电流测试方法及电子设备技术

技术编号:15543681 阅读:184 留言:0更新日期:2017-06-05 13:45
本发明专利技术提供一种电流测试方法及电子设备,其中,电流测试方法包括:通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上,根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。本发明专利技术提供的电流测试方法及电子设备,通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样,并由电子设备自身得到第一电流,从而在电流测试时不需要设置其他测试设备,简化了电流测试的方法。

Current testing method and electronic equipment

The present invention provides a current test method and electronic equipment, which includes the current test methods: the analog / digital converter ADC on the voltage of the first resistance on the first sampling voltage, a first resistor connected in series between the electronic equipment and electronic equipment battery circuit, according to the ratio of the first voltage and the first resistor are first current. The current test method provided by the invention of electronic equipment and electronic equipment, sampled by their ADC voltage to the first resistor, a first current is obtained by electronic equipment itself, which do not need to set the other test equipment in the current test, simplify the current testing method.

【技术实现步骤摘要】
电流测试方法及电子设备
本专利技术涉及电子技术,尤其涉及一种电流测试方法及电子设备。
技术介绍
电子设备不论在出厂前的测试还是投入使用后的测试,都需要获取电子设备运行时的电流,以通过电流得到功耗并判断电子设备的工作状态。现有技术中,为了得到电子设备运行时的电流,通过外部的直流电源向电子设备供电,并通过电脑检测直流电源向电子设备输出的电流,从而得到电子设备运行时的电流。采用现有技术,测试电子设备的电流时所需的仪器较多,电流测试的方法较为复杂。
技术实现思路
本专利技术提供一种电流测试方法及电子设备,简化了电流测试的方法。本专利技术提供一种电流测试方法,包括:通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上;根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。在本专利技术一实施例中,所述根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流之后,还包括:将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内。在本专利技术一实施例中,所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后,还包括:所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上。在本专利技术一实施例中,所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上之后,还包括:所述电子设备根据所述第一电流得到所述电子设备的电流功耗。在本专利技术一实施例中,所述通过电子设备的模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压包括:所述ADC每间隔第一时间对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。在本专利技术一实施例中,所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后,还包括:获取所述内部寄存器中的每间隔第一时间得到的所述第一电流。在本专利技术一实施例中,所述通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压之前还包括:开启所述ADC的采样开关,使所述ADC开始对所述第一电阻上的电压进行采样。本专利技术提供一种电子设备,包括:模/数转换器ADC、电池和第一电阻;所述第一电阻串接在所述电子设备和所述电池之间的回路上;所述ADC用于对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,以使所述电子设备根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。在本专利技术一实施例中,还包括:内部寄存器;所述内部寄存器用于储存所述第一电流。在本专利技术一实施例中,所述ADC还用于每间隔第一时间对所述第一电阻的电压进行采样得到每间隔第一时间的第一电压,以使所述电子设备根据所述每间隔第一时间的第一电压与所述第一电阻的比值得到每间隔第一时间的第一电流;所述内部寄存器还用于储存所述每间隔第一时间的第一电流。本专利技术提供一种电流测试方法及电子设备,其中,电流测试方法包括:通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上,根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。本专利技术提供的电流测试方法及电子设备,通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样,并由电子设备自身得到第一电流,从而在电流测试时不需要设置其他测试设备,简化了电流测试的方法。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术电流测试方法实施例一的流程示意图;图2为本专利技术电流测试方法实施例二的流程示意图;图3为本专利技术电流测试方法实施例三的流程示意图;图4为本专利技术电子设备实施例一的结构示意图;图5为本专利技术电子设备实施例二的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本专利技术的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。下面以具体地实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。图1为本专利技术电流测试方法实施例一的流程示意图。如图1所示,本实施例的执行主体是电子设备,电子设备包括:移动终端、笔记本电脑或台式电脑等。如图1所示,本实施例电流测试方法包括:S101:通过模/数转换器(Digital-to-AnalogConverter,简称ADC)对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。其中,第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上。具体地,ADC连接第一电阻,并通过对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。其中,第一电阻在电子设备和电子设备的电池之间的回路上,电子设备的电池用于向电子设备系统的运行提供电量。电子设备的电池向电子设备供电时包括正负极两路构成供电回路,第一电阻可以设置在该供电回路的任一位置。当电子设备的系统运行时,电子设备的电池通过供电回路对电子设备的系统提供运行的电量。则此时,电子设备的电池输出的电流都会经过供电回路,第一电阻上的电流即为电子设备的系统运行时所需要的电流。为了得到电子设备的系统运行时所需要的电流,电子设备通过电子设备中的ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。S102:根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。具体地,电子设备通过公式计算得到第一电流。其中,R为第一电阻的阻值,U为S101中得到的第一电压的电压值,I为第一电流,第一电流为电子设备运行时,电池通过第一电阻向电子设备提供的电量。其中,第一电阻的阻值应小于10毫欧,可使第一电阻对电子设备的电池的电量的消耗与第一电流的计算结果相比较小,可以忽略不计。本实施例提供的电流测试方法通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样,并由电子设备自身得到第一电流,从而在电流测试时占用仪器较少,不需要设置其他测试设备,通过电子设备实现自身电流的测试,简化了电流测试的方法。并且由于方案简单直观、方便灵活,可有效提高电子设备研发人员电流测试的工作效率。图2为本专利技术电流测试方法实施例二的流程示意图。如图2所示,本实施例电流测试方法在图1所示实施例的基础上,包括:S201:通过模/数转换ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。本步骤具体实施方式同S101,其原理与实现方式相同,不再赘述。S202:根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。本步骤具体实施方式同S102,其原理与实现方式相同,不本文档来自技高网...
电流测试方法及电子设备

【技术保护点】
一种电流测试方法,其特征在于,包括:通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上;根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

【技术特征摘要】
1.一种电流测试方法,其特征在于,包括:通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上;根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流之后,还包括:将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后,还包括:所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上之后,还包括:所述电子设备根据所述第一电流得到所述电子设备的电流功耗。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述通过电子设备的模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压包括:所述ADC每间隔第一时间对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。6.根据权利要求5所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩秉权
申请(专利权)人:深圳众思科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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