本发明专利技术提供一种电流信号的测试装置，其用于测试待测电路板的多个脚位的电流状态，上述测试装置包含有光棒阵列、检测单元以及处理单元；其中，光棒阵列包含有分别对应于待测电路板的不同脚位的多个LED光条；检测单元包含有多个用于检测上述LED光条的亮灭的光检测电路，并将检测结果传送至处理单元，以使处理单元判断待测电路板是否通过测试；由此，本发明专利技术通过自动化检测和判断待测电路板是否通过测试，可减少人工判断错误的可能性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测量输出电流的测试装置，具体而言是指一种通过电光转换以及光检测电路的方式来检测待测电路板的电流状态的测试装置，能够有效且正确地判断待测电路板是否通过测试。
技术介绍
显示屏幕、例如背光光源使用LED光条(LEDlightbar)的液晶显示器，其LED光条的LED灯是否可以正常运作对于液晶显示器的最终显示特性具有重大影响。传统上，生产线中通常使用测试光棒(1ightbar)来检测液晶显示器的LED光条的控制板的输出电流。测试光棒上的LED灯通常是呈单列排列，并通过人工查看LED灯的亮灭的方式来判断控制板各脚位的输出电流是否正常。然而，不同型号与规格的控制板的检测通常需要使用不同的测试光棒，不仅测试过程繁琐，而且自动化程度差。此外，通过人工方式来查看LED灯的亮灭，也容易发生判断错误的情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于，针对传统测试光棒作出改进，提供一种电流信号的测试装置，其能够自动检测LED灯的亮灭，从而能够减少人工判断错误的可能性。为了达成上述目的，本专利技术提供了一种用于测试待测电路板的电流信号的测试装置，该测试装置包含有光棒阵列、检测单元以及处理单元。其中，光棒阵列包含有第一连接端和多个与待测电路板的多个脚位一一对应的第二连接端，并且，在第一连接端与各个第二连接端之间分别连接有由多个LED串联形成的LED光条。检测单元包含有多个光检测电路，其中，各个光检测电路都具有一个光敏电阻，各个光敏电阻分别与多个LED光条的多个LED中的一个LED一一对应而设置，并且，各个光检测电路可根据上述光敏电阻所对应的各个LED的亮灭而产生多个检测信号。处理单元与该检测单元电性连接以接收该检测信号，并且处理单元根据上述检测信号来判断待测电路板是否通过测试。本专利技术还提供一种用于测试待测电路板的测试方法，该测试方法的步骤包括：a)将光棒阵列对应连接至待测电路板的不同脚位，其中，光棒阵列包含有第一连接端和多个与待测电路板的多个脚位一一对应的第二连接端，并且，在第一连接端与各个第二连接端之间分别连接有由多个LED串联形成的LED光条；b)对上述待测电路板和光棒阵列进行通电；c)判断各个LED光条的第一个LED是否都发光，若判断结果为是，则待测电路板通过测试，否则待测电路板没有通过测试。由此，本专利技术的测试装置通过其内部的检测单元自动地检测光棒阵列的LED灯的亮灭，并将电流状态的检测结果传送到处理单元以进行后续的测试动作与警示动作，整个判断过程无需依赖人工，可减少人工判断错误的可能性。在其中一个方面，可选择性地使光棒阵列进一步包含有多个跳线器，并且使各个跳线器的两端分别连接至各个第二连接端和多个LED光条的多个LED中的一个LED的阴极，从而使作业人员可以根据待测电路板的实际规格与类型来调整所需使用的LED的数量。在另一个方面，光检测电路包含有分压电阻，分压电阻与光敏电阻串联连接，且分压电阻和光敏电阻连接于供电单元与接地端之间，使得各个光检测电路可根据分压电阻与光敏电阻之间的串联连接端的电压值而对应地产生检测信号，并将该检测信号传送至处理单元。附图说明图1是本专利技术的较佳实施例的测试装置的功能框图。图2是本专利技术的较佳实施例的光棒阵列的主功能模块原理的示意图。图3是本专利技术的较佳实施例的光检测电路的等效电路图。图4是本专利技术的较佳实施例的测试装置的测试流程图。(符号说明)1测试装置10光棒阵列12第一连接端14第二连接端16LED光条18连接位置20检测单元21光检测电路211光敏电阻212分压电阻213反相器VCC1电压端U0串联连接端30处理单元40警示单元42蜂鸣器44第一警示LED46第二警示LED50供电单元52电源54第一继电器56第二继电器70待测电路板71脚位80外部设备具体实施方式为了能够更加了解本专利技术的特点所在，本专利技术提供了一个较佳实施例并结合附图说明如下。请首先参考图1，本专利技术的电流信号的测试装置1用于测试待测电路板70的多个脚位71的电流状态。在以下的说明中，以待测电路板70为一台液晶显示器的一个控制板为例，然本专利技术并不以此为限。本专利技术的测试装置1的主要元件包括光棒阵列10、检测单元20以及处理单元30，本专利技术的
技术实现思路
及其特点和功效详述如下。请接着参考图2。光棒阵列10包含八行由多个LED串联形成的LED光条16，第一连接端12与上述LED光条16的第一个LED的阳极连接，八个第二连接端14分别位于上述LED光条16的最后一个LED的阴极，各个第二连接端14可以通过例如扁平电缆而分别一一对应地电性连接至待测电路板70的各个脚位71、本实施例中为脚位2至脚位9，由此检测待测电路板70的各个脚位71的电流输出状态。此外，本实施例的光棒阵列10还可选择性地设有多个跳线器(未图示)，各跳线器的两端分别电性连接于上述各个LED光条16的第二个LED至倒数第二个LED的阴极和第二连接端14上(如图2所示的跳线器的连接位置18)，由此控制和调整光棒阵列10中的各个LED光条16实际使用的LED数量，配合不同待测电路板70的测试需求。请配合参考图1和图3。检测单元20包含有多个光检测电路21，该光检测电路21的数量与LED光条16的数量对应。各个光检测电路21的等效电路图如图3所示，其中，光检测电路21至少包含有一个光敏电阻211，光敏电阻211的设置位置是对应地靠近各个LED光条16的第一个LED，用于根据上述第一个LED的亮灭而对应地生成检测信号。本实施例的各个光检测电路21是通过例如分压电路中的分压值的大小来判断LED被点亮或者呈关闭状态，然本实施例并不以此为限。进一步地说明，本实施例的光检测电路21包含有分压电阻212、光敏电阻211以及反相器213(74LS05集电极开路输出的六反相器)。分压电阻212和光敏电阻211串联连接，分压电阻212的一端连接至电压端VCC1，分压电阻212与光敏电阻211之间具有串联连接端U0，并且，光敏电阻211的另一端连接至接地端。反相器213的输入端连接至串联连接端U0，并且反相器213的输出端连接至后述的处理单元30的微处理器的P3.5端。当上述光敏电阻211所对应的LED呈关闭的状态时，光敏电阻211的电阻值约为2.3M(欧姆)，在LED被点亮的情况下，光敏电阻211的电阻值则减少至约本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电流信号的测试装置，其用于对待测电路板进行测试，所述电流信号的测试装置的特征在于，包括：光棒阵列，其包含有第一连接端和多个与所述待测电路板的多个脚位一一对应的第二连接端，所述第一连接端与各个所述第二连接端之间分别连接有由多个LED串联形成的LED光条；检测单元，其包含有多个光检测电路，各个所述光检测电路分别具有一个光敏电阻，各个所述光敏电阻分别与各个所述LED光条的多个LED中的一个LED一一对应而设置，且各个所述光检测电路能够根据所述光敏电阻所对应的所述LED的亮灭而产生多个检测信号；以及处理单元，其与所述检测单元电性连接以接收所述检测信号，并根据所述检测信号判断所述待测电路板是否通过测试。
【技术特征摘要】
1.一种电流信号的测试装置，其用于对待测电路板进行测试，所述电流信号的测试装
置的特征在于，包括：
光棒阵列，其包含有第一连接端和多个与所述待测电路板的多个脚位一一对应的第二
连接端，所述第一连接端与各个所述第二连接端之间分别连接有由多个LED串联形成的LED
光条；
检测单元，其包含有多个光检测电路，各个所述光检测电路分别具有一个光敏电阻，各
个所述光敏电阻分别与各个所述LED光条的多个LED中的一个LED一一对应而设置，且各个
所述光检测电路能够根据所述光敏电阻所对应的所述LED的亮灭而产生多个检测信号；以
及
处理单元，其与所述检测单元电性连接以接收所述检测信号，并根据所述检测信号判
断所述待测电路板是否通过测试。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，
所述光棒阵列还包含有多个跳线器，各个所述跳线器的两端分别与各个所述第二连接
端和各个所述LED光条的多个LED中的一个LED的阴极连接。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，
各个所述光检测电路分别包含有分压电阻，所述分压电阻与所述光敏电阻串联连接，
所述分压电阻和所述光敏电阻连接于电压端与接地端之间，并且各个所述光检测电路根据
所述分压电阻与所述光敏电阻之间的串联连接端的电压值而产生所述检测信号。
4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，
各个所述光检测电路还包含有反相器，所述反相器的输入端与所述串联连接端连接，
并且输出端与所述处理单元电性连接。
5.如权利要求3或4所述的测试装置，其特征在于，
所述测试装置还包含供电单元，所述供电单元包含有第一继电器，并且，所述分压电阻
和所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：马全江，路晓东，任加华，刘上，赵树磊，钱之政，
申请(专利权)人：环鸿电子昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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