非挥发性存储器及非挥发性存储器的制造方法技术

技术编号:9296666 阅读:84 留言:0更新日期:2013-10-31 00:59
一种非挥发性存储器和非挥发性存储器制造方法。根据一个实施例的非挥发性存储器可包括:深阱(Deep?Well),其配备在基板上;第1阱,其配备在所述深阱区域内;第2阱,其配备在所述深阱区域内与所述第1阱隔离;第1场效应晶体管(MOSFET),其配备在所述第1阱上;第2场效应晶体管,其配备在所述第2阱上。根据一个实施例的非挥发性存储器的制造方法,可将控制MOSFET的阱区域与相邻的存储单元的控制MOSFET的阱区域共享,或是将隧穿MOSFET的阱区域与相邻的存储单元的隧穿MOSFET的阱区域共享,从而可减少存储单元的面积。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种非挥发性存储器,包括:深阱,其配备在基板上;第1阱,其配备在所述深阱区域内;第2阱,其配备在所述深阱区域内与所述第1阱隔离;第1场效应晶体管,其配备在所述第1阱上;和第2场效应晶体管,其配备在所述第2阱上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:朴健植白圭夏
申请(专利权)人:韩国电子通信研究院
类型:发明
国别省市:

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