一种具有结型场板的SOI功率LDMOS器件制造技术

技术编号:9199409 阅读:256 留言:0更新日期:2013-09-26 03:23
一种具有结型场板结构的SOI功率LDMOS器件,属于功率半导体器件技术领域。这种JFP?SOI?LDMOS器件采用PN结作为场板,并利用高K介质作为场板介质。一方面,结型场板的PN结电场调制器件表面电场,改善器件的电场分布,提高器件耐压;另一方面,在反向阻断状态时,结型场板辅助耗尽器件漂移区,使器件漂移区掺杂浓度大幅提高,从而降低导通电阻;高K介质用作场介质层,更有利于导通电阻和静态功耗的降低。与常规金属场板相比,结型场板技术还有效地避免了场板末端存在电场尖峰的缺陷;与多晶电阻场板相比,结型场板PN结势垒的存在能避免大的泄漏电流的产生。此外,本发明专利技术也与SOI?CMOS电路具有很好的兼容性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具有结型场板的SOI功率LDMOS器件,包括纵向自下而上的衬底层(1)、介质埋层(2)和有源层(3);所述有源层(3)为第一导电类型掺杂半导体,其中具有:第一导电类型掺杂半导体的漏区(7c)、第一导电类型掺杂半导体的源区(7b)、第二导电类型掺杂半导体体区(6)、第二导电类型掺杂半导体体接触区(7a);所述第二导电类型掺杂半导体体区(6)位于有源层(3)表面的一侧,所述第一导电类型掺杂半导体的源区(7b)和第二导电类型掺杂半导体体接触区(7a)相邻并位于第二导电类型掺杂半导体体区(6)表面,第一导电类型掺杂半导体的源区(7b)和第二导电类型掺杂半导体体接触区(7a)的共同引出端为源电极(S...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:罗小蓉罗尹春范远航徐青魏杰范叶王骁玮周坤张彦辉尹超张波李肇基
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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