:计算已处理测试信号与预设信号的相似度;在所述相似度大于或等于预设相似度时,以不同颜色线条绘制并显示已处理测试信号和预设信号。可选地,所述主板测试方法还包括:所述计算机以间隔预设时间检测所述转接模块与所述图像采集模块之间的连接状态,以及所述计算机与所述图像采集模块之间的连接状态;显示检测获得的连接状态信息。可选地,所述主板测试方法还包括:所述转接模块检测待测主板中的接插针与所述转接模块中的接插针床的连接状态;显示检测获得的连接状态信息。本专利技术主板测试设备包括图像采集模块、计算机和转接模块,所述转接模块包括接插针,所述转接模块包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板的第二接插接口之间连接,且所述第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块,所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块;所述图像采集模块的输入端与转接模块连接、输出端与计算机连接,且所述图像采集模块用于对所述转接模块传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机;所述计算机用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。通过上述方式,本专利技术在现有材料线测试设备中增加转接模块,且该转接模块包括接插接口,该接插接口使用寿命较长,不容易损坏,待测主板通过接插接口与转接模块连接,且该转接模块与图像采集模块连接,免去材料线的插拔,能够消除插拔带来的静电干扰,可有效减少材料线的损耗,提高测试效率,也便于工厂自动化控制。附图说明图1为本专利技术主板测试设备第一实施例的结构示意图;图2为本专利技术主板测试设备第二实施例的结构示意图;图3为本专利技术主板测试方法第一实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。本专利技术提供一种主板测试设备。参照图1,图1为本专利技术主板测试设备第一实施例的结构示意图。在本实施例中,该主板测试设备包括:图像采集模块100、转接模块200和计算机300,所述转接模块200包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板400的第二接插接口之间的连接,且所述第一接插接口将待测主板400基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块200,所述转接模块200用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块100;所述图像采集模块100的输入端与转接模块200连接、输出端与计算机300连接,且所述图像采集模块100用于对所述转接模块200传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机300;所述计算机300用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。具体地,该图像采集模块100的输入端与转接模块连接200,而该图像采集模块100的输出端与计算机300连接,该转接模块200包括第一接插接口,该第一接插接口实现与待测主板400的第二接插接口之间的连接,且该第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块。所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块,该第一接插接口可以为接插针,该第二接插接口可以为接插针床,同时该第一接插接口还可以为接插针床,且该第二接插接口还可以为接插针。在本实施例中,该第一接插接口为接插针床,该第二接插接口为接插针,该接插针床可用于实现与待测主板400的信号连接及电连接,在需要测试待测主板400时,该待测主板400通过接插针与该转接模块200连接,即将待测主板的接插针对应插入转接模块的接插针床。该图像采集模块通过VB1线与转接模块连接,该连接可以为固定连接,也可以为活动连接。进一步地,所述转接模块200、所述图像采集模块100和所述计算机300均包括材料线接口,所述图像采集模块本文档来自技高网...
主板测试设备和方法

【技术保护点】
一种主板测试设备,其特征在于,所述主板测试设备包括:图像采集模块、计算机和转接模块,其中所述转接模块包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板的第二接插接口之间的连接,且所述第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块,所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块;所述图像采集模块的输入端与转接模块连接、输出端与计算机连接,且所述图像采集模块用于对所述转接模块传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机;所述计算机用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。

【技术特征摘要】
1.一种主板测试设备,其特征在于,所述主板测试设备包括:图像采集模块、计算机和转接模块,其中所述转接模块包括第一接插接口,所述第一接插接口实现与待测主板的第二接插接口之间的连接,且所述第一接插接口将待测主板基于第二接插接口传输的测试信号转接至转接模块,所述转接模块用于将转接获得的测试信号传输至图像采集模块;所述图像采集模块的输入端与转接模块连接、输出端与计算机连接,且所述图像采集模块用于对所述转接模块传输的所述测试信号进行处理,并将处理后的测试信号输出至计算机;所述计算机用于对接收到的已处理测试信号进行合格验证并输出验证结果。2.如权利要求1所述的主板测试设备,其特征在于,所述转接模块、所述图像采集模块和所述计算机均包括VB1接口,所述图像采集模块通过VBI接口分别与所述转接模块和所述计算机连接。3.如权利要求1所述的主板测试设备,其特征在于,所述转接模块还包括待测主板供电单元,所述待测主板供电单元与待测主板的供电接插针连接以向待测主板供电。4.如权利要求1-3中任一项所述的主板测试设备,其特征在于,所述计算机通过检测线与转接模块和图像采集模块连接,所述计算机还用于检测图像采集模块与转接模块之间的连接状态,以及图像采集模块与计算机之间的连接状态。5.如权利要求1所述的主板测试设备,其特征在于,所述转接模块还包括显示单元,所述显示单元用于显示所述转接模块与待测主板的连接状态信息。6.一种主板测试方法,其特征在于,所述主板测试方法包括:待测主板通过接插...

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡伟峰朱生林罗丹
申请(专利权)人:深圳TCL数字技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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