【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试夹具，具体的说是一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，属于集成电路测试分选设备
技术介绍
集成电路测试分选机用于对集成电路进行电性能测试并根据测试结果对集成电路进行分类。测试夹具是测试分选机的一个非常重要的部件。在测试分选机的工作过程中，真空吸笔吸取集成电路移动到测试分选机的测试夹具上方，通过机构控制真空吸笔下压，把吸附在真空吸笔末端的集成电路的海鸥型引脚压在测试夹具的测试簧片上，并一一对应，进行电性能测试。测试时要求集成电路的引脚与测试簧片位置对齐，因而集成电路引脚与测试簧片的接触情况直接影响集成电路的测试结果。以往，由于集成电路体积较大，其引脚间距也较大，测试时对电路引脚与测试簧片接触的位置精度要求不高，一般情况下不带定位功能的测试夹具就能满足测试要求。随着终端消费电子的便携化及节省电力等的要求，超小型封装形式的集成电路数量迅猛增长，目前已经占到了集成电路市场总量的70%以上，其主要特征表现为芯片体积小、引脚多且密集、集成功能强大，因此对测试夹具的要求较高。如果集成电路引脚与测试簧...
【技术保护点】
一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，包括测试底座（1）、测试支座（5）、压块限位块（6）、测试压块（7）、测试绝缘块（8）、压缩弹簧（9）、导向轴（10）和测试簧片（14）；所述测试支座（5）通过三维调整机构连接在测试底座（1）上，压块限位块（6）安装在测试支座（5）的顶部，压块限位块（6）中间开有槽口，所述测试压块（7）置于压块限位块（6）的槽口内并能上下移动，压块限位块（6）限制着测试压块（7）向上移动的行程；在测试支座（5）和压块限位块（6）之间安装有两根竖向的导向轴（10），所述测试压块（7）上设有两个导孔，测试压块（7）通过其上的导孔与所述导向轴（...
【技术特征摘要】
1.一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，包括测试底座（1）、测试支座（5）、压块限位块（6）、测试压块（7）、测试绝缘块（8）、压缩弹簧（9）、导向轴（10）和测试簧片（14）；所述测试支座（5）通过三维调整机构连接在测试底座（1）上，压块限位块（6）安装在测试支座（5）的顶部，压块限位块（6）中间开有槽口，所述测试压块（7）置于压块限位块（6）的槽口内并能上下移动，压块限位块（6）限制着测试压块（7）向上移动的行程；在测试支座（5）和压块限位块（6）之间安装有两根竖向的导向轴（10），所述测试压块（7）上设有两个导孔，测试压块（7）通过其上的导孔与所述导向轴（10）构成滑动导向配合；压缩弹簧（9）设置在测试支座（5）和测试压块（7）之间，压缩弹簧（9）下端连接测试支座（5），压缩弹簧（9）上端连接测试压块（7），测试压块（7）可沿导向轴（10）在压缩弹簧（9）作用下上下往复移动；所述测试压块（7）顶部安装着用于承托集成电路（16）的测试绝缘块（8），所述测试支座（5）前后两侧分别用簧片固定组件夹紧有一个用于与集成电路（16）引脚接触的测试簧片（14），两个测试簧片（14）前后对称。
2.如权利要求1所述的具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，其特征在于：所述三维调整机构包括水平调节块（2）、下竖直调节块（3）和上竖直调节块（4）；所述水平调节块（2）放置在测试底座（1）上并通过横向调整组件和纵向调整组件与之连接；所述横向调整组件安装在测试底座（1）右端，横向调整组件包括横向调节螺栓（17.1）、横向调节垫片（18.1）、横向调节滑块（19.1）和横向定位销（20.1），所述测试底座（1）右端中部设有横向滑槽，所述横向调节滑块（19.1）置于横向滑槽内，所述横向调节垫片（18.1）固定在测试底座（1）右端面上，所述横向螺杆螺纹连接在横向调节垫片（18.1）上，横向调节螺杆内端与横向调节滑块（19.1）螺纹连接，横向调节螺杆旋转时带动横向调节滑块（19.1）在横向滑槽内左右滑动；所述横向定位销（20.1）下端固定在横向滑块上，横向定位销（20.1）上端活动插接在水平调节块（2）上的销孔内；所述横向滑块通过横向定位销（20.1）与水平调节块（2）连接；所述纵向调整组件安装在测试底座（1）侧边，纵向调整组件包括纵向调节螺栓（17.2）、纵向调节垫片（18.2）、纵向调节滑块（19.2）和纵向定位销（20.2），所述测试底座（1）内...
【专利技术属性】
技术研发人员：张佳佳，张亚军，李丹，张海清，
申请(专利权)人：中科芯集成电路股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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