一种用于HDMI接口的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于HDMI接口的测试方法及其测试方法，其中，该测试装置包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，逻辑判断模块分别与解码模块、功能测试模块和集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将低速信号发送到功能测试模块进行测试。该测试装置以及对应的测试方法解决了HDMI高速信号测试的难题，测试稳定可靠，测试效率较高。

Testing device and testing method for HDMI interface

The invention discloses a method for testing and the test method of HDMI interface, the test device includes a test module, decoding module, function logic module and integrated circuit tester; wherein, the logical judgment module is respectively connected with the decoding module, test module and integrated circuit tester, used for control, logical analysis, communication and monitoring of other modules; decoding module is used to decode the HDMI signal into a low signal, and the low speed signal is sent to the functional test module for testing. The testing device and the corresponding testing method solve the difficult problem of HDMI high-speed signal test, the test is stable and reliable, and the testing efficiency is higher.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于HDMI接口的测试装置，同时涉及应用该测试装置的测试方法，属于集成电路测试

技术介绍
随着数字化高清视频、音频信号的迅猛发展，高清晰数字多媒体接口(HDMI)开始广泛使用。HDMI是一种数字化视频/音频接口技术，是适合影像传输的专用型数字化接口，其可同时传送音频和影像信号，最高数据传输速度为4.5Gb/s，同时无需在信号传送前进行数/模或者模/数转换。自颁布HDMI标准时起，HDMI已被大量设备制造商采用，每年有数以亿计的HDMI设备投放市场。视频处理芯片技术作为数字监控的动力之源，具备HDMI接口的芯片，特别是以SoC为代表的单片系统凭借耗电量低、体积小、低成本等优势，在数字应用领域格外活跃。为保证HDMI可靠，需要测试设备能够接收HDMI的数据流并验证其准确性，因此数据输出端口功能测试非常重要。在12bit模式下，数据传输率是225MHz，3条数据通道的数据传输率是2.25Gb/s；为完成HDMI测试，必须解决被测器件最高达2.25Gb/s的测试，但目前主流的常规配置集成电路自动测试系统(ATE)最高测试速率一般都在1Gb/s以下，因此无法直接测试芯片的HDMI信号。为解决现有问题，在申请号为201610464157.9的中国专利申请中公开了一种HDMI高速信号测试夹具及测试方法。该技术方案包括HDMI公头、TMDS高速信号的端接上拉及阻抗控制、低速信号设计，测试源端设备HDMI高速信号时，将测试夹具HDMI公头插入源端设备的HDMI母座，在夹具上裸露的TMDS走线末端采用通用的高端宽点测探头或焊接探头，即可实现HDMI高速信号测试，大大降低了测试成本，且操作简单便捷，给测试带来了极大的便利。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术所要解决的首要技术问题在于提供一种用于HDMI接口的测试装置；本专利技术所要解决的另一技术问题在于提供一种应用该测试装置的测试方法。为实现上述专利技术目的，本专利技术采用下述的技术方案：一种用于HDMI接口的测试装置，包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，所述逻辑判断模块分别与所述解码模块、所述功能测试模块和所述集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；所述解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将所述低速信号发送到所述功能测试模块进行测试。其中较优地，所述功能测试模块包括锁相环高速信号产生器、数据分配电路、模式选择电路、校验电路和比较电路；其中，所述数据分配电路连接所述模式选择电路，所述模式选择电路的输出端连接所述校验电路，所述校验电路输出端连接所述比较电路。其中较优地，所述锁相环高速信号产生器用以产生高速时钟，连接解码模块，用于给解码模块发送时钟信号。其中较优地，所述模式选择电路为1个2选1电路和1个4路输出选择器，分别用于选择校验模式和校验通道数。其中较优地，所述校验电路包含3路奇偶校验校验或循环冗余校验，由所述模式选择电路确定校验电路的类型。其中较优地，所述比较电路用于将校验电路传输的输出值与预先保存在结果存储器中的理论值进行比较，并将比较结果传输到所述逻辑判断模块。其中较优地，所述集成电路测试仪通过测试通道接收比较电路和逻辑判断模块的输出结果；所述集成电路测试仪通过电源和控制通道与解码模块连接，进行所述解码模块内部寄存器的测试；所述集成电路测试仪与所述功能测试模块连接，进行功能测试模块中各电路的初始化操作。其中较优地，所述逻辑判断模块通过串行总线连接解码模块，完成对所述解码模块寄存器的配置；所述逻辑判断模块与所述集成电路测试仪相连，接收所述集成电路测试仪的指令，并对所述指令进行解码；所述逻辑判断模块与所述功能测试模块相连接，完成对校验电路的配置和对测试结果的判断。一种用于HDMI接口的测试方法，采用上述用于HDMI接口的测试装置实现，包括如下步骤：S1，从集成电路测试仪中获取配置测试码，按照指定时序为解码模块设置寄存器；S2，当解码模块寄存器设置正常时，逻辑判断模块产生测试数据；S3，当逻辑判断模块接收到启动测试码时，将测试数据发送到被测器件，所述被测器件将产生的HDMI信号发送到解码模块，所述解码模块将HDMI信号解码成低速信号；S4，解码模块将解码的低速信号发送到功能测试模块，进行测试操作，并将产生的结果与预存的理论运行结果进行比较，得出测试结果。其中较优地，在步骤S4中，所述将产生的结果与预存的理论运行结果进行比较，得出测试结果，进一步包括如下步骤：S41，当校验电路未能按时发送校验完成信号时，比较电路将测试完成信号置低，发送给集成电路测试仪，测试失败；S42，当校验电路按时发送校验完成信号时，将各路校验电路的输出值与预存的理论运行结果进行比较，当二者不同时，启动内部计数器完成加1操作。S43，重复步骤S42，直至解码的低速信号全部操作完成，将内部计数器计数值发送到逻辑判断模块；S44，逻辑判断模块将内部计数器计数值与给定的容差值进行比较，当内部计数器计数值小于容差值时，将测试成功的信息发送给集成电路测试仪；当内部计数器计数值大于等于容差值时，将比较电路将内部计数器计数值以及测试失败的信息返回给集成电路测试仪。本专利技术所提供的用于HDMI接口的测试装置及测试方法，通过设置专门的解码模块，将高速的HDMI信号解码为低速信号，按照预设要求将解码出的信号进行校验和比较，并将比较结果送到集成电路测试仪(简称ATE)处理。该方法在高速信号测试中降低了ATE的负担，使ATE只需完成与被测芯片接口通信和辅助模块管理功能，所有其他测试均由本方案提出的电路产生，具有信号实时测试的特性，速度快，可靠性高，解决了HDMI高速信号测试的难题，测试稳定可靠，测试效率较高。附图说明图1为本专利技术所提供的所述用于HDMI接口的测试装置的结构示意图；图2为本专利技术所提供的实施例中，采用循环移位产生测试数据的流程图；图3为本专利技术所提供的实施例中，解码模块与功能测试码模块连接的结构示意图；图4为本专利技术所提供的实施例中，比较电路的数据处理流程图；图5为本专利技术所提供的所述用于HDMI接口的测试方法的流程图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术的
技术实现思路
进行详细具体的说明。总体而言，本专利技术所提供的用于HDMI接口的测试装置是一种独立测试模块与集成电路测试仪结合的快速测试装置。该测试装置由解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块、集成电路测试仪(ATE)四部分构成，可测试HDMI接口的功能及电参数。该测试装置中数字集成电路测试仪与逻辑判断模块交换发送控制信号，解码模块和功能测试模块完成对测试信号分析、处理，再将结果返回给集成电路测试仪做后续处理，由集成电路测试仪辅助完成电参数测试、时间特性(如频率)测试等功能。在本专利技术所提供的用于HDMI接口的测试装置中，应用解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块，搭载在测试板上嵌入ATE，只需要ATE提供必要的电源、相应的控制信号，就可以完成HDMI芯片的测试。其中，解码模块的作用是将被测HDMI芯片(被测器件)输出的RGB视频数据数字信号(HDMI信号)，有效的转换接收并提供标准或高清格式，选取24位RGB作为解码出的低速信号传送到功能测试模块。逻辑判断模块与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于HDMI接口的测试装置，其特征在于包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，所述逻辑判断模块分别与所述解码模块、所述功能测试模块和所述集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；所述解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将所述低速信号发送到所述功能测试模块进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种用于HDMI接口的测试装置，其特征在于包括解码模块、功能测试模块、逻辑判断模块和集成电路测试仪；其中，所述逻辑判断模块分别与所述解码模块、所述功能测试模块和所述集成电路测试仪相连接，用于对其他模块进行控制、逻辑分析、通信与监测；所述解码模块用于将接收的HDMI信号解码成低速信号，并将所述低速信号发送到所述功能测试模块进行测试。2.如权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述功能测试模块包括锁相环高速信号产生器、数据分配电路、模式选择电路、校验电路和比较电路；其中，所述数据分配电路连接所述模式选择电路，所述模式选择电路的输出端连接所述校验电路，所述校验电路输出端连接所述比较电路。3.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述锁相环高速信号产生器用以产生高速时钟，连接解码模块，用于给解码模块发送时钟信号。4.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述模式选择电路为1个2选1电路和1个4路输出选择器，分别用于选择校验模式和校验通道数。5.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述校验电路包含3路奇偶校验校验或循环冗余校验，由所述模式选择电路确定校验电路的类型。6.如权利要求2所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述比较电路用于将校验电路传输的输出值与预先保存在结果存储器中的理论值进行比较，并将比较结果传输到所述逻辑判断模块。7.如权利要求1所述的用于HDMI接口的测试装置，其特征在于：所述集成电路测试仪通过测试通道接收比较电路和逻辑判断模块的输出结果；所述集成电路测试仪通过电源和控制通道与解码模块连接，进行所述解码模块内部寄存器的测试；所述集成电路测试仪与所述功能测试模块连接，进行功能测试模块中各电路的初始化操作。8.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：高剑，冯建科，郭士瑞，袁科学，蒋常斌，李杰，
申请(专利权)人：北京自动测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11